요약 | 본 발명은 광전자 분광분석법을 이용하여 냉연강판 위에 전기도금법으로 표면처리하여 CrOx/Cr박막을 입힌 TFS(Tin Free Steel)의 CrOx극박피막층의 Cr상태별 평균적인 존재비를 비파괴적으로 측정하는데 제공된다. 본 발명은 CrOx층으로부터 방출된 Cr3+-O, Cr3+-OH/H2O, Cr6+상태의 피크들과 Cr층으로부터 방출된 Cr금속상태의 피크의 결합에너지 위치가 CrOx 및 Cr층 각각에 양의 정전기적 대전현상이 발생 시편종류에 따라 임의로 변하므로, 이들 결합에너지의 위치를 측정된 Cls, Cr2p3/2 스펙트럼으로부터 올바르게 결정함으로써 화학적인 의미에 맞게 Cr2p3/2 피크를 상태별로 분리합성하여 CrOx층의 Cr상태별 존재비의 측정에 이용함을 그 기술적 요지로 한다. |
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Int. CL | G01N 21/25 (2006.01) |
CPC | G01N 21/27(2013.01) G01N 21/27(2013.01) G01N 21/27(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019970070160 (1997.12.17) |
출원인 | 주식회사 포스코, 재단법인 포항산업과학연구원 |
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우선권정보 | |
법적상태 | 취하 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
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심사청구여부/일자 | N |
심사청구항수 | 0 |