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정전용량변화검출회로

  • 기술번호 : KST2015099482
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 각속도 검출용 마이크로 자이로 센서의 미소 정전용량 변화를 검출함에 있어서 CMOS 공정으로 IC화가 가능한 전자회로의 구조에 관한 것이다.종래의 마이크로 자이로(gyro)에서 정전용량의 미소변화를 검출하는 기존방식은 적분기의 동작점을 잡아 주면서 교류신호 이득을 보장하기 위해 큰 저항으로 부궤환을 하였을 때 발생되는 기생 정전용량(parasitic capacitor)로 인해 검출 감도가 저하되고 또한 CMOS 공정에서 큰 저항을 만들기가 용이하지 않다는 문제점이 있다. 본 발명에서는 약반전(weak inversion) CMOS를 이용한 트랜스컨덕터 증폭기로 적분기를 부궤환하여 동작점을 잡아 준다. 약반전의 CMOS는 동작전류가 아주 작으므로 트랜스컨덕터 증폭기의 대역주파수(fH)를 충분히 낮게 설정할 수 있다. 따라서, 마이크로 자이로의 검출 교류신호대역에서 적분기의 이득에 영향을 주지 않고 동작점을 잡을 수 있다는 장점이 있다. 또한, 적분기 구조에서는 트랜스컨덕터 증폭기의 통과대역 주파수를 검출신호에 영향을 미치지 않는 범위 내에서 최대한 높이고 적분기의 대역주파수를 낮춤으로써 기존 방식의 대역통과 필터의 기능을 함께 수행할 수 있으므로 검출회로가 보다 간단해진다.
Int. CL G01R 31/00 (2006.01)
CPC G01R 27/2605(2013.01) G01R 27/2605(2013.01) G01R 27/2605(2013.01) G01R 27/2605(2013.01)
출원번호/일자 1019970070319 (1997.12.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0269252-0000 (2000.07.20)
공개번호/일자 10-1999-0051080 (1999.07.05) 문서열기
공고번호/일자 (20001016) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1997.12.19)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조규형 대한민국 대전광역시 유성구
2 이광 대한민국 대전광역시 유성구
3 이종현 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1997.12.19 수리 (Accepted) 1-1-1997-0219965-88
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.12.19 수리 (Accepted) 1-1-1997-0219964-32
3 특허출원서
Patent Application
1997.12.19 수리 (Accepted) 1-1-1997-0219963-97
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1999.12.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0381108-14
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2000.02.09 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2000-5041412-23
6 의견서
Written Opinion
2000.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2000-5041410-32
7 등록사정서
Decision to grant
2000.05.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0106188-55
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

미세 정전용량 변화량을 적분기 형태의 초단 증폭기를 통해서 검출하는 회로에 있어서,

상기 적분기 형태의 초단 증폭기의 동작점을 잡아두기 위하여, 바이어스 전류가 작은 약 반전(weak inversion) CMOS 트랜스 컨덕터 보조 증폭기를 상기 초단 증폭기의 출력신호를 부궤환시키는 수단으로 사용하는 것을 특징으로 하는 정전용량 검출 회로

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 초단 증폭기와 상기 보조증폭기는,

상기 보조 증폭기의 통과대역 주파수(f1)를 최대한 높이고, 상기 초단 증폭기의 대역 주파수 (f2)를 낮추어 초단 증폭기가 f1 - f2 대역의 신호를 통과시키는 대역통과 필터의 기능을 포함하는 것을 특징으로 하는 정전용량 검출회로

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.