요약 | 본 발명은 X-선 회절분석용 밀폐형 시료지지대에 관한 것이다. 좀 더 구체적으로, 본 발명은 X-선 회절분석용 시료를 대기로부터 밀폐하여 고정밀도로 X-선 회절분석을 수행할 수 있는 X-선 회절분석용 밀폐형 시료지지대에 관한 것이다. 본 발명의 X-선 회절분석용 밀폐형 시료지지대는 일면은 개방되고 타면에는 시료지지부(22)가 형성된 시료창(21)이 상부 중앙에 형성되어 시료를 지지하기 위한 시료지지판(20); 반원통체의 외주면 중앙부에 차단막 지지대(33)의 좌우로 띠 형태의 전면 창(31)이 절개형성되고 전기한 전면창(31)은 차단막(32)으로 차단되며, 전기한 반원통체의 평면 중앙부에는 관통구가(34)가 형성되어 전기한 시료지지판(20)상의 시료를 외부 대기로부터 밀폐하기 위한 시료지지판 덮개(30); 및, 전기한 시료지지판(20)에 덮개(30)를 고정하기 위한 고정수단(40)으로 구성된다. |
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Int. CL | G01N 1/28 (2006.01) |
CPC | G01N 23/2204(2013.01) G01N 23/2204(2013.01) G01N 23/2204(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019950042594 (1995.11.21) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0159199-0000 (1998.08.10) |
공개번호/일자 | 10-1997-0028615 (1997.06.24) 문서열기 |
공고번호/일자 | (19990501) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (1995.11.21) |
심사청구항수 | 4 |