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통신장비의 시험 분석 장치

  • 기술번호 : KST2015102200
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 통신장비의 시험 분석 장치에 관한 것이다. 본 발명은 통신장비와의 데이터 송수신을 위한 ADC/DAC와, ADC/DAC를 통해 송수신되는 데이터를 임시 저장하는 메모리부와, ADC/DAC와 메모리부를 제어하고 통신장비 시험 분석을 위한 동작을 수행하도록 하는 제어부를 포함하는 NRPB와 이와 연결하여 NRPB를 제어하는 일반 PC로 구성되며, RF 보드를 추가함으로써 유선 뿐만 아니라 무선 통신장비의 기능 시험 분석이 가능하도록 한다. 따라서, 본 발명에 따르면 통신장비 시험용 하드웨어 및 소프트웨어를 구성하여 일반 PC에 연결/장착하여 기능 시험 분석 장치를 쉽게 구현하고, 변형이 손쉽게 하여 융통성을 가지도록 한다. 통신장비, 시험 분석
Int. CL H04B 17/00 (2006.01)
CPC H04B 17/16(2013.01) H04B 17/16(2013.01)
출원번호/일자 1020030088893 (2003.12.09)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2005-0055854 (2005.06.14) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.12.09)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송영석 대한민국 대전광역시유성구
2 방승찬 대한민국 대전광역시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2003.12.09 수리 (Accepted) 1-1-2003-0469065-74
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2005.06.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2005.07.15 수리 (Accepted) 9-1-2005-0042329-18
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2005.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0417369-12
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2005.11.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0576222-49
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
컴퓨터 시스템으로 제어되고 통신장비와 연결되어, 상기 통신장비의 송수신 기능을 시험하고 분석하기 위한 장치에 있어서, 상기 통신 장비로부터 수신되는 신호를 디지털로 캡쳐하거나, 상기 컴퓨터 시스템으로부터 전송되는 디지털 시험 데이터를 아날로그로 변환하여 상기 통신 장비로 전송하는 ADC/DAC(Analog Digital Conversion/Digital Analog Conversion); 상기 ADC/DAC가 변환한 수신 신호 또는 상기 컴퓨터 시스템으로부터 전송되는 디지털 시험 데이터를 임시 저장하는 메모리부; 및 상기 컴퓨터 시스템으로부터의 명령에 따라 상기 메모리부에 저장된 디지털 시험 데이터를 상기 ADC/DAC가 변환하여 전송하도록 하거나, 메모리부에 저장된 디지털 데이터를 상기 컴퓨터 시스템으로 전달하며, 상기 통신장비의 시험 분석을 위한 프로그램을 저장하고, 저장된 프로그램에 따라 상기 ADC/DAC 및 메모리부를 제어하는 제어부 를 포함하는 통신장비의 시험 분석 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 ADC/DAC와 연결되어, 무선 통신장비로부터 RF(Radio Frequency) 신호를 수신하거나, 상기 ADC/DAC 후단의 아날로그 신호를 RF 신호로 출력하는 RF 출력부를 더 포함하는 통신장비의 시험 분석 장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 ADC/DAC와 데이터를 주고받아 실시간 모뎀 동작하여 일정 분량의 메모리 이상의 신호 송수신이 가능하도록 하는 리얼타임 프로세싱 보드를 상기 컴퓨터시스템에 더 장착하는 것을 특징으로 하는 통신장비의 시험 분석 장치
4 4
제 1항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 컴퓨터 시스템으로부터의 명령에 따라 상기 ADC/DAC 및 메모리부를 제어하는 CPU; 및 상기 컴퓨터 시스템을 통해 프로그래밍이 가능하며, 컴퓨터 시스템에 사용자 인터페이스(GUI; Graphical User Interface)를 구현하여 사용자가 상기 통신장비의 시험 분석을 위한 파라미터를 입력하거나 버튼 누름을 포함한 동작으로 상기 CPU를 통해 상기 ADC/DAC 및 메모리부를 제어할 수 있도록 하는 프로그램 가능한 로직 을 포함하는 통신장비의 시험 분석 장치
5 5
제 1항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 메모리부에 저장된 아날로그 시험 데이터의 전체를 전송한 후, 그 시험 데이터의 특정 구간을 반복하여 상기 통신장비로 전송할 수 있는 것을 특징으로 하는 통신장비의 시험 분석 장치
6 6
제 1항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 통신장비로부터 상기 ADC/DAC를 통해 수신되는 데이터가 상기 메모리부에 저장되는 타이밍을 추출하고, 추출된 타이밍에 따라 상기 메모리부에 저장된 디지털 시험 데이터를 상기 ADC/DAC를 통해 상기 통신장비로 송신 하는 것을 특징으로 하는 통신장비의 시험 분석 장치
7 7
제 6항에 있어서, 상기 컴퓨터 시스템이 상기 메모리부에 저장되는 데이터를 복조한 후, 상기 타이밍에 대한 특정 오프셋에 따라 상기 메모리부에 저장된 데이터를 송신하는 것을 특징으로 하는 통신장비의 시험 분석 장치
8 8
제 5항 내지 7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 메모리부에 저장된 N+M칩 분량의 데이터에서, 먼저 N+M 칩 전체를 전송한 후, M 칩 분량을 반복하여 전송하는 것을 특징으로 하는 통신장비의 시험 분석 장치
9 8
제 5항 내지 7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 메모리부에 저장된 N+M칩 분량의 데이터에서, 먼저 N+M 칩 전체를 전송한 후, M 칩 분량을 반복하여 전송하는 것을 특징으로 하는 통신장비의 시험 분석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.