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선택적결정성장법을이용한쌍극자트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015100399
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 선택적결정성장법을 이용한 쌍극자트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로서, 종래기술에 있어 전류이득이 감소하고 얇은 베이스층을 형성하기가 어려운 문제점을 해결하기 위하여 본 발명에서는 소자격리가 완료된 웨이퍼의 전면에 베이스 박막(6), 에미터 박막(7)을 도포하고, 소정부분에 완충용절연막(8) 및 산화방지용절연막(9)을 형성하고(b), 상기 에미터 박막(7)의 측면에 측면절연막(10)을 형성하고, 상기 베이스박막(6)위에 베이스 전극용 박막(11)을 형성한 위에 감광막(12)을 제거한 후, 선택적으로 산화막(15,16)을 형성하며(e), 상기 완충용절연막(8) 및 산화방지용절연막(9)을 선택적으로 제거한 후 에미터접점을 형성하여 금속박막(20)을 형성하는(f)공정들을 제공함으로써 다양하게 베이스 박막와 에미터박막을 형성할 수 있고, 마스크 수를 줄일 수 있어 공정이 용이하고 상기 측면절연막(10)에 의해 에미터와 베이스간격이 결정되므로 정확하게 조절할 수 있다.
Int. CL H01L 21/331 (2006.01) H01L 29/73 (2006.01)
CPC H01L 29/66272(2013.01) H01L 29/66272(2013.01) H01L 29/66272(2013.01) H01L 29/66272(2013.01) H01L 29/66272(2013.01) H01L 29/66272(2013.01) H01L 29/66272(2013.01) H01L 29/66272(2013.01)
출원번호/일자 1019930028269 (1993.12.17)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0117348-0000 (1997.07.01)
공개번호/일자 10-1995-0021230 (1995.07.26) 문서열기
공고번호/일자 1019970004430 (19970327) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1993.12.17)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한태현 대한민국 대전직할시유성구
2 염병렬 대한민국 대전직할시유성구
3 이수민 대한민국 대전직할시유성구
4 조덕호 대한민국 대전직할시유성구
5 이성현 대한민국 대전직할시유성구
6 권오준 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1993.12.17 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142152-54
2 특허출원서
Patent Application
1993.12.17 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142150-63
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1993.12.17 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142151-19
4 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1994.02.22 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142153-00
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1994.10.12 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142154-45
6 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1997.02.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0067079-18
7 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.03.07 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142155-91
8 등록사정서
Decision to grant
1997.06.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0067080-65
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

규소기판 위에 고농도로 불순물이 첨가된 SUB-콜렉터(1)를 형성하고, 그 위에 콜렉터 박막(2)을 형성한 다음, 소자격리를 위해 트렌치를 형성한 후, 측면절연막 및 다결정 규소박막(3)을 채운 후, 소정의 방법으로 상기 다결정 규소박막(3)을 제거하고, 소자격리를 하기위해 열산화에 의해 산화막(4)을 형성한 다음, 상기 콜렉터부분(5)에 열처리를 하는 고정(a)과, 상기 웨이퍼전면에 베이스박막(6)과 에미터박막(7)을 형성하고, 그 위에 완충용 절연막(8)과 산화방지용 절연막(9)을 순차로 형성하고, 그 위에 감광막을 마스크로 베이스박막(6)이 남도록 상기 절연막들(8,9), 상기 에미터박막(7)을 차례로 식각한 후, 상기 감광막을 제거하는 공정(b)과, 상기 에미터박막(7)의 양측면에 원하는 두께의 측면절연막(10)을 형성한 후, 상기 노출된 베이스박막(6) 위에 선택적으로 베이스 전극용 박막(11)을 상기 측면절연막(10) 이하가 되도록 형성하고, 이 위에 베이스전극을 정의하기 위하여 감광막(12)을 형성하는 공정(c)과, 상기 감광막(12)을 마스크층으로 하여 베이스전극이 형성되는 부분의 박막(13)과 베이스박막(14)을 제외한 부분을 제거하는 공정(d)과, 상기 감광막(12)을 제거한 후 상기 산화방지용 절연막(9)을 마스크로 하여 상기 베이스 전극용 박막(13)을 선택적인 산화에 의해서 산화막(15,16)을 형성하고, 에미터와 베이스 접합을 하기 위해 열처리에 의해서 에미터박막(7)과 베이스전극용 박막(17)으로부터 불순물을 확산시켜 에미터-베이스 접합(19)과 비활성 베이스영역(18)을 형성하는 공정(e)과, 에미터접점을 형성하기 위해서 자기정렬법에 의해 상기 산화방지용 절연막(9)을 선택적으로 제거 및 상기 완충용 절연막(8)을 제거한 다음, 상기 베이스박막(17)과 콜렉터부분(21)에 금속박막(20)을 형성하는 공정(f)을 포함하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 베이스박막(6)은 규소박막, 규소 저매늄박막, 규소/규소 저매늄박막, 규소/규소 저매늄/규소박막 등으로 형성하는 것을 특징으로 하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 베이스 전극용 박막(11)은 규소박막, 규소 저매늄박막 등으로 형성하는 것을 특징으로 하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

4 4

제3항에 있어서, 상기 베이스 전극용 박막(11)은 이온주입공정, 인 사이추(in-situ)방법에 있어서 불순물을 첨가하는 것을 특징으로 하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

5 5

제1항에 있어서, 상기 에미터 박막(11)은 단결정 규소박막 또는 다결정 규소박막으로 형성하는 것을 특징으로 하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

6 6

제5항에 있어서, 상기 에미터박막(7)에 이온주입공정, 인 사이추(in-situ) 방법에 의해서 불순물을 첨가하는 것을 특징으로 하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

7 7

제1항에 있어서, 상기 측면절연막(10)은 산화막, 산화막/질화막, BSG 박막 등으로 형성하는 것을 특징으로 하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

8 8

제1항에 있어서, 상기 에미터박막(7) 위의 상기 절연막들(8,9)은 산화막/질화막, 질화막 등으로 형성하는 것을 특징으로 하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

9 9

제1항에 있어서, 상기 에미터박막(7) 위의 상기 절연막들(8,9)은 금속박막(20)을 금속실리사이드로 형성하는 것을 특징으로 하는 선택적 결정성장법을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.