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부채널 분석을 위한 데이터 정렬 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015100127
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 종래의 파형 데이터 정렬 기법은, 파형의 길이가 길어질 뿐만 아니라, 임계치가 커질수록 윈도우의 상관값 계산과 이 계산의 반복횟수(임계치로 지정된 수)만큼 정렬 시간이 지연된다는 문제가 있다. 이에 본 발명의 실시예에서는, 파형 데이터를 정렬함에 있어 기설정된 압축률로 단계별 압축 파형 데이터를 생성함으로써, 파형 데이터의 정렬 시간을 줄일 수 있는 부채널 분석을 위한 데이터 정렬 기술을 제안하고자 한다. 구체적으로, 본 발명의 실시예에 따른 부채널 분석을 위한 데이터 정렬 기술은, 수집된 파형 데이터에 대한 파형 정렬 변수를 설정하는 제1 과정과, 설정되는 상기 파형 정렬 변수에 따라 제1 설정 압축률로 단계별 압축 파형 데이터를 생성하는 제2 과정과, 상기 단계별 압축 파형 데이터를 정렬하는 제3 과정을 포함하되, 상기 수집된 파형 데이터의 압축률이 제2 설정 압축률이 될 때까지 상기 제1 과정 내지 제3 과정을 반복 수행할 수 있다.
Int. CL H04L 9/00 (2006.01)
CPC H04L 9/003(2013.01)
출원번호/일자 1020110134162 (2011.12.14)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-1367174-0000 (2014.02.19)
공개번호/일자 10-2013-0067359 (2013.06.24) 문서열기
공고번호/일자 (20140227) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.05.10)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김주한 대한민국 대전광역시 유성구
2 최두호 대한민국 충청남도 천안시 동남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 제일특허법인(유) 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.12.14 수리 (Accepted) 1-1-2011-0991780-22
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.05.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0415774-73
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2013.05.10 수리 (Accepted) 1-1-2013-0415823-12
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.01.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.02.11 수리 (Accepted) 9-1-2014-0008911-95
6 등록결정서
Decision to grant
2014.02.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0110437-63
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
외부로부터 입력되는 파형 데이터를 수집하는 파형 데이터 수집부와,상기 파형 데이터를 통해 수집되는 파형 데이터를 가공하는 파형 데이터 가공부와,상기 파형 데이터 가공부에서 가공된 파형 데이터를 전달받아 전체 파형에 대한 부채널 분석 결과를 생성하는 분석부와,상기 파형 데이터 수집부에 의해 수집된 파형 데이터의 정렬을 위한 파형 정렬 변수를 설정하는 파형 데이터 정렬부를 포함하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 파형 데이터 가공부는,상기 파형 데이터 정렬부로부터 제공되는 파형 정렬 결과에 따라 각 파형 데이터의 정렬 결과를 비교하고, 비교된 파형 데이터 부분 중 표준오차 범위를 벗어나는 부분의 부분정렬을 실시하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 파형 데이터 정렬부는,상기 설정된 파형 정렬 변수에 따라 기 설정된 압축률로 단계별 압축 파형 데이터를 생성하고, 생성되는 상기 압축 파형 데이터를 단계별로 정렬하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 파형 데이터는, 보안 전자장비로부터 누수되는 누수정보를 수집하기 위한 파형 데이터인 것을 특징으로 하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치
5 5
제 4 항에 있어서,상기 누수정보는, 상기 보안 전자장비의 소모전력 또는 전자기파 정보 중 적어도 하나를 포함하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 파형 정렬 변수는, 상기 파형 데이터의 비교 구간을 나타내는 윈도우 크기, 또는 상기 파형 데이터의 비교 구간의 최대 이동 정도를 나타내는 임계치, 또는 상기 파형 데이터의 압축 정도를 결정하는 압축률 중 적어도 하나를 포함하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치
7 7
수집된 파형 데이터에 대한 파형 정렬 변수를 설정하는 제1 과정과,설정되는 상기 파형 정렬 변수에 따라 제1 설정 압축률로 단계별 압축 파형 데이터를 생성하는 제2 과정과,상기 단계별 압축 파형 데이터를 정렬하는 제3 과정을 포함하되,상기 수집된 파형 데이터의 압축률이 제2 설정 압축률이 될 때까지 상기 제1 과정 내지 제3 과정을 반복 수행하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치의 데이터 정렬 방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 파형 데이터는, 보안 전자장비로부터 누수되는 누수정보를 수집하기 위한 파형 데이터인 것을 특징으로 하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치의 데이터 정렬 방법
9 9
제 8 항에 있어서,상기 누수정보는, 상기 보안 전자장비의 소모전력 또는 전자기파 정보 중 적어도 하나를 포함하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치의 데이터 정렬 방법
10 10
제 7 항에 있어서,상기 파형 정렬 변수는, 상기 파형 데이터의 비교 구간을 나타내는 윈도우 크기, 또는 상기 파형 데이터의 비교 구간의 최대 이동 정도를 나타내는 임계치, 또는 상기 파형 데이터의 압축 정도를 결정하는 압축률 중 적어도 하나를 포함하는부채널 분석을 위한 데이터 정렬 장치의 데이터 정렬 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 방송통신위원회 한국전자통신연구원 방송통신기술개발사업 부채널 공격 방지 원천 기술 및 안전성 검증 기술개발