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레이저를 이용한 고온 측정 대상물의 초음파 측정장치 및방법

  • 기술번호 : KST2015105252
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 측정 대상물에 비접촉식으로 초음파를 발생시키고 발생된 초음파의 세기를 레이저를 이용하여 측정 대상물의 결정 입경 등을 측정할 수 있는 레이저를 이용한 고온 측정 대상물의 초음파 측정장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명은 측정 대상물(30)의 표면에 펄스 빔 일부를 조사하여 초음파를 발생시키고, 펄스 빔의 다른 일부를 초음파 검지부위에 조사하여 스케일을 제거하는 펄스형 레이저(10); 상기 초음파에 의하여 국부적으로 변형된 측정 대상물(30)의 표면에서 광선이 반사되도록 초음파 검지부위에 연속적으로 광선을 조사하는 단일모드 레이저(60); 상기 반사된 광선을 간섭시키는 패브리-페로 간섭계(100); 상기 간섭된 광선으로부터 초음파 신호를 검지하는 광검지기(140); 및 상기 검지된 초음파 신호에 따라 측정 대상물(30)의 결정 입경 등을 계산하는 신호처리장치(150)를 포함하여 구성된 측정장치와 이를 이용한 측정방법으로 구성되어, 고온의 측정 대상물에 대해서도 초음파 세기의 측정 감도를 향상시킬 수 있게 된다. 펄스형 레이저, 초음파, 스케일, 연속파 레이저
Int. CL G01N 29/44 (2006.01) G01N 21/45 (2006.01)
CPC G01N 29/4427(2013.01) G01N 29/4427(2013.01) G01N 29/4427(2013.01) G01N 29/4427(2013.01)
출원번호/일자 1020040109358 (2004.12.21)
출원인 재단법인 포항산업과학연구원
등록번호/일자 10-0733539-0000 (2007.06.22)
공개번호/일자 10-2006-0070757 (2006.06.26) 문서열기
공고번호/일자 (20070628) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.12.21)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 포항산업과학연구원 대한민국 경북 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김달우 대한민국 경상북도 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인맥 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로 ***, *층 (양재동, 화승빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 포항산업과학연구원 대한민국 경북 포항시 남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2004-0602529-24
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.03.04 수리 (Accepted) 4-1-2005-5020373-24
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0314191-89
4 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.07.28 수리 (Accepted) 1-1-2006-0546824-65
5 의견서
Written Opinion
2006.08.23 수리 (Accepted) 1-1-2006-0600914-22
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2007.01.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0041373-01
7 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2007.02.12 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2007-0005779-38
8 등록결정서
Decision to grant
2007.03.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0152418-37
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-0019112-38
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.09.28 수리 (Accepted) 4-1-2016-5138263-79
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5211042-46
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번호 청구항
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레이저에 의하여 측정 대상물에 발생되는 초음파의 세기로부터 측정 대상물을 비접촉식으로 측정할 수 있는 장치에 있어서,측정 대상물(30)의 표면에 펄스 빔 일부를 조사하여 초음파를 발생시키고, 펄스 빔의 다른 일부를 초음파 검지부위에 조사하여 스케일을 제거하는 펄스형 레이저(10);상기 초음파에 의하여 국부적으로 변형된 측정 대상물(30)의 표면에서 광선이 반사되도록 초음파 검지부위에 연속적으로 광선을 조사하는 단일모드 레이저(60);상기 반사된 광선을 간섭시키는 패브리-페로 간섭계(100);상기 간섭된 광선으로부터 초음파 신호를 검지하는 광검지기(140); 및상기 검지된 초음파 신호에 따라 측정 대상물(30)의 결정 입경 등을 계산하는 신호처리장치(150)를 포함하여 구성되고,상기 펄스형 레이저(10)에 의하여 발진되는 펄스 빔의 일부는 측정 대상물(30)의 표면에 조사되고, 펄스 빔의 다른 일부는 측정 대상물(30)의 배면에 조사되며,상기 펄스형 레이저(10)는, 발진되는 펄스 빔의 일부가 빛살가르개(20)에서 반사되어 측정 대상물(30)의 표면에 조사되고, 펄스 빔의 다른 일부는 2개의 거울(40, 50)을 통하여 측정 대상물(30)의 배면에 조사되도록 구성됨을 특징으로 하는 레이저를 이용한 고온 측정 대상물의 초음파 측정장치
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레이저에 의하여 측정 대상물에 발생되는 초음파의 세기로부터 측정 대상물을 비접촉식으로 측정하는 방법에 있어서, 측정 대상물(30)의 표면에 펄스 빔 일부를 조사하여 초음파를 발생시키고, 펄스 빔의 다른 일부를 초음파 검지부위에 조사하여 스케일을 제거하는 펄스형 레이저 조사단계; 상기 초음파 검지부위에 연속파 레이저를 조사하여 측정 대상물(30)에 발생된 초음파에 의하여 국부적으로 변형된 측정 대상물(30)의 표면에서 광선을 반사시키는 연속파 레이저 조사단계; 상기 초음파 검지부위에서 반사된 광선을 간섭시키는 간섭단계 상기 간섭된 광선으로부터 초음파 신호를 검지하는 검지단계; 상기 검지된 초음파 신호로부터 측정 대상물(30)의 결정 입경 등을 계산하는 신호처리단계 를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 레이저를 이용한 고온 측정 대상물의 초음파 측정방법
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레이저에 의하여 측정 대상물에 발생되는 초음파의 세기로부터 측정 대상물을 비접촉식으로 측정하는 방법에 있어서, 측정 대상물(30)의 표면에 펄스 빔 일부를 조사하여 초음파를 발생시키고, 펄스 빔의 다른 일부를 초음파 검지부위에 조사하여 스케일을 제거하는 펄스형 레이저 조사단계; 상기 초음파 검지부위에 연속파 레이저를 조사하여 측정 대상물(30)에 발생된 초음파에 의하여 국부적으로 변형된 측정 대상물(30)의 표면에서 광선을 반사시키는 연속파 레이저 조사단계; 상기 초음파 검지부위에서 반사된 광선을 간섭시키는 간섭단계 상기 간섭된 광선으로부터 초음파 신호를 검지하는 검지단계; 상기 검지된 초음파 신호로부터 측정 대상물(30)의 결정 입경 등을 계산하는 신호처리단계 를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 레이저를 이용한 고온 측정 대상물의 초음파 측정방법
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