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갈륨비소전계효과트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015101212
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 갈륨비소를 이용한 금속반도체 전계효과 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로, 반절연기판에 P형 매몰층과 형성하고 하층박막과 상층박막을 순차로 증착하고, 상층박막상에 포토레지스트막의 패턴을 형성한 후 마스크로서 사용하여 상층박막을 과식각하며, 방향성 박막을 증착하고 포토레지스터막을 리프트 - 오프하여 상층박막의 미세패턴을 형성하고, 하층박막을 식각하여 노출되는 반절연 기판 위에 게이트 금속을 증착한 후 게이트 저항의 감소를 위한 저저항 금속을 증착하며, 게이트 패턴의 형성을 위한 리프트 - 오프를 수행한 후 저저항금속을 마스크로서 사용하여 게이트 금속을 식각한 것이다.
Int. CL H01L 29/80 (2006.01)
CPC H01L 29/66462(2013.01) H01L 29/66462(2013.01) H01L 29/66462(2013.01) H01L 29/66462(2013.01)
출원번호/일자 1019920024462 (1992.12.16)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0091104-0000 (1995.11.01)
공개번호/일자 10-1994-0016952 (1994.07.25) 문서열기
공고번호/일자 1019950008264 (19950726) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1992.12.16)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 양전욱 대한민국 대전직할시대덕구
2 조낙희 대한민국 대전직할시대덕구
3 최영구 대한민국 대전직할시
4 최성우 대한민국 대전직할시중구
5 이경호 대한민국 대전직할시중구
6 조경익 대한민국 대전직할시중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1992.12.16 수리 (Accepted) 1-1-1992-0132815-03
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.16 수리 (Accepted) 1-1-1992-0132817-94
3 출원심사청구서
Request for Examination
1992.12.16 수리 (Accepted) 1-1-1992-0132819-85
4 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.16 수리 (Accepted) 1-1-1992-0132816-48
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.16 수리 (Accepted) 1-1-1992-0132818-39
6 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1994.03.03 수리 (Accepted) 1-1-1992-0132820-21
7 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1995.06.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0044068-09
8 등록사정서
Decision to grant
1995.10.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0044069-44
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

갈륨비소 전계효과 트랜지스터를 제조하는 방법에 있어서, 반절연기판(1)에 P형 매몰층(2)과 활성층(3)을 형성하고 하층박막(4)과 상층박막(5)을 순차로 증착하는 단계와, 상기 상층박막(5)상에 포토레지스트막(6)의 패턴을 형성한 후 마스크로서 사용하여 상기 상층박막(5)을 과식각 하는 단계와, 방향성박막(7)을 증착하고 상기 포토레지스트막(6)을 리프트-오프하여 상기 상층박막(5)의 미세패턴을 형성하는 단계와, 상기 하층박막(4)을 식각하여 노출되는 상기 반절연기판(1) 위에 게이트금속(8)을 증착한 후 게이트저항의 감소를 위한 저저항금속(9)을 증착하는 단계와, 게이트 패턴의 형성을 위한 리프트-오프를 수행한 후 상기 저저항금속(9)을 마스크로서 사용하여 상기 게이트금속(8)을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 갈륨비소의 전계효과 트랜지스터의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 하층박막(4)은 Si,SiO,SiN 또는 SiO2와 같은 절연물로 이루어지는 것을 특징으로 하는 갈륨비소의 전계효파 트랜지스터의 제조방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 저저항금속(9)은 AuGe/Ni/Au의 증착과 열처리공정에 의해 형성되고, 절연막 보조 리프트-오프공정 또는 포토레지스트막을 이용한 리프트-오프공정에 의해 패턴이 형성되는 것을 특징으로 하는 갈륨비소의 전계효과 트랜지스터의 제조방법

4 4

제3항에 있어서, 상기 열처리공정은 400℃의 온도에서 수행되고, 상기 포토레지스트막은 돌출형태 또는 음의 기울기를 갖는 것을 특징으로 하는 갈륨비소의 전계효과 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.