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반도체에너지갭측정방법및그장치

  • 기술번호 : KST2015100563
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 간단한 광학시스템과 영상처리시스템을 이용해 반도체재료의 에너지 갭(Energy Gap)을 사정하기 위한 에너지 갭 측정방법에 관한 것으로 지금까지는 주로 이론적 바탕에 근거하여 분광 광도계를 통해 반도체 재료의 에너지 캡 크기를 유도했다.그러나 본 발명은 투과 스펙트럼을 얻기 위해 광원(light source)의 파장을 연속적으로 변화시켜 시편에 주사시키는 기존의 분광 광도계(spectro photometer)를 사용하는 대신에 일정대역의 광원(에너지 갭(Eg)을 중심으로한 일정파장대신의 빛)을 일괄적으로 시편에 투과시켜 이 응답을 영상화한후 이 영상위에 디지틀 영상처리 시스템(digital image processing system)을 이용해 에너지 갭(Eg)값을 직접 읽어낼 수 있도록 영상기법을 이용한 반도체 에너지 갭 측정방법을 제공하는 것이다.
Int. CL H01L 21/66 (2006.01)
CPC G01N 21/8851(2013.01)G01N 21/8851(2013.01)G01N 21/8851(2013.01)G01N 21/8851(2013.01)
출원번호/일자 1019910022922 (1991.12.13)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0081809-0000 (1995.01.25)
공개번호/일자 10-1993-0014863 (1993.07.23) 문서열기
공고번호/일자 1019940010644 (19941024) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.12.13)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성준 대한민국 대전직할시서구
2 김보우 대한민국 대전직할시중구
3 배일성 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
2 한국전기통신공사 대한민국 서울시종로구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1991-0125464-71
2 출원심사청구서
Request for Examination
1991.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1991-0125463-25
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1991-0125465-16
4 특허출원서
Patent Application
1991.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1991-0125462-80
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1992.11.19 수리 (Accepted) 1-1-1991-0125466-62
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1994.06.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0060347-73
7 의견서
Written Opinion
1994.07.13 수리 (Accepted) 1-1-1991-0125467-18
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1994.07.13 수리 (Accepted) 1-1-1991-0125468-53
9 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1994.10.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0060348-18
10 등록사정서
Decision to grant
1995.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0060349-64
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
18 출원인정보변경(경정)신고서
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2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
19 출원인정보변경(경정)신고서
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2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
21 출원인정보변경(경정)신고서
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2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
22 출원인정보변경(경정)신고서
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2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
23 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

기준시편을 일정 파장대역을 갖는 광빔으로 투사하는 단계와, 광필터들을 통하여 투과 스펙트럼 영상의 χ좌표를 파장값으로 변환시키는 단계와, 기준시편의 특성을 분석하여 에너지갭 픽셀값(Xgap)을 설정하는 단계와, 투과 스펙트럼 영상을 구성하는 각각의 픽셀값(χ)과 해당 픽셀의 파장(λ)간의 전달함수 λ=f(χ)를 구한 후 시편을 위치시켜 스펙트럼의 영상화를 수행하는 단계와, 영상화를 통하여 얻어진 생화면을 기억시킨 후 영상의 χ축을 따라 상기 각각의 픽셀값(χ)을 주사하는 단계 및, 상기 각각의 픽셀값(χ)과 상기 에너지갭 픽셀값(Xgap)을 순차로 비교하여 일치하는 픽셀의 χ좌표를 읽어 파장(λgap)을 구한 후[eV]단위로 변환하여 에너지갭(Eg)을 구하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 에너지갭 측정방법

2 2

제 1 항에 있어서, 에너지갭에 해당하는 픽셀값을 미리 선정한 후 영상의 좌/우변으로 부터 우/좌 방향으로 χ좌표의 각 픽셀값을 주사하여 읽은 후 두 값을 비교하여 일치했을때 그 χ좌표를 에너지갭(Eg)값으로 읽어내도록 함을 특징으로 하는 반도체 에너지갭 측정방법

3 3

광학적 방식에 의해 반도체의 에너지갭(Eg)을 측정하는 장치에 있어서, 상기 에너지갭(Eg)의 측정과 관련된 제반연산 및 제어기능을 수행하는 퍼스널 컴퓨터(9)와, 광원(1)으로부터 방출되는 광을 모으는 렌즈(2)와, 상기 렌즈(2)를 통하여 제공되는 광의 스펙트럼을 시료(4)에 조사하는 다색화 수단(3)과, 상기 시료(4)를 통하여 제공되는 투과 스펙트럼 영상의 광을 서로 상이한 복수의 특정파장(λp1∼λpn)별로 통과시키는 복수의 광필터 수단(5)과, 상기 복수의 광필터 수단(5)에 의해 해당 필터의 파장으로 이루어진 영상을 소정의 아날로그 전기신호로 변환하는 영상독취수단(6)과, 상기 영상독취수단(6)의 출력신호를 디지탈 신호로 변환하여 기억하는 영상신호 처리수단(7)및, 픽셀의 좌표값과 파장간의 함수관계를 설정하는 에너지 갭 검색 및 표시수단(8)을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 에너지갭 측정장치

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP07115114 JP 일본 FAMILY
2 JP08010721 JP 일본 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP7115114 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP8010721 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 JPH07115114 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 JPH0810721 JP 일본 DOCDBFAMILY
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