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슬래그를 이용한 다이옥신 분석방법

  • 기술번호 : KST2015110189
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 슬래그를 이용한 다이옥신 분석방법에 관한 것으로, 시료내의 다이옥신을 분석하는 과정에 있어서, 간섭물질을 제거하는 전처리과정에 사용되는 흡착제를 슬래그로 사용하는 것을 특징으로 하는 슬래그 흡착제를 제공한다. 또한 본 발명은 상기 슬래그 흡착제를 이용한 다이옥신 분석방법을 제공한다. 본 발명의 슬래그를 이용한 다이옥신 분석방법은 기존 공정방법의 3단계에서 2단계로 축소하여 분석시간을 단축하였고, 고가의 흡착제 대신에 폐기물로 간주되는 슬래그를 활용함으로써 분석비용을 줄일 수 있다. 다이옥신, 슬래그, 흡착제, 전처리
Int. CL B01D 53/04 (2006.01)
CPC B01D 53/30(2013.01) B01D 53/30(2013.01) B01D 53/30(2013.01) B01D 53/30(2013.01) B01D 53/30(2013.01)
출원번호/일자 1020000080387 (2000.12.22)
출원인 재단법인 포항산업과학연구원
등록번호/일자 10-0477934-0000 (2005.03.10)
공개번호/일자 10-2002-0051376 (2002.06.29) 문서열기
공고번호/일자 (20050318) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2002.03.15)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 포항산업과학연구원 대한민국 경북 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김병억 대한민국 경상북도포항시북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 송만호 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)
2 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 포항산업과학연구원 대한민국 경북 포항시 남구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2000.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2000-0276404-74
2 출원심사청구서
Request for Examination		 2002.03.15 수리 (Accepted) 1-1-2002-0075954-28
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.13 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065864-86
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2003.10.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2003.11.17 수리 (Accepted) 9-1-2003-0053974-14
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2004.06.15 수리 (Accepted) 4-1-2004-0025494-38
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2004.07.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0306657-41
8 의견서
Written Opinion		 2004.09.06 수리 (Accepted) 1-1-2004-0402396-13
9 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2004.09.06 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2004-0402397-58
10 등록결정서
Decision to grant		 2005.02.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0095072-93
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2005.03.04 수리 (Accepted) 4-1-2005-5020373-24
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-0019112-38
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.09.28 수리 (Accepted) 4-1-2016-5138263-79
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5211042-46
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시료내의 다이옥신을 분석하는 과정에 있어서, 간섭물질을 제거하는 전처리과정에 사용되는 흡착제를 슬래그로 사용하는 것을 특징으로 하는 슬래그 흡착제
2 2
제 1항에 있어서, 상기 슬래그는 제철공정의 제선공장에서 생성되는 부산물인 것을 특징으로 하는 슬래그 흡착제
3 3
제 1항에 있어서, 상기 슬래그는 세척하고, 200 ℃에서 건조하여 550 내지 650 ℃에서 활성화시키는 것을 특징으로 하는 슬래그 흡착제
4 4
(a) 다이옥신이 함유된 추출액을 농축하고, 활성화된 슬래그가 충진된 컬럼에 주입하여 n-헥산으로 다이옥신을 용리시키는 단계; (b) 상기 (a) 단계에서 용리된 n-헥산층을 농축하고, 염기성 알루미나가 충진된 컬럼에서 n-헥산, 디클로로메탄 : n-헥산(2 : 98, 부피비), 디클로로메탄 : n-헥산(50 : 50, 부피비)의 순서로 용리시키는 단계; 및 (c) (b) 단계의 마지막으로 용리된 디클로로메탄 : n-헥산(50 : 50, 부피비)을 농축하는 단계를 포함하는 슬래그 흡착제를 이용한 다이옥신 분석 전처리 방법
5 5
상기 제 4항에 있어서, 상기 (a) 단계이전에 슬래그를 세척하고, 200 ℃에서 건조하여 550 내지 650 ℃에서 활성화시키는 단계를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하는 슬래그 흡착제를 이용한 다이옥신 분석방법
6 5
상기 제 4항에 있어서, 상기 (a) 단계이전에 슬래그를 세척하고, 200 ℃에서 건조하여 550 내지 650 ℃에서 활성화시키는 단계를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하는 슬래그 흡착제를 이용한 다이옥신 분석방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.