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인듐의확산을이용한쌍극자트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015100400
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 인듐을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로서 종래에 전류이득과 고주파 특성이 열악한 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명에서는 에피웨이피 상부에 에미터(5)메사, 상대적으로 얇은 베이스(4)메사를 형성하여(A,B), 그 위에 절연막(7)을 형성하고(C), 접촉금속인 에미터전극(8)과 컬렉터전극(9)을 형성하며(D), 인듐(10)과 확산장벽금속(11)을 차례로 증착시키고 열처리를 하여 상기 얇은 베이스(4)에 고농도의 외부 베이스 접합영역(12)을 형성하는(E) 공정들을 제공함으로써 원하는 트랜지스터의 성능을 얻을 수 있고, 트랜지스터의 에미터와 베이스 두께에 따라 인듐두께와 열처리 온도를 최적화할 수 있어 외부 베이스저항을 최소화시킬 수 있다.
Int. CL H01L 21/331 (2006.01)
CPC H01L 21/2252(2013.01) H01L 21/2252(2013.01) H01L 21/2252(2013.01)
출원번호/일자 1019930028270 (1993.12.17)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0117347-0000 (1997.07.01)
공개번호/일자 10-1995-0021231 (1995.07.26) 문서열기
공고번호/일자 1019970004431 (19970327) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1993.12.17)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성현 대한민국 대전직할시유성구
2 조덕호 대한민국 대전직할시유성구
3 한태현 대한민국 대전직할시유성구
4 이수민 대한민국 대전직할시유성구
5 염병렬 대한민국 대전직할시유성구
6 권오준 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1993.12.17 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142157-82
2 출원심사청구서
Request for Examination
1993.12.17 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142158-27
3 특허출원서
Patent Application
1993.12.17 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142156-36
4 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1994.02.22 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142159-73
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1994.10.12 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142160-19
6 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1997.02.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0067082-56
7 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.03.07 수리 (Accepted) 1-1-1993-0142161-65
8 등록사정서
Decision to grant
1997.06.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0067083-02
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

기판(1)위에 소정의 에피증착기계로 컬렉터접합층(2)을 형성하고, 그 위에 컬렉터(3)를 형성한 위에 상대적으로 얇은 베이스(4)를 형성하고, 에미터(5), 에미터 캡(6)을 각각 차례로 형성하여 웨이퍼 표면을 형성하는 공정(A)과, 상기 에미터 캡(6), 에미터(5), 매몰된 베이스(4), 컬렉터(3), 컬렉터접합층(2)을 각각 식각함으로써 에미터 메사, 베이스 메사를 각각 형성하는 공정(B)과, 상기 (B)공정위에 트랜지스터의 표면을 보호하기 위한 절연막(7)을 증착시키고, 상기 에미터 캡(5) 상부와 상기 컬렉터접합층(2) 상부에 접촉개구면을 형성하기 위하여 식각하는 공정(C)과, 상기 접촉개구면을 형성하기위해 식각된 부분에 각각 에미터 전극(8)과 컬렉터전극(9)을 증착하고 열처리하여 저항성접촉을 시키는 공정(D)과, 상기 베이스(4)의 접촉개구면을 식각한 후, 저항성접촉 금속인 인듐(10)과 내화금속인 확산장벽금속(11)을 차례로 증착시키고, 상대적으로 낮은 온도로 열처리하여 상기 인듐(10)을 확산시켜 상기 매몰된 베이스(4)에 전극을 형성할 수 있는 고농도의 외부 베이스접합영역(12)을 형성하는 공정(E)을 포함하는 인듐을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 인듐(20)은 전자빔 증착법, 스파터링 증착법, 전기도금 증착법 등으로 증착시키는 것을 특징으로 하는 인듐을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

3 3

제2항에 있어서, 상기 인듐(10) 대신에 인듐을 포함하는 다층구조의 금속박막을 사용하는 것을 특징으로 하는 인듐을 이용한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 확산장벽금속(11)은 전자빔 증착법, 스파터링 증착법, 전기도금 증착법 등으로 증착시키는 것을 특징으로 하는 인듐을 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.