맞춤기술찾기

이전대상기술

동종접합및이종접합쌍극자트랜지스터장치의제조방법

  • 기술번호 : KST2015101428
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 컴퓨터와 통신기기등 차세대 고속정보처리 시스템에 사용가능한 고속 쌍극자(Bipola) 트랜지스터(Transistor)의 제조방법에 관한 것이다.그 제조방법은 규소기판(40)상에 컬렉터용 규소박막층(41) (42)을 성장한 다음 이온주입하여 컬렉터의 금속접촉용 연결부분(4)을 형성하고, 이에 트렌치(44)를 형성하는 공정과, 상기 규소 박막층(42)상에 절연막(45), 다결정규소(46), 절연막(47)을 순차도포하는 공정과, 상기 규소박막층(42)상에 도포된 막을 식각하여 소자의 활성영역을 정의하는 공정과, 이어 다결정 규소막(48)을 식각하는 공정과, 분자선 결정박막 성장법을 이용하여 베이스(50)를 성장한 다음 마스크를 사용하여 베이스 전극용 다결정규스층(45)과 베이스층(46)을 정의하고, 이어 절연막을 도포 및 식각하여 에미터를 정의하는 공정과, 상기 절연막을 제거한 다음 다결정 규소막(53)을 증착하고 아울러 마스크로 에미터 다결정규소와, 컬렉터 다결정규소(54)를 정의하는 공정과, 최종, 마스크를 사용하여 상기 절연막(55)을 식각하여 식각된 부분에 금속(56)을 증착하는 공정을 포함한다.
Int. CL H01L 29/68 (2006.01)
CPC H01L 29/66242(2013.01) H01L 29/66242(2013.01)
출원번호/일자 1019910024260 (1991.12.24)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0082488-0000 (1995.02.17)
공개번호/일자 10-1993-0015048 (1993.07.23) 문서열기
공고번호/일자 1019940010915 (19941119) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.12.24)
심사청구항수 2

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 염병렬 대한민국 대전직할시중구
2 강상원 대한민국 대전직할시중구
3 이경수 대한민국 대전직할시서구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1991.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132426-11
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132427-56
3 출원심사청구서
Request for Examination
1991.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132429-47
4 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132428-02
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1994.07.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0063897-87
6 의견서
Written Opinion
1994.08.27 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132430-94
7 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1994.10.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0063898-22
8 등록사정서
Decision to grant
1995.02.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0063899-78
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

규소기판[40]상에 컬렉터용 규소박막층[41][42]을 성장한다음 이온주입하여 컬렉터의 금속접촉용 연결부분[43]을 형성하고, 이어 트렌치[44]를 형성하는 공정과, 상기 규소박막층[42]상에 절연막[45], 다결정규소[46], 절연막[47]을 순차 도포하는 공정과, 상기 규소박막층[42]상에 도포된 막을 식각하되, 상기 절연막[47]과 다결정규소[46]는 이방성 식각하고 상기 절연막[45]은 등방성 식각하여 소자의 활성영역을 정의하는 공정과, 이어 다결정규소막[48]을 증착한 다음 열산화하여 등방성 식각된 절연막[45]의 측면홈 부분에 산화되지 않은 다결정규소[49]를 형성하는 공정과, 상기 산화된 다결정규소막[48]을 제거하는 공정과, 분자선 결정박막 성장법을 이용하여 베이스[50]를 성장한 다음 마스크를 사용하여 베이스층[46]을 정의하고, 이어 절연막을 도포 및 식각하여 에미터를 정의하는 공정과, 상기 절연막을 제거한 다음 다결정규소를 증착하고 아울러 마스크로 에미터 다결정규소[53]와, 컬렉터 다결정규소[54]를 정의하는 공정과, 최종, 절연막[55]을 증착한 후 식각하여 식각된 부분에 금속[56]을 배선하는 공정을 포함하는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 에미터영역의 정의공정을 수행한 다음 다결정규소[53]를 증착하기 전에 에미터로 규소박막층을 선택적 결정박막 성장법으로 성장하는 공정을 부가한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.