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고주파 회로 시험용 기판 구조

  • 기술번호 : KST2015114878
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고주파 아날로그 회로 실험에 사용되는 적합한 시험용 기판에 관한 것으로써, 사용자가 별도의 접지면을 제작하여 사용하지 않아도 속도가 빠른 디지털 회로나 높은 주파수의 디지털/아날로그 회로를 실험할 수 있도록 하는 고주파 및 아날로그 회로 시험용 기판을 제공하는 데 그 목적이 있다.이러한 본 발명에 따른 고주파 회로 시험용 기판은, 부품의 단자가 삽입되는 다수의 스루홀이 형성되고, 상기 다수의 스루홀 주변에 동박이 입혀진 시험용 기판에 있어서, 상기 시험용 기판의 일 면은 상기 다수의 동박의 일부분 또는 전부가 전기적으로 연결된다.시험용 기판, 만능기판, 스루홀, 동박, 인쇄회로기판
Int. CL H01R 11/01 (2006.01)
CPC H05K 1/116(2013.01) H05K 1/116(2013.01)
출원번호/일자 1019990001524 (1999.01.19)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2000-0051219 (2000.08.16) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1999.01.19)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김진중 대한민국 대전광역시서구
2 민승현 대한민국 대전광역시유성구
3 성단근 대한민국 대전광역시유성구
4 최순달 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 전영일 대한민국 광주 북구 첨단과기로***번길**, ***호(오룡동)(특허법인세아 (광주분사무소))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원서
Patent Application
1999.01.19 수리 (Accepted) 1-1-1999-0003252-68
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.02.01 수리 (Accepted) 4-1-1999-0025779-69
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.06.21 수리 (Accepted) 4-1-1999-0085486-82
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2000.12.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0330225-01
5 거절사정서
Decision to Refuse a Patent
2001.03.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2001-0063675-71
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2004-0001933-29
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.03.19 수리 (Accepted) 4-1-2004-0012166-74
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

부품의 단자가 삽입되는 다수의 스루홀이 형성되고, 상기 다수의 스루홀 주변에 동박이 입혀진 시험용 기판에 있어서,

상기 시험용 기판의 일 면은 상기 다수의 동박의 일부분 또는 전부가 전기적으로 연결된 것을 특징으로 하는 고주파 회로 시험용 기판 구조

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.