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유연 기판의 벤딩 테스트 장치

  • 기술번호 : KST2015102155
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 신뢰성을 증대 또는 극대화할 수 있는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치를 개시한다. 그의 장치는, 테이블과, 상기 테이블 상에서 유연 기판의 일측을 고정하는 제 1 전극부와, 상기 제 1 전극부에 인접하여 배치되고 상기 유연 기판의 일측에서 타측 방향으로 연장되는 가이드 레일과, 상기 가이드 레일을 따라 이동되는 슬라이더와, 상기 슬라이더에 연결되고 상기 유연 기판의 타측을 상기 제 1 전극부에 접근 또는 이격시키는 제 2 전극부를 포함한다.
Int. CL G01N 3/20 (2006.01) G01N 3/02 (2006.01)
CPC G01N 3/22(2013.01) G01N 3/22(2013.01) G01N 3/22(2013.01)
출원번호/일자 1020110045251 (2011.05.13)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0127037 (2012.11.21) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.01.26)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김기현 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.05.13 수리 (Accepted) 1-1-2011-0356019-33
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2015-0036840-23
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2016.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2016-0086810-15
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.12.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.02.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0024959-15
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.02.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0123539-29
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.03.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0253141-86
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.03.14 수리 (Accepted) 1-1-2017-0253140-30
10 등록결정서
Decision to grant
2017.08.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0593141-18
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
테이블;상기 테이블 상에 고정된 제 1 엘보들;상기 제 1 엘보들 사이에 유연 기판의 일측을 고정하는 제 1 하부 및 제 1 상부 전극바들과, 상기 제 1 하부 및 제 1 상부 전극바들의 양단들의 사이로부터 상기 제 1 엘보들 내로 연결되어 상기 유연 기판의 일측을 회전시키는 제 1 전극 샤프트들을 포함하는 제 1 전극부;상기 제 1 전극부에 인접하여 배치되고 상기 유연 기판의 일측에서 타측 방향으로 연장되는 가이드 레일; 상기 가이드 레일을 따라 이동되는 슬라이더;상기 슬라이더에 연결되어 상기 제 1 전극부와 평행한 방향으로 연장하고, 상기 슬라이더에 의해 상기 제 1 전극부와의 거리가 조절되는 이동 샤프트;상기 이동 샤프트의 양측들에 배치된 제 2 엘보들; 및상기 유연 기판의 타측을 고정하는 제 2 하부 및 제 2 상부 전극바들과, 상기 제 2 하부 및 제 2 상부 전극바들의 양단들의 사이로부터 상기 제 2 엘보들 내로 연결되어 상기 제 1 하부 및 상기 제 1 상부 전극 바들과 상기 제 2 하부 및 상기 제 2 상부 전극바들 사이의 거리의 변화에 따라 상기 유연 기판의 타측을 회전시키는 제 2 전극 샤프트들을 포함하는 제 2 전극부를 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제 1 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 전극부들은 상기 제 1 및 제 2 하부 전극바들과, 상기 제 1 및 제 2 상부 전극바들사이의 거리를 조절하는 제 1 및 제 2 가이드 핀들을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치
5 5
제 4 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 전극부들은 상기 제 1 및 제 2 하부 전극바들과, 상기 제 1 및 제 2 상부 전극바들 사이에 배치되어 상기 제 1 및 제 2 가이드 핀들을 통과시키고 상기 제 1 및 제 2 하부 전극바들과 상기 제 1 및 제 2 상부 전극바들 이격시키는 제 1 및 제 2 스프링들을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
삭제
9 9
제 1 항에 있어서,상기 슬라이더를 이동시키는 구동부; 및상기 구동부를 제어하는 제어 신호를 출력하고, 상기 제 1 전극부와 상기 제 2 전극부들 사이의 상기 유연 기판의 벤딩 또는 펼침에 따른 전기적 성능 테스트를 수행하는 제어부를 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치
10 10
제 1 항에 있어서,상기 테이블 상부를 덮는 하우징을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치
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1 US08806953 US 미국 FAMILY
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1 US2012285257 US 미국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국전자통신연구원 산업원천기술개발사업 플렉시블 디스플레이용 소자 공정 및 소자 최적화 기술개발