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멀티 칩 모듈 기판의 금속배선 형성을 위한 전기 도금공정에서 금속배선 제조 방법으로서, 상기 기판의 표면에 제 1 절연막을 형성하는 단계와, 상기 제 1 절연막의 표면에 시드금속을 형성하는 단계와, 상기 시드금속의 표면에 제 2 절연막을 형성하는 단계와, 상기 제 2 절연막의 표면에 감광막을 형성하는 단계와, 도금할 부분에 대응하여 상기 감광막을 패터닝하고, 상기 패터닝된 표면을 노광 및 현상하는 단계와, 상기 도금할 부분에 대응하여 상기 감광막의 불필요한 부분을 제거하는 단계와, 상기 감광막 영역을 제외한 영역의 상기 제 2 절연막을 제거하는 단계와, 상기 시드금속의 드러난 표면에 전도체 물질로 전기 도금하는 단계와, 적층된 상기 감광막, 상기 제 2 절연막, 및 상기 시드금속을 제거하는 단계 를 포함하는 멀티 칩 모듈 기판 제조공정에서 전기 도금에 의한 금속배선 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 1 절연막은, 폴리머인 것을 특징으로 하는 멀티 칩 모듈 기판 제조공정에서 전기 도금에 의한 금속배선 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 시드금속은, Ti/Cu로서 스퍼터링 방법으로 각각 1000/3000Å의 두께로 형성된 것을 특징으로 하는 멀티 칩 모듈 기판 제조공정에서 전기 도금에 의한 금속배선 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 2 절연막은, Si3N4로서 0
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제 4 항에 있어서, 상기 0
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제 4 항에 있어서, 상기 Si3N4은, PECVD 방법으로 형성되는 것을 특징으로 하는 멀티 칩 모듈 기판 제조공정에서 전기 도금에 의한 금속배선 제조 방법
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제 4 항에 있어서, 상기 Si3N4은, 250℃의 온도에서 형성되는 것을 특징으로 하는 멀티 칩 모듈 기판 제조공정에서 전기 도금에 의한 금속배선 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 감광막은, 5㎛의 두께로 형성된 것을 특징으로 하는 금속배선 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 전기 도금 단계는, 전도체 물질로서 구리를 사용하여 3㎛의 두께만큼 전기 도금하는 것을 특징으로 하는 멀티 칩 모듈 기판 제조공정에서 전기 도금에 의한 금속배선 제조 방법
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