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자기정렬구조쌍극자트랜지스터장치의제조방법

  • 기술번호 : KST2015102288
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 콜렉터 영역에 베이스와 에미터 모두가 자기 정렬되는 구조의 쌍극자 트랜지스터를 제조하는 방법에 관한 것이다.본 발명은 p형 실리콘기판(1)에 실리콘산화막(2)과 다결정 실리콘층(3)을 도포하고, 콜렉터 함몰층(5)을 정의해서 형성하고, 다결정 실리콘층의 측벽(6) 형성공정과 실리콘산화막(7)과 실리콘질화막(8), 평탄화 감광막(9)을 순차 도포하고, 평탄화공정으로 함몰층의 홈에는 실리콘질화막(8)을 남기고, 실리콘산화막(7) 위의 표면 실리콘질화막만을 식각해 내며, 열산화공정으로 다결정 실리콘층(3) 위에만 실리콘산화막(10)을 더욱 두껍게 형성하고, 비등방성 건식식각법으로 함몰층의 실리콘질화막(8)와 실리콘산화막(7)을 순차적으로 식각해서, 실리콘질화막과 실리콘산화막의 이중측벽을 형성하며, 선택적 실리콘에피층(12)을 성장시키고, 표면의 실리콘산화막(10)을 연마정치층으로 사용하여, 실리콘에피층(12)을 평탄화연마하며, 실리콘산화막(10)의 일부 식각공정, 실리콘질화막 도포 및 비등방성 건식식각법으로 실리콘에피층의 주위(13)에 측벽 실리콘질화막(14)을 형성하며, 측벽실리콘질화막(14)을 마스크로실리콘산화막(15)을 실리콘에피층(l2) 위에 형성하고, 동시에 콜레터 다결정 실리콘층(3)위의 실리콘산화막(10)을 더욱 두껍게 형성하며, 측벽실리콘질화막(14)을 제거하고, p형 다결정 실리콘층(16)을 도포하고, 실리콘에피층(12)위의 실리콘산화막(15)을 연마정지층으로 이용해서 p형 다결정 실리콘층(16)을 기계적-화학적 연마법으로 평탄화하며, 실리콘산화막(15)을 제거하고, 외인성 베이스(16)를 형성하고, 실리콘에피층(12)과 외인성 베이스(16)의 불순물 농도 차이에 의한 산화속도 차이를 이용해서 서로 다른 두께의 실리콘산화막(17,18)을 동시에 열산화방법으로 형성하며, 진성 베이스의 형성을 위해 이온주입(19)을 하고, 베이스와 에미터를 분리하기 위한 측벽 실리콘산화막(21)을 형성하며, 에미터 다결정 실리콘층을 도포하고, 에미터 형상으로 정의하고 식각하여, 에미터(22)를 형성하고, 실리콘산화막(23)을 도포하고, 열처리로 접합을 형성하고 불순물을 활성화시킨 후, 접속구멍을 형성하고 금속전극(25,26,27)을 형성한다.
Int. CL H01L 21/328 (2006.01)
CPC H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01)
출원번호/일자 1019940010551 (1994.05.14)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0128026-0000 (1997.10.28)
공개번호/일자 10-1995-0034451 (1995.12.28) 문서열기
공고번호/일자 (19980406) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.05.14)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이경수 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1994.05.14 수리 (Accepted) 1-1-1994-0048748-17
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.05.14 수리 (Accepted) 1-1-1994-0048747-61
3 특허출원서
Patent Application
1994.05.14 수리 (Accepted) 1-1-1994-0048746-15
4 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1994.07.12 수리 (Accepted) 1-1-1994-0048749-52
5 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.03.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0048750-09
6 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.19 수리 (Accepted) 1-1-1994-0048751-44
7 등록사정서
Decision to grant
1997.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0027451-19
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

p형의 실리콘 기판(1) 위에 제1의 산화막(2)을 형성하고, 소자격리를 수행한 후, 상기 제 1산화막(2)의 전 표면 위에 불순물이 도핑된 제1의 다결정 실리콘층(3)을 형성하고, 상기 제1다결정 실리콘층(3) 위에 함몰층의 정의를 위한 감광막의 패턴을 형성하고 상기 감광막 패턴을 마스크로서 사용하는 반응성 이은 식각(RIE)에 의해 상기 제1다결정 실리콘층(3)을 식각하는 공정과; 상기 다결정 실리콘층(3)과 상기 산화막(2)을 비등방적으로 순서대로 식각하여 상기 실리콘 기판(1)의 표면을 노출시키는 공정과; 이온 주입법에 의해 실리콘 기판(1)의 표면을 노출시키는 공정과; 이온 주입법에 의해 실리콘 기판(1)의 노출된 표면에 불순물을 주입하여 함몰층(5)을 형성한 후, 상기 제1다결정 실리콘층(3)의 양측면과 상기 제1산화막(2)의 측면 위에 측벽(6)을 형성하는 공정과; 그 위에 제2의 산화막(7)과 제1의 질화막(8a)을 순차로 형성하고, 활성영역의 형성을 위한 홈이 완전히 채워지도록 웨이펴의 표면위에 평탄화용 감광막(9)을 도포하는 공정과; 상기 홈 이외 부분의 상기 제1질화막(8a)이 노출될 때까지 상기 감광막(9)을 균일식각하고, 노출된 질화막(8a)만을 식각한 후, 홈 속의 감광막(9)을 제거하는 공정과; 열 산화에 의해 상기 제1다결정 실리콘층(3) 위에 소정의 두께로 제3의 산화막(10)을 형성하고, 비등방성 반응성 이온식각에 의해 홈의 측벽 위의 질화막(8a)을 남겨지게 하고 홈의 바닥 위의 질화막(8a)온 남겨지게 하고 홈의 바닥 위의 질화막(8a) 만을 식각한 후, 상기 함몰층(5) 위의 제2산화막(7)을 제거하여 창(11)을 열어 주는 공정과; 선택적 화학 증착법에 의해 홈 부분에만 제3산화막(10)의 표면보다 더 높은 표면을 갖도록 n-형의 실리콘 에피층(12)을 선택적으로 성장시킨 후, 상기 실리콘 에피층(12) 부분을 연마하는 것에 의해 제3산화막(10)의 표면과 실리콘 에피층(12)의 표면이 동일한 평면을 이루도록 하는 공정과; 상기 실리콘 에피층(12)의 측벽 일부(13)가 노출된 수 있도록 상기 제3산화막(10)의 표면을 식각한 후, 웨이퍼의 전 표면 위에 제2의 질화막을 소정의 두께로 형성하고, 비등방적 반응성 이온 식각법에 의해 실리콘 에피층(12)의 측벽(13) 위에 측벽 질화막(14)을 형성하는 공정과; 열산화에 의해 상기 실리콘 에피층(12)의 표면 위에 소정의 두께로 제4의 산화막(15)을 형성함과 동시에 상기 다결정 실리콘층(3) 위에도 상기 제3산화막(10)을 보다 두껍게 성장시킨 후, 상기 측벽 질화막(14)을 제거하여, 상기 에피층(12)의 측벽(13)을 노출시키고, 외인성 베이스 영역의 형성을 위해 웨이퍼의 전 표면 위에 상기 제4산화막(15)이 완전히 덮일 수 있는 두께로 불순물이 도핑된 다결정실리콘층(16a)을 형성한 후 연마하여 평탄화시키는 공정과; 실리콘 에피층(12) 위의 상기 제4산화막(15)을 완전히 제거하고, 상기 다결정실리콘층(16a)을 식각하여 외인성 베이스 영역(16)을 정의한 후 열산화에 의해 상기 실리콘 에피층(12)의 표면 위와 불순물이 도핑된 다결정 실리콘층으로 이루어지는 상기 외인성 에이스 영역(16)의 표면 위에 제5의 산화막(17,18)을 각각 형성하는 공정과; 진성 베이스 영역을 형성하기 위해 상기 산화막(17)을 통해서 상기 실리콘 에피층(12)의 상부 표면 부분으로 붕소(B)를 이온주입(19)하고, 웨이퍼의 전 표면 위에 베이스 영역과 에미터 영역을 상호전기적으로 격리하기 위해 제6의 산화막을 형성한 후 비등방적 반응성 이온 식각에 의해 상기 산화막(18)의 양쪽 측벽 윗부분의 상기 제6산화막을 남기고 나머지 부분의 상기 제6산화막을 식각하여 측벽 산화막(21)을 형성하고, 상기 진성 베이스 영역(20) 위의 산화막(17) 중 측벽 산화막(21) 이외의 부분의 산화막(17)을 제거하여 상기 진성 베이스 영역(20)을 노출시키는 공정과; 웨이퍼의 전 표면 위에 불순물이 주입된 다결정 실리콘층으로 이루어지는 에미터(22)를 형성하고, 웨이퍼의 전체 표면 위에 제7의 산화막(23)을 형성한 후, 열처리에 의해 소자 내의 각 접합을 형성함과 아울러 상기 외인성 베이스 영역(16)과 상기 진성 베이스 영역(20)을 상호 전기적으로 연결하는 공정과; 상기 제7산화막(23)을 식각하는 것에 의해 접속 구멍들을 형성하고, 합금화(alloying)를 위한 열처리를 수행함으로써 콜렉터전극(25)과 베이스 전극(26), 에미터 전극(27)을 형성하는 것을 특징으로 하는 자기 정렬 구조 쌍극자 트랜지스터 장치의 제조 방법

2 2

제1항에 었어서, 상기 측벽(6)을 형성하는 공정은 웨이퍼의 전 표면 위에 화학증착법으로 제2의 다결정 실리콘층을 비등방적으로 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 자기 정렬 구조 쌍극자 트랜지스터 장치의 제조 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.