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저전압용 이미지 센서 및 그 센싱 방법

  • 기술번호 : KST2015099180
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 일반적인 4-트랜지스터 씨모스 이미지센서에 있어 트랜스퍼 트랜지스터의 구조와 구동방식을 변경하여, 트랜스퍼 트랜지스터의 딥 디플리션 동작과 다중 리셋 방법을 통하여, 이미지 래그(image lag)를 감소시키고 포토다이오드의 웰 캐패시티(well capacity)를 증가시키는 것을 목적으로 한다.본 발명의 이미지 센서는, 수광 소자; 다중 게이트 구조의 트랜스퍼 트랜지스터를 포함하며, 상기 수광소자에서 발생한 광전하를 전압으로 변환하여 출력하는 신호변환부; 및 한 번의 감광 주기 동안, 상기 트랜스퍼 트랜지스터의 게이트에 인가되는 리셋 신호 및/또는 트랜스퍼 신호를 2회 이상 발하는 센싱 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.CMOS, CIS, 이미지 센서, 전송게이트(transfer transistor)
Int. CL H04N 5/3745 (2011.01) H04N 5/357 (2011.01)
CPC H04N 5/3741(2013.01) H04N 5/3741(2013.01)
출원번호/일자 1020070075244 (2007.07.26)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0891123-0000 (2009.03.24)
공개번호/일자 10-2008-0044149 (2008.05.20) 문서열기
공고번호/일자 (20090406) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020060112519   |   2006.11.15
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.07.26)
심사청구항수 27

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김미진 대한민국 대전 서구
2 민봉기 대한민국 대전시
3 송영주 대한민국 대전 유성구
4 박성수 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.07.26 수리 (Accepted) 1-1-2007-0545606-85
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.06.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.07.10 수리 (Accepted) 9-1-2008-0041374-98
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.09.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0492961-27
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.11.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0811990-44
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.11.25 수리 (Accepted) 1-1-2008-0811966-58
7 등록결정서
Decision to grant
2009.03.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0123055-67
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
수광 소자;다수개의 트랜스퍼 게이트를 구비하는 트랜스퍼 트랜지스터를 포함하며, 상기 수광소자에서 발생한 광전하를 전압으로 변환하여 출력하는 신호변환부; 및한 번의 감광 주기 동안, 상기 트랜스퍼 트랜지스터의 다수개의 트랜스퍼 게이트에 리셋 및/또는 트랜스퍼 신호를 2회 이상 인가하여 상기 트랜스퍼 트랜지스터의 채널의 딥디플리션 상태에서 상기 수광소자의 광전하를 이동시키는 센싱제어부를 포함하는 이미지 센서
2 2
제1항에 있어서, 상기 센싱 제어부는,하나의 리셋 구간 동안 상기 트랜스퍼 트랜지스터에 대한 리셋 신호를 2회 이상 발하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
3 3
제2항에 있어서, 상기 리셋 신호들 중 마지막 리셋 신호의 활성화 시간이 가장 긴 것을 특징으로 하는 이미지 센서
4 4
제2항에 있어서,상기 리셋 신호들 중 적어도 하나 이상의 신호는, 그 턴오프 전압이 접지 전압보다 낮은 레벨을 가지는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
5 5
제2항에 있어서, 상기 트랜스퍼 신호들 중 적어도 하나 이상의 신호에서는, 상기 수광 소자와 가장 인접한 트랜스퍼 게이트에 인가하는 턴온 전압의 레벨이 가장 높은 것을 특징으로 하는 이미지 센서
6 6
제1항에 있어서, 상기 센싱 제어부는,하나의 트랜스퍼 구간 동안 상기 트랜스퍼 트랜지스터에 대한 트랜스퍼 신호를 2회 이상 발하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
7 7
제6항에 있어서, 상기 트랜스퍼 신호들 중 마지막 트랜스퍼 신호의 활성화 시간이 가장 긴 것을 특징으로 하는 이미지 센서
8 8
제6항에 있어서,상기 트랜스퍼 신호들 중 적어도 하나 이상의 신호는, 그 턴오프 전압이 접지 전압보다 낮은 레벨을 가지는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
9 9
제6항에 있어서, 상기 트랜스퍼 신호들 중 적어도 하나 이상의 신호에서는, 상기 수광 소자와 가장 인접한 트랜스퍼 게이트에 인가하는 턴온 전압의 레벨이 가장 높은 것을 특징으로 하는 이미지 센서
10 10
제1항에 있어서, 상기 수광소자는,포토다이오드, 핀드 포토다이오드, 포토트랜지스터 또는 포토게이트인 것을 특징으로 하는 이미지 센서
11 11
제1항에 있어서, 상기 신호 변환부는,상기 트랜스퍼 트랜지스터에 의해 상기 수광소자의 전하가 옮겨지는 확산 노드; 및상기 확산 노드를 리셋시키기 위한 리셋 트랜지스터를 더 포함하고,상기 센싱 제어부는, 상기 리셋 트랜지스터의 게이트에 인가되는 턴온/턴오프 신호를 발하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
12 12
제10항에 있어서, 상기 신호 변환부는,상기 확산 노드에 실린 감광 신호를 증폭하기 위한 드라이빙 트랜지스터; 및상기 신호 변환부와 수광 소자로 이루어지는 각 픽셀을 선택하기 위한 셀렉트 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
13 13
제1항에 있어서,상기 각 게이트에 인가되는 리셋 신호는,이웃한 트랜스퍼 트랜지스터의 리셋 신호와 일부 시간 영역이 중첩되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
14 14
제1항에 있어서,상기 각 게이트에 인가되는 트랜스퍼 신호는,이웃한 트랜스퍼 트랜지스터의 트랜스퍼 신호와 일부 시간 영역이 중첩되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
15 15
수광 소자, 트랜스퍼 트랜지스터 및 확산 노드를 포함하는 CMOS 이미지 센서의 1회 센싱 주기에 수행되는 센싱 방법에 있어서,(a) 상기 트랜스퍼 트랜지스터를 턴온하여 상기 CMOS 이미지 센서의 수광 소자를 리셋시키는 단계;(b) 상기 수광 소자로 집광하는 단계; 및(c) 상기 트랜스퍼 트랜지스터를 턴온하여 상기 수광 소자에 생성된 광전하를 상기 확산 노드로 트랜스퍼하는 단계를 포함하는데,상기 (a) 단계에서 및/또는 상기 (c) 단계에서 상기 트랜스퍼 트랜지스터를 2회 이상 턴온하여 상기 트랜스퍼 트랜지스터의 채널이 딥디플리션 상태에서 상기 수광소자의 광전하를 이동시키는 센싱 방법
16 16
제15항에 있어서,상기 (c) 단계 이후,상기 확산 노드를 독출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 센싱 방법
17 17
제15항에 있어서, 상기 센싱 방법은, 다중 게이트 구조의 상기 트랜스퍼 트랜지스터를 포함하는 CMOS 이미지 센서에 대하여 수행되는 것을 특징으로 하는 센싱 방법
18 18
제17항에 있어서, 상기 (a) 단계에서는,상기 트랜스퍼 트랜지스터의 다중 게이트 중 상기 수광 소자와 가까운 것부터 순차적으로 턴온시키는 것을 특징으로 하는 센싱 방법
19 19
제18항에 있어서, 상기 트랜스퍼 트랜지스터의 다중 게이트 각각에 대하여 턴온시키는 리셋 신호를 인가하는데, 상기 각 리셋 신호 중 마지막 리셋 신호의 턴온시간이 가장 긴 것을 특징으로 하는 센싱 방법
20 20
제17항에 있어서,상기 리셋 신호 중 적어도 하나 이상의 신호는, 그 턴오프 전압이 접지 전압보다 낮은 레벨을 가지는 것을 특징으로 하는 센싱 방법
21 21
제17항에 있어서, 상기 2개 이상의 리셋 신호들 중, 상기 수광 소자와 가장 인접한 트랜스퍼 게이트에 인가하는 턴온 전압의 레벨이 가장 높은 것을 특징으로 하는 이미지 센서
22 22
제17항에 있어서, 상기 (c) 단계는,상기 트랜스퍼 트랜지스터의 다중 게이트 중 상기 수광 소자와 가까운 것부터 순차적으로 턴온 제어 신호를 인가하는 것을 특징으로 하는 센싱 방법
23 23
제22항에 있어서, 상기 트랜스퍼 트랜지스터의 다중 게이트 각각에 대하여 턴온시키는 트랜스퍼 신호를 인가하는데, 상기 각 트랜스퍼 신호 중 마지막 트랜스퍼 신호의 턴온시간이 가장 긴 것을 특징으로 하는 센싱 방법
24 24
제17항에 있어서,상기 트랜스퍼 신호 중 적어도 하나 이상의 신호는, 그 턴오프 전압이 접지 전압보다 낮은 레벨을 가지는 것을 특징으로 하는 센싱 방법
25 25
제17항에 있어서, 상기 2개 이상의 트랜스퍼 신호들 중, 상기 수광 소자와 가장 인접한 트랜스퍼 게이트에 인가하는 턴온 전압의 레벨이 가장 높은 것을 특징으로 하는 센싱 방법
26 26
제15항에 있어서,상기 (a) 단계에서는,이웃한 게이트에 대한 리셋 신호의 턴온시간은 일부 중첩되는 것을 특징으로 하는 센싱 방법
27 27
제15항에 있어서,상기 (c) 단계에서는,이웃한 게이트에 대한 트랜스퍼 신호의 턴온시간은 일부 중첩되는 것을 특징으로 하는 센싱 방법
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1 정보통신부 한국전자통신연구원 IT신성장동력핵심기술개발사업 초저전력 RF/HW/SW 통합 SoC