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집속이온빔시스템의이온광학계

  • 기술번호 : KST2015098712
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 집속된 이온빔을 이용하여 반도체 소자의 제조 공정에 응용하는 접속 이온빔 시스템에서 이온 광학계 및 시스템의 정열 정밀도를 개선하여 집속 이온빔 시스템의 성능을 개선시키는 방법에 관한 것이다.종래의 이온원에서 발생한 이온이 기판에 전달되기까지 거치는 모든 모듈의 정열과 밀접하게 관련되는데 우수한 성능의 정전렌즈를 위해서는 정전렌즈로 입사되는 이온빔의 경로의 차를 최소화하여 구면수차를 줄여야하며 입사되는 이온의 수로 제한하면 이온 전류를 감소되는 문제가 있다.이온 광학계에서 정전렌즈의 타원 수차는 광학계의 정열, 광학계를 구성하는 전극들의 중심을 일치시켜 조립 조차를 최소화하면 감소한다. 이온 빔과 정전렌즈의 정열 오차는 정전렌즈의 조립과 이온 광학계 및 전체 시스템의 조립 과정에서 각각 또는 복합적으로 발생한다. 따라서 접속 이온빔 시스템의 전체적 조립 과정에서 종합적인 정열이 수행되어야 한다. 제4도는 접속 이온빔 시스템의 구성도이다. (101)은 이온원, (102)는 가속기,(103)은 정전렌즈다. 집속 이온빔 시스템의 정열은 이온원,가속기,정전렌즈의 정열과 진공용기와의 조립에서의 정열을 수행하는 것이 좋다. 이온 광학계의 정열은 원칙적으로 이온원 가속기,정전렌즈의 순서로 조립을 하면서 모듈간 정열을 수행한다.
Int. CL H01J 37/10 (2006.01)
CPC H01J 37/12(2013.01) H01J 37/12(2013.01) H01J 37/12(2013.01)
출원번호/일자 1019880017977 (1988.12.30)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0047073-0000 (1991.12.19)
공개번호/일자 10-1990-0010898 (1990.07.11) 문서열기
공고번호/일자 1019910007805 (19911002) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1988.12.30)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장원익 대한민국 대전시유성구
2 이용일 대한민국 충남대전시동구
3 이종현 대한민국 충남대전시서구
4 배남진 대한민국 충남대전시서궁가

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전시유성구
2 한국전기통신공사 대한민국 서울특별시종로구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1988.12.30 수리 (Accepted) 1-1-1988-0104514-36
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1988.12.30 수리 (Accepted) 1-1-1988-0104513-91
3 특허출원서
Patent Application
1988.12.30 수리 (Accepted) 1-1-1988-0104512-45
4 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1990.01.24 수리 (Accepted) 1-1-1988-0104515-82
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1990.02.02 수리 (Accepted) 1-1-1990-9001956-67
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1991.05.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1988-0057923-08
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1991.06.15 수리 (Accepted) 1-1-1988-0104517-73
8 의견서
Written Opinion
1991.06.15 수리 (Accepted) 1-1-1988-0104516-27
9 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1991.08.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1988-0057924-43
10 등록사정서
Decision to grant
1991.12.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1988-0057926-34
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
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집속 이온빔 시스템이 있어서, 이온원 지지대(108)에 이온원(101)을 이온원 고정 원판(109)으로 고정하여 이온 추출 전극(107)에 넣고 정렬하고, 가속기 보호전극(110)에 고정하여 이온원 모듈의 정렬과 조립을 수행한 후 가속기 절연체(113) 내부의 홈에 가속기의 제1전극(111)과 가속기의 제2전극(112)을 조립하면서 여러가지 두께의 삽입한(114)으로 두 전극간 거리가 조절되도록 고정하면서 가속기 모듈을 정열하며, 그 밑에 6개의 배기구멍(115a)이 뚫어져 있는 이온빔 이송관(115)을 조립하고 그 하부 플랜지에 정전렌즈의 제1전극(116)을 고정하여 이온빔 이송관 모듈을 정열한 후 기판(104)이 위치하는 반응용기(106)에 상부절연체(119)가 조립된 위에 지금까지 정열된 이온 광학계를 정열하면서 조립을 수행하고 정전렌즈의 제2전극(117), 하부절연체(120), 정전렌즈의 제3전극(118)를 차례로 고정 부착한 후 진공용기(105)속의 이온원(101) 위치에 레이저 빔을 조사하여 전극 중심이 일치되도록 순차적, 독립적으로 이온 광학계의 조립 및 정열이 가능하도록 구성하여 모듈별 조립시 발생하는 정열오차의 최소화에 의한 정열 정밀도 개선이 가능하도록 함을 특징으로 하는 집속 이온빔 시스템의 이온광학계

2 2

제1항에 있어서, 진공용기(105)와 이온원(101), 가속기(102), 정전렌즈(103)로 구성된 이온 광학계를 분리제작 및 조립하고, 이온 광학계의 모듈간 정열이 가능하도록 하면서, 전체 시스템을 조립 및 정렬할 수 있도록 구성되어 조립시 발생하는 정열 오차의 최소화에 의한 정열 정밀도 개선과 타원수차의 최소화에 의한 이온광학계의 성능을 향상시키도록 함을 특징으로 하는 집속 이온빔 시스템의 이온광학계

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.