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바이폴러 트랜지스터의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015101535
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 자기정렬(self-align) 방법에 의한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로서, 그 특성은 바이폴러 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 규소 기판 위에 제 1 절연막 패턴을 형성하고 제 1 전도형 불순물을 이온주입하고 열처리하여 매몰층을 형성하는 제 1 공정과, 상기 웨이퍼 상에 제 2 절연막으로 소정의 활성영역을 정의하고 제 1 전도형 불순물이 첨가된 단결정 규소 박막을 선택적으로 성장시키고 감광막을 마스크로 컬렉터 싱커 부분에 고농도로 제 1 전도형 불순물을 첨가하는 제 2 공정과, 상기 감광막을 제거하고 웨이퍼 전면에 완충용 규소 박막과 제 2 전도형 불순물이 첨가된 베이스 박막을 순차적으로 성장시킨 다음 제 1 전도형 불순물이 첨가된 에미터 박막과 제 3 절연막을 순차적으로 적층하고 감광막으로 에미터를 정의하고 절연막과 에미터 박막을 순차적으로 건식식각한 다음 비활성 베이스영역에 제 2 전도형 불순물을 이온주입하는 제 3 공정과, 상기 감광막을 제거하고 베이스 전극부분을 감광막으로 정의하고 베이스 박막과 규소 박막을 건식식각하는 제 4 공정과, 상기 감광막을 제거하고 웨이퍼 전면에 제 4 절연막을 적층한 후 열처리하여 에미터 박막내의 불순물을 확산시켜 에미터를 형성하고 감광막으로 베이스 전극부분을 정의하는 제 5 공정과, 상기 감광막을 마스크로 하여 제 4 절연막을 건식식각하여 에미터 박막의 측면에 측면절연막을 형성함과 동시에 베이스 전극이 형성되는 부분의 절연막을 식각하여 베이스 박막을 노출시킨 후 제 2 전도형 불순물을 고농도로 이온주입하는 제 6 공정과, 상기 감광막을 제거하고 노출된 베이스 박막 상에 선택적으로 베이스 전극용 박막을 형성시키고 제 5 절연막을 적층하는 제 7 공정과, 상기 절연막을 평탄화하여 에미터 박막 위의 제 5 절연막을 제거하여 에미터 박막 위의 제 3 절연막을 노출시키는 제 8 공정과, 상기 노출된 제 3 절연막을 식각하여 에미터 접점을 형성하는 제 9 공정과, 감광막으로 베이스와 컬렉터 접점을 정의하고 절연막을 식각하여 접점을 형성하는 제 10 공정 및 상기 감광막을 제거하고 금속 전극을 형성하는 제 1 공정을 포함하는 데에 있으므로, 본 발명은 규소 게르마늄을 베이스로 사용하여 에미터(Emitter)와 베이스의 에너지 띠의 차이(energy bandgap)에 의해 전위장벽이 형성되어 에미터에서 베이스로의 반송자(carrier)의 주입은 증가되는 반면 베이스에서 에미터로의 반송자의 주입은 차단되어 결과적으로 전류이득이 증가되는 데에 그 효과가 있다.
Int. CL H01L 21/331 (2006.01)
CPC H01L 29/42304(2013.01) H01L 29/42304(2013.01) H01L 29/42304(2013.01) H01L 29/42304(2013.01)
출원번호/일자 1019950050530 (1995.12.15)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0161200-0000 (1998.08.21)
공개번호/일자 10-1997-0053000 (1997.07.29) 문서열기
공고번호/일자 (19990201) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1995.12.15)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한태현 대한민국 대전광역시 유성구
2 이수민 대한민국 대전광역시 유성구
3 조덕호 대한민국 대전광역시 유성구
4 염병렬 대한민국 대전광역시 유성구
5 편광의 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination		 1995.12.15 수리 (Accepted) 1-1-1995-0196355-94
2 특허출원서
Patent Application		 1995.12.15 수리 (Accepted) 1-1-1995-0196353-03
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1995.12.15 수리 (Accepted) 1-1-1995-0196354-48
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1997.04.25 수리 (Accepted) 1-1-1995-0196356-39
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1997.08.22 수리 (Accepted) 1-1-1995-0196357-85
6 등록사정서
Decision to grant		 1998.07.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0103780-10
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

바이폴러 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 규소 기판 위에 제 1 절연막 패턴을 형성하고 제 1 전도형 불순물을 이온주입하고 열처리하여 형성하는 제 1 공정과; 상기 웨이퍼 상에 제 2 절연막으로 소정의 활성영역을 정의하고 제 1 전도형 불순물이 첨가된 단결정 규소 박막을 선택적으로 성장시키고 감광막을 마스크로 컬렉터 싱커 부분에 고농도로 제 1 전도형 불순물을 첨가하는 제 2 공정과; 상기 감광막을 제거하고 웨이퍼 전면에 완충용 규소 박막과 제 2 전도형 불순물이 첨가된 베이스 박막을 순차적으로 성장시킨 다음 제 1 전도형 불순물이 첨가된 에미터 박막과 제 3 절연막을 순차적으로 적층하고 감광막으로 에미터를 정의하고 절연막과 에미터 박막을 순차적으로 건식식각한 다음 비활성 베이스영역에 제 2 전도형 불순물을 이온주입하는 제 3 공정과; 상기 감광막을 제거하고 베이스 전극부분을 감광막으로 정의하고 베이스 박막과 규소 박막을 건식식각하는 제 4 공정과; 상기 감광막을 제거하고 웨이퍼 전면에 제 4 절연막을 적층한 후 열처리하여 에미터 박막내의 불순물을 확산시켜 에미터를 형성하고 감광막으로 베이스 전극부분을 정의하는 제 5 공정과; 상기 감광막을 마스크로 하여 제 4 절연막을 건식식각하여 에미터 박막의 측면에 측면절연막을 형성함과 동시에 베이스 전극이 형성되는 부분의 절연막을 식각하여 베이스 박막을 노출시킨 후 제 2 전도형 불순물을 고농도로 이온주입하는 제 6 공정과; 상기 감광막을 제거하고 노출된 베이스 박막 상에 선택적으로 베이스 전극용 박막을 형서시키고 제 5 절연막을 적층하는 제 7 공정과; 상기 절연막을 평탄화하여 에미터 박막 위의 제 5 절연막을 제거하여 에미터 박막 위의 제 3 절연막을 노출시키는 제 8 공정과; 상기 노출된 제 3 절연막을 식각하여 에미터 접점을 형성하는 제 9 공정과; 감광막으로 베이스와 컬렉터 접점을 정의하고 절연막을 식각하여 접점을 형성하는 제 10 공정; 및 상기 감광막을 제거하고 금속 전극을 형성하는 제 11 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 베이스 박막이 규소 박막과 규소 게르마늄 박막과 규소 게르마늄/규소 박막 등으로 형성되는 것을 특징으로 하는 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

3 3

제2항에 있어서, 상기 규소 게르마늄 박막 내의 게르마늄 분포가 일정하거나 컬렉터 쪽에서 에미터 쪽으로 감소되는 것을 특징으로 하는 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 베이스 전극용 박막이 금속 실리사이드 박막과 규소 박막과 규소 게르마늄 박막 등을 선택적으로 성장시켜 형성되는 것을 특징으로 하는 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

5 5

제1항에 있어서, 상기 에미터 박막이 다결정 규소 박막과 다결정 규소/규소 게르마늄 박막 등으로 형성되는 것을 특징으로 하는 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

6 6

제5항에 있어서, 상기 에미터 박막에 이온주입 방법과 인-사이추(in-situ) 방법으로 불순물을 첨가하는 것을 특징으로 하는 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.