요약 | 본 발명은 고밀도 인쇄회로기판(Printed Circuit Board)상의 광대역(30MHz - 1GHz)의 주파수 대역에서 전계잡음 및 자계잡음을 동시에 측정할 수 있는 평면일체형 전자계프로브에 관한 것이다.일반적으로 전자파 잡음강도를 측정하기 위해서는 무선주파수(RF) 디텍터가 부착된 소형안테나(또는 프로브라 하기도 함)가 이용되고 있는 데, 종래 사용되고 있는 프로브는 전계 강도를 센싱하기 위한 프로브와 자계 강도를 센싱하기 위한 프로브의 두 종류가 있다. 그러나 종래의 프로브는 공간 분해능에 문제점이 발생되며, 전계와 자계를 동시에 측정할 수 없는 문제점들이 발생되었다.따라서 본 발명은 상기한 문제점을 해결할 수 있는 인쇄회로기판상의 불요전자파잡음원을 탐지하기 위한 소형, 고분해능의 광대역(30MHz - 1GHz) 전자계 평면일체형 프로브를 제시한다. |
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Int. CL | G01R 1/067 (2006.01) |
CPC | G01R 1/06733(2013.01) G01R 1/06733(2013.01) G01R 1/06733(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019970060665 (1997.11.17) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0255563-0000 (2000.02.15) |
공개번호/일자 | 10-1999-0040323 (1999.06.05) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20000501) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (1997.11.17) |
심사청구항수 | 4 |