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평면일체형 전자계프로브

  • 기술번호 : KST2015100790
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고밀도 인쇄회로기판(Printed Circuit Board)상의 광대역(30MHz - 1GHz)의 주파수 대역에서 전계잡음 및 자계잡음을 동시에 측정할 수 있는 평면일체형 전자계프로브에 관한 것이다.일반적으로 전자파 잡음강도를 측정하기 위해서는 무선주파수(RF) 디텍터가 부착된 소형안테나(또는 프로브라 하기도 함)가 이용되고 있는 데, 종래 사용되고 있는 프로브는 전계 강도를 센싱하기 위한 프로브와 자계 강도를 센싱하기 위한 프로브의 두 종류가 있다. 그러나 종래의 프로브는 공간 분해능에 문제점이 발생되며, 전계와 자계를 동시에 측정할 수 없는 문제점들이 발생되었다.따라서 본 발명은 상기한 문제점을 해결할 수 있는 인쇄회로기판상의 불요전자파잡음원을 탐지하기 위한 소형, 고분해능의 광대역(30MHz - 1GHz) 전자계 평면일체형 프로브를 제시한다.
Int. CL G01R 1/067 (2006.01)
CPC G01R 1/06733(2013.01) G01R 1/06733(2013.01) G01R 1/06733(2013.01)
출원번호/일자 1019970060665 (1997.11.17)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0255563-0000 (2000.02.15)
공개번호/일자 10-1999-0040323 (1999.06.05) 문서열기
공고번호/일자 (20000501) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1997.11.17)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이애경 대한민국 대전광역시 서구
2 최익권 대한민국 대전광역시 유성구
3 조광윤 대한민국 대전광역시 서구
4 윤영건 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)
2 최승민 대한민국 서울특별시 중구 통일로 **, 에이스타워 *층 (순화동)(법무법인 세종)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1997.11.17 수리 (Accepted) 1-1-1997-0191388-08
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.11.17 수리 (Accepted) 1-1-1997-0191387-52
3 특허출원서
Patent Application
1997.11.17 수리 (Accepted) 1-1-1997-0191386-17
4 등록사정서
Decision to grant
2000.01.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0013054-98
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
7 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2008.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2008-5055008-50
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

접지면을 갖는 유전체 기판상에 반 루프 형태의 프린트된 마이크로스트립 구조로 대칭되게 형성된 두 개의 프로브와,

상기 두 개의 반 루프 형태의 프로브 사이에서 상기 프로브를 전기적으로 연결하기 위해 삽입되며, 커넥터 내심 및 리드선에 각각 접속되는 두 개의 부하저항을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 평면일체형 전자계프로브

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 유전체 기판은 유전율이 22이고, 유전체의 두께가 15mils인 접지면을 갖는 것을 특징으로 하는 평면일체형 전자계프로브

3 3

제 1 항에 있어서, 상기 프로브는 상기 직경 1cm, 폭 1mm인 루프안테나로 구성된 것을 특징으로 하는 평면일체형 전자계프로브

4 4

제 1 항에 있어서, 상기 부하저항은 양단에 유기되는 신호의 합신호와 차신호로 각각 자계 및 전계를 구하는 데에 이용되는 것을 특징으로 하는 평면일체형 전자계프로브

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.