맞춤기술찾기

이전대상기술

시시디 카메라를 이용한 치수측정 방법

  • 기술번호 : KST2015104427
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 시시디 카메라를 이용하여 측정 대상물의 치수를 측정하는 방법에 있어서, 상기 시시디 카메라로부터 측정 대상물의 아날로그 영상 신호를 프레임별로 분할하고 디지털 신호로 변환하고, 상기 디지털 영상 신호를 에지 검출 방식으로 신호 처리하여 두 에지 부근에 위치한 설정 개수의 화소를 구한다. 그런 다음, 하나의 에지 부근에서 구해진 화소들의 위치와 화소값들을 이용하여 설정 변수값을 산출하고, 최소 자승법을 이용하여 설정 변수로 이루어진 다수의 연립 방정식을 도출하고, 도출한 연립 방정식을 이용하여 화소값의 피크치에 대한 2차 함수를 산출한 후, 상기 2차 함수를 미분하여 미분한 결과로부터 피크치를 구한다. 그리고, 다른 하나의 에지 부근에서 구해진 화소들을 대상으로 상기 방법으로 다른 하나의 피크치를 구한 다음, 상기 두 피크치의 차이에 화소 하나당 거리를 곱하여 치수를 측정한다.치수, CCD 카메라, 화소, 2차 함수
Int. CL G01B 11/04 (2006.01)
CPC G01B 11/022(2013.01) G01B 11/022(2013.01) G01B 11/022(2013.01) G01B 11/022(2013.01)
출원번호/일자 1020010083566 (2001.12.22)
출원인 재단법인 포항산업과학연구원, 주식회사 포스코
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2003-0053386 (2003.06.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.12.18)
심사청구항수 2

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 재단법인 포항산업과학연구원 대한민국 경북 포항시 남구
2 주식회사 포스코 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 위현곤 대한민국 경상북도포항시남구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 전영일 대한민국 광주 북구 첨단과기로***번길**, ***호(오룡동)(특허법인세아 (광주분사무소))

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2001.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2001-0342317-16
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2002-0027128-10
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2002-0043593-03
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2002-0043602-26
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.13 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065864-86
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.06.15 수리 (Accepted) 4-1-2004-0025494-38
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.03.04 수리 (Accepted) 4-1-2005-5020373-24
8 출원심사청구서
Request for Examination
2006.12.18 수리 (Accepted) 1-1-2006-0934507-42
9 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.06.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
10 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.07.12 수리 (Accepted) 9-1-2007-0041857-04
11 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.02.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0114486-86
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.03.25 수리 (Accepted) 1-1-2008-0215193-58
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.03.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0215192-13
14 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.07.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0388709-76
15 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2008.10.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0525782-14
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-0019112-38
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.09.28 수리 (Accepted) 4-1-2016-5138263-79
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.04.30 수리 (Accepted) 4-1-2018-5077322-80
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5200802-82
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.30 수리 (Accepted) 4-1-2019-5204006-48
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5211042-46
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

시시디 카메라를 이용하여 측정 대상물의 치수를 측정하는 방법에 있어서,

상기 시시디 카메라로부터 측정 대상물의 아날로그 영상 신호를 프레임별로 분할하고 디지털 신호로 변환시키는 제1 단계;

상기 디지털 영상 신호를 에지 검출 방식으로 신호 처리하여 두 에지 부근에 위치한 설정 개수의 화소를 구하는 제2 단계;

하나의 에지 부근에서 구해진 화소들의 위치와 화소값들을 이용하여 설정 변수값을 산출하는 제3 단계;

최소 자승법을 이용하여 설정 변수로 이루어진 다수의 연립 방정식을 도출하고, 도출한 연립 방정식을 이용하여 화소값의 피크치에 대한 2차 함수를 산출하는 제4 단계;

상기 2차 함수를 미분하고 미분한 결과로부터 피크치를 구하는 제5 단계;

다른 하나의 에지 부근에서 구해진 화소들을 대상으로 상기 제4 내지 제5 단계를 수행하여 다른 하나의 피크치를 구하는 제6 단계; 및

상기 두 피크치의 차이에 화소 하나당 거리를 곱하여 치수를 측정하는 제7 단계를 포함하는 시시디 카메라를 이용한 치수측정 방법

2 2

제1항에 있어서,

상기 설정 변수값은 ΣXi, ΣXi2, ΣXi3, ΣXi4, ΣYi, ΣXiYi와 ΣXi2Yi(여기서, Xi는 화소위치, Yi는 화소값)인 것을 특징으로 하는 시시디 카메라를 이용한 치수측정 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.