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임시에미터전극과폴리이미드측벽막을이용한자기정렬형이종접합바이폴라트랜지스터의제작방법

  • 기술번호 : KST2015099569
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 3-5족 화합물 반도체를 이용하는 이종접합 바이폴라 트렌지스터(Heterojunction Bipolar Transistor : HBT)를 제작함에 있어서, HBT 소자 고유의 고속특성을 극대화하기 위하여 임시 에미터 전극과 폴리이미드 측벽을 이용한 에미터-베이스 간의 자기정렬 제작방법을 고안함으로써, 기존의 HBT 소자 제작공정을 개선하였다.
Int. CL H01L 29/06 (2006.01)
CPC H01L 29/66318(2013.01) H01L 29/66318(2013.01) H01L 29/66318(2013.01)
출원번호/일자 1019940036373 (1994.12.23)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0146652-0000 (1998.05.12)
공개번호/일자 10-1996-0026917 (1996.07.22) 문서열기
공고번호/일자 (19980801) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.12.23)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박성호 대한민국 대전직할시유성구
2 최성우 대한민국 대전직할시중구
3 박문평 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1994.12.23 수리 (Accepted) 1-1-1994-0164071-04
2 출원심사청구서
Request for Examination
1994.12.23 수리 (Accepted) 1-1-1994-0164073-95
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.12.23 수리 (Accepted) 1-1-1994-0164072-49
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0164074-30
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0164075-86
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1998.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0091135-20
7 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1998.04.02 수리 (Accepted) 1-1-1994-0164076-21
8 의견서
Written Opinion
1998.04.02 수리 (Accepted) 1-1-1994-0164078-12
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1998.04.02 수리 (Accepted) 1-1-1994-0164077-77
10 등록사정서
Decision to grant
1998.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0091136-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

반절연성 화합물 반도체 기판 위에 완충층(1), 부컬렉터층(2), 컬렉터층(3), 베이스층(4), 에미터층(5) 및 에미터 캡층(6)을 순차로 성장시킨 웨이퍼 위에 이종접합 구조의 바이폴라 트랜지스터(HBT)를 제작하는 방법에 있어서, 상기 웨이퍼 전면에 임시 에미터로 활용하기 위한 실리콘 질화막(7)을 증착한 후 그 실리콘 질화막(7)을 건식식각 방법에 의해 수직한 형상을 갖도록 식각하여 임시 에미터 전극(8)을 형성하는 제1공정과; 노출된 상기 에미터 캡층(6) 및 상기 에미터층(5) 일부를 식각하는 제2공정과; 상기 식각이 끝난 전면에 폴리이미드를 도포하고 그 폴리이미드를 산소 플라즈마를 이용한 반응성 이온 식각방법에 의해 방향성 식각을 하여 상기 식각되어 남은 에미터층(5) 및 임시 에미터 전극(8)의 측면에 폴리이미드 측벽막(10)을 형성하고, 잔류 에미터층(5)을 제거하여 베이스 표면을 노출시키는 제3공정과, 상기 임시 에미터 전극(8)을 식각해서 선택적으로 제거하고 에미터 전극(11)과 베이스 전극(12)을 동시에 증착하여서 폴리이미드 측벽막에 의한 단차를 이용하여 베이스 전극의 에미터에 대한 자기정렬이 가능하도록 하는 제4공정과; 및 에미터, 베이스 및 컬렉터 전극과 소자분리 메사의 형성이 완료된 후 상기 형성된 폴리이미드 측벽막(10)을 선택적으로 폴리이미드 제거제를 사용하여 제거하여서, 이후의 패드 전극형성시 금속배선의 단락이 생기지 않도록 하는 제5공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제작방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.