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반도체소자의소신호등가회로저항추출방법

  • 기술번호 : KST2015100485
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체소자의 특성을 측정하기 위한 저항의 모델변수를 추출하는, 즉 쌍극자 접합 트랜지스터의 소신호 등가회로 모델의 저항, 즉 임피이던스를 추출하는 방법에 관한 것으로서, 측정장비에 의해 측정된 측정데이타에서 s-변수데이타를 산출하는 단계와, 상기 s-변수를 임피이던스데이타인 z-변수데이타로 변환하는 단계와, 상기 z-변수데이타를 이용하여 저항값과 캐패시턴스값을 산출하는 단계와, 상기 저항값과 캐패시턴스를 이용하여 임피이던스를 산출하는 단계와, 상기 저항값과 캐패시턴스값 및 임피시던스값을 비교하여 상기 트랜지스터의 베이스저항을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 21/66 (2006.01)
CPC G01R 27/02(2013.01) G01R 27/02(2013.01) G01R 27/02(2013.01)
출원번호/일자 1019930029995 (1993.12.27)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자
공개번호/일자 10-1995-0021314 (1995.07.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1993.12.27)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이홍수 대한민국 대전직할시유성구
2 이성현 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
3 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1993.12.27 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149964-18
2 특허출원서
Patent Application
1993.12.27 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149962-27
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1993.12.27 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149963-73
4 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1994.02.23 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149965-64
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1994.10.12 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149966-10
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1997.03.19 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149967-55
7 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.21 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149968-01
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1997.05.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0072036-84
9 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1997.07.26 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149969-46
10 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.07.29 수리 (Accepted) 1-1-1993-0149970-93
11 거절사정서
Decision to Refuse a Patent
1997.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0072038-75
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
25 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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TECAP*소프트웨어를 수행하는 측정장비를 이용하여 바이폴라 트랜지스터의 베이스저항을 측정하는 임피이던스 추출방법에 있어서, 측정장비에 의해 측정된 측정데이터에서 s-변수데이타를 산출하는 단계와, 상기 s-변수를 임피이던스데이타인 z-변수데이타로 변환하는 단계와, 상기 z-변수데이타를 이용하여 저항값과 캐패시턴스값을 산출하는 단계와, 상기 저항값과 캐패시턴스를 이용하여 임피이던스를 산출하는 단계와, 상기 저항값과 캐패시턴스값 및 임피시던스값을 비교하여 상기 트랜지스터의 베이스저항을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소장의 등가회로 저항 추출방법

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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.