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기판;상기 기판상의 소정 부분에 형성되는 능동 도파로; 상기 능동 도파로 일측에 능동 도파로와 맞닿도록 형성되는 수동 도파로; 및상기 능동 도파로 및 수동 도파로 상부에 형성되는 클래드층을 포함하며,상기 수동 도파로는,상기 기판 상부에 형성되는 제 1 SCH(separated confinement heterostructure)층,상기 제 1 SCH층 상부에 형성되며 상기 제 1 SCH층과 다른 조성을 갖는 코어층; 및상기 코어층 상부에 형성되는 제 2 SCH층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
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제 1 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 SCH층은 상기 코어층에 비하여 상대적으로 큰 밴드갭을 가지면서, 상대적으로 낮은 굴절율을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
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제 1 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 SCH층 및 상기 코어층은 InGaAsP 물질로 형성되되, 그 조성비가 서로 상이한 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
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제 1 항에 있어서, 상기 능동 도파로는, 상기 기판상에 형성되는 제 1 SCH층; 상기 제 1 SCH층 상부에 형성되는 광활성층; 및 상기 광활성층 상부에 형성되는 제 2 SCH층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
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제 1 항에 있어서, 상기 클래드층은, 상기 능동 도파로 상부에 형성되는 제 1 클래드층과, 상기 수동 도파로 상부에 형성되는 제 2 클래드층과, 상기 제 1 및 제 2 클래드층 상부에 형성되는 제 3 클래드층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저
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기판상에 능동 도파로용 제 1 SCH층, 광활성층, 제 2 SCH층 및 제 1 클래드층을 순차적으로 적층하는 단계; 상기 제 1 클래드층, 제 2 SCH층, 광활성층, 제 1 SCH층 및 InP 기판의 일부를 식각하여, 수동 도파로 영역을 한정하는 단계; 상기 기판의 수동 도파로 영역 상에 수동 도파로용 제 1 SCH층, 코어층, 제 2 SCH층 및 제 2 클래드층을 형성하는 단계; 및 상기 제 1 및 제 2 클래드층 상부에 제 3 클래드층을 형성하는 단계를 포함하며, 상기 수동 도파로용 제 1 및 제 2 SCH층은 상기 코어층에 비하여 상대적으로 높은 밴드갭을 가지면서 낮은 굴절율을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자의 제조방법
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제 6 항에 있어서, 상기 제 1 클래드층, 제 2 SCH층, 광활성층, 제 1 SCH층 및 InP 기판의 일부를 식각하여, 수동 도파로 영역을 한정하는 단계는,상기 제 1 클래드층 상부에 수동 도파로 영역이 노출되도록 절연 마스크막을 형성하는 단계; 및상기 절연 마스크를 마스크로 이용하여 상기 제 1 클래드층, 제 2 SCH층, 광활성층, 제 1 SCH층 및 InP 기판의 일부를 식각하는 단계를 포함하며,상기 절연 마스크는 상기 제 2 클래드층을 형성하는 단계와, 상기 제 3 클래드층을 형성하는 단계 사이에 제거되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자의 제조방법
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제 6 항에 있어서, 상기 제 1 클래드층, 제 2 SCH층, 광활성층, 제 1 SCH층 및 InP 기판의 일부를 식각하여, 수동 도파로 영역을 한정하는 단계는,상기 제 1 클래드층 상부에 수동 도파로 영역이 노출되도록 절연 마스크막을 형성하는 단계; 및상기 절연 마스크를 마스크로 이용하여 상기 제 1 클래드층, 제 2 SCH층, 광활성층, 제 1 SCH층 및 InP 기판의 일부를 식각하는 단계를 포함하며,상기 절연 마스크는 상기 제 2 클래드층을 형성하는 단계와, 상기 제 3 클래드층을 형성하는 단계 사이에 제거되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자의 제조방법
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