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고출력리지웨이브가이드구조의반도체레이저와그제작방법

  • 기술번호 : KST2015101519
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고출력 반도체 레이저 및 광소자 제작에 관한 것으로, 다단계의 다른 물질 이온 주입과 열처리 과정을 통하여 밴드갭 과 유효굴절율 변화를 공간적으로 완화시켜 반도체 레이저에서의 고차 모드의 발진을 억제하여 기본 모드로 동작함으로써 안정된 광 출력을 내는 고출력 리지 웨이브 가이드 구조의 반도체 레이저와 그 제작방법에 관한 것이다.본 발명은 다층 양자 우물 구조를 활용하고 있는 반도체 레이저와 기타 광소자 제작에 있어서 Zn, Si, Be 등의 원소로 확산 또는 이온 주입시킨 후의 열처리를 통한 혼정화로 밴드갭과 유효굴절율을 조절하며, 이온 주입 물질, 주입량 및 열처리 조건에 따라 밴드갭과 유효굴절율 변화의 양을 조절하여 완화된 밴드갭과 유효굴절율 분포를 얻을 수 있으므로, 다단계 이온 주입 공정을 이용한 완화된 밴드갭과 유효굴절율 분포는 안정된 고출력 리지 웨이브 가이드 반도체 레이저 제작을 비롯하여 다양한 광소자 특성 향상에 활용이 가능하다.
Int. CL H01S 5/30 (2006.01)
CPC H01S 5/2205(2013.01) H01S 5/2205(2013.01) H01S 5/2205(2013.01)
출원번호/일자 1019970037477 (1997.08.06)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0274155-0000 (2000.09.07)
공개번호/일자 10-1999-0015372 (1999.03.05) 문서열기
공고번호/일자 (20010115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1997.08.06)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장동훈 대한민국 대전광역시 유성구
2 박경현 대한민국 대전광역시 유성구
3 이중기 대한민국 대전광역시 유성구
4 박철순 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1997.08.06 수리 (Accepted) 1-1-1997-0119734-25
2 출원심사청구서
Request for Examination
1997.08.06 수리 (Accepted) 1-1-1997-0119736-16
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.06 수리 (Accepted) 1-1-1997-0119735-71
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1999.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0298157-15
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1999.11.29 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-1999-5405045-70
7 의견서
Written Opinion
1999.11.29 수리 (Accepted) 1-1-1999-5405039-06
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
9 등록사정서
Decision to grant
2000.06.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0135129-41
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
17 출원인정보변경(경정)신고서
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2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
19 출원인정보변경(경정)신고서
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2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

기판위에 완충층, 클래드층, 활성층 클래드층, 오믹접촉층의 다중양자우물 구조를 갖도록 MOCVD 또는 그외의 결정성장 방법으로 결정성장시킨 후 포토레지스트 마스킹, 절연막과 전극을 입히는 공정을 통하여 리지부분과 채널부분을 갖는 고출력 리지 웨이브 가이드 구조의 반도체 레이저 제작방법에 있어서,

상기 리지부분의 식각 후 채널부분과의 경계 부분에 완화된 밴드갭과 유효굴절률을 갖도록 소정의 이온주입물질을 포토레지스터 마스크 또는 산화막마스크를 사용하여 소정부위에 이온주입하고,

상기 주입된 이온주입부위를 다시 마스킹한 후 소정의 간격을 두고 근처의 새로운 주입부에 새로운 이온주입물질을 포토레지스터 마스크 또는 산화막마스크를 사용하여 이온주입하되 상기 과정을 주입하고자 하는 물질의 종류 수만큼 다단계로 반복하는 다단계 이온주입공정과;

상기 밴드갭과 다른 이온주입물질 또는 이온주입 깊이와 주입량에 따라 유효굴절율이 다른 이온주입공정을 다단계로 반복한 후 상기 서로 다른 이온이 주입된 결정성장층을 혼정화시키도록 열처리 공정을 수행하여 완화된 밴드갭과 유효굴절율을 갖게 하는 것을 특징으로 하는 고출력 리지 웨이브 가이드 구조의 반도체 레이저 제작방법

2 2

제 1 항에 있어서,

상기 다단계 이온주입공정과, 열처리공정을 1 차 결정성장을 수행한 후 상기 1 차 결정성장층에 수행하도록 하는 것을 특징으로 하는 고출력 리지 웨이브 가이드 구조의 반도체 레이저 제작방법

3 3

기판위에 완충층, 클래드층, 활성층 클래드층, 오믹접촉층의 다중양자우물 구조를 갖도록 MOCVD 또는 그외의 결정성장 방법으로 결정성장시킨 후 포토레지스터 마스크, 절연막과 전극을 입히는 공정을 통하여 리지부분과 채널부분을 갖는 고출력 리지 웨이브 가이드 구조의 반도체 레이저 제작방법에 있어서,

상기 리지부분의 식각 후 채널부분과의 경계 부분에 완화된 밴드갭과 유효굴절률을 갖도록 소정의 이온확산물질을 포토레지스터 마스크 또는 산화막마스크를 사용하여 소정부위에 이온확산하고,

상기 확산된 이온확산부위를 다시 마스킹한 후 소정의 간격을 두고 근처의 새로운 확산부에 새로운 이온확산물질을 포토레지스터 마스크 또는 산화막마스크를 사용하여 이온확산하되 상기 과정을 확산하고자 하는 물질의 종류 수만큼 다단계로 반복하는 다단계 이온확산공정과;

상기 밴드갭과 다른 이온확산물질 또는 이온확산 깊이와 확산량에 따라 유효굴절율이 다른 이온확산물질을 이온확산하는 이온확산공정을 다단계로 반복한 후 상기 서로 다른 이온이 확산된 결정성장층을 혼정화시키도록 열처리 공정을 수행하는 것을 특징으로 하는 고출력 리지 웨이브 가이드 구조의 반도체 레이저 제작방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.