요약 | 본 발명은 화합물반도체 기술에 관한 것으로, 특히 이종접합 쌍극자 트랜지스터 제조방법에 관한 것이며, 소자의 특성 열화를 방지하면서 에미터 전극, 베이스 전극, 콜렉터 전극에 동일한 오믹 금속을 적용할 수 있는 이종접합 쌍극자 트랜지스터 제조방법을 제공하고자 한다. 본 발명은 에미터 상층구조 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 에미터층 및 베이스층, 콜렉터층을 순차적으로 식각하고, 에미터 상층구조 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 화합물반도체 에미터캡층을 재성장 시킨 다음 베이스와 활성영역에 인접한 부콜렉터 상에 재성장 된 화합물반도체 에미터캡층을 식각함으로써 에미터 상층구조 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 에미터 전극, 베이스 전극, 콜렉터 전극에 동일한 오믹 금속을 적용할 수 있도록 하는 기술이다. 즉, 본 발명에서는 콜렉터 전극이 형성되는 부콜렉터층 상에도 에미터 전극 같은 조건 상태에서 전극을 형성하므로 같은 오믹 금속을 동시에 적용하더라도 소자 특성이 저하되는 것을 방지할 수 있다. 이종접합 쌍극자 트랜지스터, 오믹 금속, 전극, 에미터캡층, 부콜렉터층 |
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Int. CL | H01L 29/70 (2006.01) |
CPC | H01L 29/66242(2013.01) H01L 29/66242(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019980045132 (1998.10.27) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0319738-0000 (2001.12.21) |
공개번호/일자 | 10-2000-0027236 (2000.05.15) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20020308) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (1998.10.27) |
심사청구항수 | 3 |