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2-대역 파장 레이저 조사에 의한 국소부의 온도 조절 장치

  • 기술번호 : KST2015098211
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 2-대역 파장 조사에 의한 국소부의 온도 조절 장치에 관한 것으로 특히, 장파장대역 전자기장과 단파장대역 전자기장이 동시에 조사하여, 상기 장파장대역 전자기장은 매체 변조에 필요한 최소 에너지 파워(Emin) 보다 작도록 변조될 부분을 포함하는 매체의 소정 영역에 조사되고, 상기 단파장대역 전자기장은 그 에너지가 매체 변조에 충분한 에너지 파워(Eenough)와 변조에 필요한 최소 에너지 파워(Emin)의 차보다 크도록 상기 장파장대역 전자기장의 에너지가 조사되는 소정 영역의 국소부에만 조사되며, 상기 국소부에 조사되는 장파장대역 전자기장의 에너지와 단파장대역 전자기장의 에너지의 합이 매체 변조에 충분한 에너지 파워(Eenough) 보다 크게 함으로써 매체에 정보를 기록하는 방법과 그에 따른 장치를 제공하면, 종래 하나의 파장만을 이용하는 가열 방법에서 단파장대역 광원의 출력이 낮아 변조가 불가능한 경우와 대비하여, 장파장대역 전자기장 및 단파장대역 전자기장이 합해진 전자기장을 이용하므로 단파장대역 전자기장의 출력이 낮더라도 작은 변조 영역을 얻을 수 있는 효과가 있다.
Int. CL H01S 3/10 (2006.01)
CPC H01S 3/1028(2013.01) H01S 3/1028(2013.01) H01S 3/1028(2013.01)
출원번호/일자 1020000004139 (2000.01.28)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0371141-0000 (2003.01.22)
공개번호/일자 10-2001-0076784 (2001.08.16) 문서열기
공고번호/일자 (20030206) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2000.01.28)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 허진 대한민국 대전광역시유성구
2 백문철 대한민국 대전광역시유성구
3 최성율 대한민국 대전광역시유성구
4 한기평 대한민국 대전광역시중구
5 조경익 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 전영일 대한민국 광주 북구 첨단과기로***번길**, ***호(오룡동)(특허법인세아 (광주분사무소))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2000.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2000-0016258-73
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2001.12.19 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2002.02.08 수리 (Accepted) 9-1-2002-0035441-45
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2002.02.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0045601-26
6 의견서
Written Opinion		 2002.04.09 수리 (Accepted) 1-1-2002-0105758-24
7 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2002.04.09 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2002-0105760-16
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
9 등록결정서
Decision to grant		 2002.10.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0377551-84
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

삭제
2 2

변조될 매체와;

상기 매체 변조에 필요한 최소 에너지(Emin) 보다 작은 에너지의 장파장대역 전자기장을 조사하는 장파장조사장치와;

상기 매체 변조에 충분한 에너지(Eenough)와 상기 최소 에너지(Emin)와의 차보다 크고, 상기 장파장대역 전자기장의 에너지와의 합이 상기 매체 변조에 충분한 에너지(Eenough)보다 큰 에너지의 단파장대역 전자기장을 조사하는 단파장조사장치와;

상기한 장파장조사장치에서 조사한 장파장대역 전자기장은 상기 매체의 정보 기록 부분을 포함하는 소정영역에 조사하고, 상기 단파장조사장치에서 조사한 단파장대역 전자기장은 상기 소정영역의 국소부에 집중 조사하는 광섬유를 이용한 근접광 탐침과;

상기 장파장대역 전자기장과 단파장대역 전자기장의 세기를 시간에 따라 변조할 수 있는 수단들과;

상기 장파장대역 전자기장과 단파장대역 전자기장의 광경로를 일치시켜 상기 집중장치에 제공하는 전자기장 합장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 2-대역 파장 조사에 의한 레이저광 가열 장치

3 3

제 2 항에 있어서, 상기 전자기장 합장치는 단파장대역의 레이저광에 대해서는 반사율이 높고, 장파장 대역에 대해서는 투과율이 높도록 설계된 2색 거울인 것을 특징으로 하는 2-대역 파장 조사에 의한 레이저광 가열 장치

4 4

제 2 항에 있어서, 상기 전자기장 합장치는 단파장대역에서의 굴절율과 장파장대역에서의 굴절율이 다른 물질로 구현된 프리즘인 것을 특징으로 하는 2-대역 파장 조사에 의한 레이저광 가열 장치

5 5

변조될 매체와;

상기 매체 변조에 필요한 최소 에너지(Emin) 보다 작은 에너지의 장파장대역 전자기장을 조사하는 장파장조사장치와;

상기 매체 변조에 충분한 에너지(Eenough)와 상기 최소 에너지(Emin)와의 차보다 크고, 상기 장파장대역 전자기장의 에너지와의 합이 상기 매체 변조에 충분한 에너지(Eenough)보다 큰 에너지의 단파장대역 전자기장을 조사하는 단파장조사장치와;

상기한 장파장조사장치에서 조사한 장파장대역 전자기장은 상기 매체의 정보 기록 부분을 포함하는 소정영역에 조사하고, 상기 단파장조사장치에서 조사한 단파장대역 전자기장은 상기 소정영역의 국소부에 집중 조사하는 집중장치와;

상기 장파장대역 전자기장과 단파장대역 전자기장의 세기를 시간에 따라 변조할 수 있는 수단들과;

상기 단파장대역에 대해서는 반사율이 높고 장파장대역에 대해서는 투과율이 높도록 설계되어 상기 장파장대역 전자기장과 단파장대역 전자기장의 광경로를 일치시켜 상기 집중장치에 제공하는 2색 거울을 포함하는 것을 특징으로 하는 2-대역 파장 조사에 의한 레이저광 가열 장치

6 6

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7 7

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