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접촉 매질 공급기를 구비한 비파괴 검사 장치

  • 기술번호 : KST2015107210
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 접촉 매질 공급기를 구비한 비파괴 검사 장치가 개시된다. 본 발명은 검사 대상체 표면에 대향하여 설치되는 초음파 탐촉기, 및 초음파 탐촉기의 둘레에 고정 설치되며, 검사 대상체 표면에 접촉 매질을 공급하는 접촉 매질 공급기를 구비한다. 본 발명에 따르면, 검사 대상과 조건에 따라 일정한 접촉 매질의 공급이 가능하여 검사의 편의성을 향상시킬 수 있으며 과다한 접촉 매질의 사용을 방지할 수 있고, 접촉 매질의 연속적인 공급을 통해 비파괴 검사 작업의 연속성을 구현할 수 있는 비파괴 검사 장치가 제공된다.
Int. CL G01N 29/24 (2006.01) G01N 29/04 (2006.01) G01N 29/265 (2006.01)
CPC G01N 29/265(2013.01) G01N 29/265(2013.01) G01N 29/265(2013.01) G01N 29/265(2013.01) G01N 29/265(2013.01)
출원번호/일자 1020100134070 (2010.12.23)
출원인 재단법인 포항산업과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0072233 (2012.07.03) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.23)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 포항산업과학연구원 대한민국 경북 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송원준 대한민국 경상북도 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인맥 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로 ***, *층 (양재동, 화승빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0854214-43
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.01.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.02.15 수리 (Accepted) 9-1-2012-0008532-14
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0418588-14
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.09.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-0762173-58
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.09.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0762174-04
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.11.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0711796-44
8 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2012.12.24 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2012-1069518-18
9 보정요구서
Request for Amendment
2012.12.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0153367-84
10 [출원서등 보정]보정서(납부자번호)
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment(Payer number)
2013.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2012-1087609-97
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2013.01.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0016166-77
12 [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Extension of Legal Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)
2013.02.12 무효 (Invalidation) 7-1-2013-0005303-27
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-0019112-38
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.09.28 수리 (Accepted) 4-1-2016-5138263-79
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5211042-46
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
검사 대상체(300) 표면에 대향하여 설치되는 초음파 탐촉기(100); 및상기 초음파 탐촉기(100)의 둘레에 고정 설치되며, 상기 검사 대상체(300) 표면에 접촉 매질을 공급하는 접촉 매질 공급기(200)를 포함하는 비파괴 검사 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 접촉 매질 공급기(200)는,상기 초음파 탐촉기(100)가 내부에 고정설치되는 내벽체(210), 및 상기 내벽체(210)의 둘레에 설치되어 상기 내벽체(210)와 함께 접촉 매질이 저장되는 저장공간을 형성하는 외벽체(230)를 포함하는 비파괴 검사 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 초음파 탐촉기(100) 및 상기 접촉 매질 공급기(200)를 상기 검사 대상체(300) 표면에서 이동가능토록 하는 이동부(250)를 더 포함하는 비파괴 검사 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 접촉 매질 공급기(200)의 하부에는 복수개의 배출홀(245)이 형성되어 있는 것인 비파괴 검사 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 접촉 매질 공급기(200)의 상부에는 접촉 매질 주입구(220)가 형성되어 있는 것인 비파괴 검사 장치
6 6
제2항에 있어서,상기 초음파 탐촉기(100)와 상기 검사 대상체(300) 표면 사이의 거리가 조절가능한 것인 비파괴 검사 장치
7 7
제4항에 있어서,상기 접촉 매질 공급기(200)의 하부에는 형성된 배출홀(245)은 그 직경이 가변적인 것인 비파괴 검사 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.