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백색광 분광 특성을 이용한 위상 물체의 3차원 굴절률 분포 측정 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015112744
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 위상 물체의 3차원 굴절률 분포를 측정할 수 있는 장치 및 그 측정방법에 대한 것으로, 보다 상세하게는 백색광과 회절격자, 분광결상소자를 사용하는 방법으로 위상물체의 3차원 굴절률을 정밀하게 측정하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따른 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정장치는 입사광(24a)과 기준광(24b)을 방출하는 광원부(2)와; 광원부(2)에서 방출된 입사광(24a)을 여러 차수의 빛으로 회절시키는 제1 회절격자부(3)와; 제1 회절격자부(3)를 통과한 회절된 빛에 대한 위상지연을 발생시키는 시편부(4)와; 시편부(4)로부터 발생하여 분산되어 있던 각 파장별 빛을 집속시키는 제2 회절격자부(5)와; 제2 회절격자부(5)로부터 집속된 집속광(53)과 상기 기준광(24b)을 합치시켜 백색광을 다시 생성하여 특정파장의 측정광(63)을 출사시키는 분광부(6)와; 측정광(63) 중에서 특정 파장에 대한 간섭신호를 검출하는 검출부(7)와; 검출부(7)에서 검출된 간섭신호를 데이터로 저장하고, 제1 회절격자부(3), 시편부(4) 및 분광부(6)를 제어하는 신호처리 및 제어부(8);로 구성되어 있다.위상 물체, 백색광, 굴절률
Int. CL G01J 3/18 (2006.01) G01J 3/02 (2006.01)
CPC G01J 3/027(2013.01) G01J 3/027(2013.01) G01J 3/027(2013.01)
출원번호/일자 1020070050795 (2007.05.25)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-0865870-0000 (2008.10.23)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20081029) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.05.25)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오세백 대한민국 대전 서구
2 유장우 대한민국 대전 유성구
3 류성윤 대한민국 대전 유성구
4 이광천 대한민국 대전 유성구
5 이형철 대한민국 인천 남구
6 김수현 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.05.25 수리 (Accepted) 1-1-2007-0382766-47
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.03.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.03.21 수리 (Accepted) 9-1-2008-0018206-07
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.04.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0234767-92
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.05.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0385726-81
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2008-0385727-26
7 등록결정서
Decision to grant
2008.08.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0450105-09
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
입사광(24a)과 기준광(24b)을 방출하는 광원부(2)와; 상기 광원부(2)에서 방출된 입사광(24a)을 여러 차수의 빛으로 회절시키는 제1 회절격자부(3)와; 상기 제1 회절격자부(3)를 통과한 회절된 빛에 대한 위상지연을 발생시키는 시편부(4)와; 상기 시편부(4)로부터 발생하여 분산되어 있던 각 파장별 빛을 집속시키는 제2 회절격자부(5)와; 상기 제2 회절격자부(5)로부터 집속된 집속광(53)과 상기 기준광(24b)을 합치시켜 백색광을 다시 생성하여 특정파장의 측정광(63)을 출사시키는 분광부(6)와; 상기 측정광(63) 중에서 특정 파장에 대한 간섭신호를 검출하는 검출부(7)와;상기 검출부(7)에서 검출된 간섭신호를 데이터로 저장하고,상기 제1 회절격자부(3), 상기 시편부(4)및 상기 분광부(6)를 제어하는 신호처리 및 제어부(8);로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 제1 회절격자부(3)는 백색광을 여러 차수의 빛으로 회절시키기 위한 제1 회절격자(31)와, 회절된 빛을 평행광상태로 일정한 분산각을 가지고 시편(41)에 입사하도록 하기 위한 렌즈부(32)를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상 물체의 3차원 굴절률 분포 측정장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 제1 회절격자부(3)내의 렌즈부(32)는 두 렌즈(32a,32b)의 초점거리만큼 떨어져 있는 것을 특징으로 하는 위상 물체의 3차원 굴절률 분포 측정장치
4 4
제 1항에 있어서,상기 시편부(4)는 측정시편(41)과 상기 시편(41)과 비슷한 굴절률을 가지는 굴절률 정합용액(42)을 포함하고 시편 장착부(43)에 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정장치
5 5
제 4항에 있어서,상기 시편 장착부(43)는 시편 회전 구동부(44)를 포함하고 있어서, 시편을 임의의 원하는 각으로 회전시킬 수 있도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정장치
6 6
제 1항에 있어서,상기 제2 회절격자부(5)는 전단부에 렌즈부(52)가 위치하고, 상기 렌즈부(52)의 후단부에 제2 회절격자(51)를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상 물체의 3차원 굴절률 분포 측정장치
7 7
제 2항 또는 제 6항에 있어서, 상기 제1, 2 회절격자부(3,5)는 서로 공액인 관계를 이루고 있어서 제2 회절격자부(5)에서 방출되는 빛이 백색광이 되는 것을 특징으로 하는 위상 물체의 3차원 굴절률 분포 측정장치
8 8
위상물체(4)의 3차원 굴절률을 측정하는 광학장치에 있어서,(a) 상기 광원부(2)에서 방출된 빛을 입사광(24a)와 기준광(24b)로 분리하는 단계(S10)와,(b) 상기 입사광(24a)을 제1 회절격자부(3)에서 파장에 따라 분광시키는 단계(S20)와,(c) 파장에 따라 분광된 빛이 시편부(4)를 통과하면서 위상 지연을 갖고 있는 상태로 제2 회절격자부(5)로 입사되어 백색광으로 집속되는 단계(S30)와,(d) 상기 집속된 백색광 중 분광부(6)에서 기준광(24b)와 합친 후 특정파장의 대역을 갖는 빛만 검출부(7)로 방출시키는 단계(S40)와,(e) 상기 특정 파장의 대역을 갖는 빛에 대한 간섭 신호를 측정데이터(71)로 저장하는 단계(S50)및(f) 상기 특정 파장의 대역을 갖는 빛의 간섭신호에 대한 측정이 완료되면, 분광부(6)에 분광조절신호(83)를 방출하는 단계(S60)를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정방법
9 9
제 8항에 있어서,상기 (f)단계에서, 상기 분광부(6)에 방출되는 분광조절신호(83)는 특정 주파수의 간섭 투영정보만이 입력되도록 하는 것을 특징으로 하는 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정방법
10 10
제 8항에 있어서, 상기 (c)단계에서, 분광된 빛이 입사되기 전에 시편부(4)에 시편(41)회절각 조절신호(82)를 방출하여 시편 회절각을 조절하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정방법
11 11
제 8항에 있어서, 상기 (b)단계에서, 입사광(24a)이 입사하기 전에 회절각도 조절신호(81)를 방출하여 회절각도를 조절하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정방법
12 12
제 11항에 있어서, 회절각도 조절신호(81)는 백색광의 1차 회절 성분을 사용할 것인지, 회절되지 않은 0차의 빛을 사용할 것인지에 따라 제1 회절격자부(3)의 제1 회절격자(31)의 각도를 조절하는 것을 특징으로 하는 위상물체의 3차원 굴절률 분포 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.