요약 | 실시 예는 제1 반도체층, 제2 반도체층, 및 상기 제1 반도체층과 상기 제2 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함하며, 상기 활성층은 InxAlyGa1-x-yN(0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가지며, 적어도 1회 이상 교대로 적층되는 우물층 및 장벽층을 포함하며, 상기 활성층은 제1 두께를 갖고, 상기 우물층은 제2 두께를 가지며, 상기 장벽층은 상기 제2 두께보다 얇거나 동일한 제3 두께를 갖는다. |
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Int. CL | H01L 33/06 (2010.01.01) H01L 33/28 (2010.01.01) H01L 33/30 (2010.01.01) |
CPC | H01L 33/06(2013.01) H01L 33/06(2013.01) H01L 33/06(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020130064491 (2013.06.05) |
출원인 | 엘지이노텍 주식회사, 한국과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-2080774-0000 (2020.02.18) |
공개번호/일자 | 10-2014-0142849 (2014.12.15) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20200224) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2018.05.30) |
심사청구항수 | 2 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 엘지이노텍 주식회사 | 대한민국 | 서울특별시 강서구 |
2 | 한국과학기술원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 조용훈 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
2 | 유양석 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 박영복 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층(역삼동, 삼화빌딩)(특허법인 두성) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 엘지이노텍 주식회사 | 서울특별시 강서구 | |
2 | 한국과학기술원 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2013.06.05 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0500651-38 |
2 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.10.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-0093826-77 |
3 | [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서 [Resignation of Agent] Report on Agent (Representative) |
2014.12.15 | 수리 (Accepted) | 1-1-2014-1214061-93 |
4 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2017.03.08 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5035901-08 |
8 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2018.05.30 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2018-0531602-11 |
9 | [심사청구]심사청구(우선심사신청)서 [Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination) |
2018.05.30 | 수리 (Accepted) | 1-1-2018-0531603-56 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2018.07.18 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5136723-03 |
11 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2019.04.02 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2019-0240609-63 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
13 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2019.05.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2019-0551501-01 |
14 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2019.05.29 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2019-0551500-55 |
15 | 최후의견제출통지서 Notification of reason for final refusal |
2019.10.01 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2019-0707237-57 |
16 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2019.11.29 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2019-1234169-66 |
17 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2019.11.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2019-1234170-13 |
18 | 등록결정서 Decision to grant |
2020.01.02 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2020-0005821-59 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.01.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5011221-01 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
21 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 제1 반도체층;제2 반도체층; 및상기 제1 반도체층과 상기 제2 반도체층 사이에 배치되고, 55nm의 두께를 갖는 활성층을 포함하며,상기 활성층은,InxAlyGa1-x-yN(0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가지며, 적어도 1회 이상 교대로 적층되는 우물층 및 장벽층을 포함하며,상기 우물층은 복수의 단일 우물층들을 포함하고,상기 복수의 단일 우물층들 각각의 두께는 4nm 내지 5nm 이고, 상기 장벽층은 복수의 단일 장벽층들을 포함하고,상기 복수의 단일 장벽층들 각각의 두께는 2 |
2 |
2 삭제 |
3 |
3 삭제 |
4 |
4 삭제 |
5 |
5 삭제 |
6 |
6 삭제 |
7 |
7 제1항에 있어서,상기 복수의 단일 우물층들 각각의 두께는 서로 다르고,상기 복수의 단일 장벽층들 각각의 두께는 서로 다르고,상기 우물층 및 상기 장벽층 각각에 포함되는 인듐(In) 또는 알루미늄(Al)의 조성은 증가하거나 또는 감소하는 발광 소자 |
8 |
8 삭제 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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국가 R&D 정보가 없습니다. |
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특허 등록번호 | 10-2080774-0000 |
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표시번호 | 사항 |
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1 |
출원 연월일 : 20130605 출원 번호 : 1020130064491 공고 연월일 : 20200224 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20200102 청구범위의 항수 : 2 유별 : H01L 33/04 발명의 명칭 : 발광 소자 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 엘지이노텍 주식회사 서울특별시 강서구... |
1 |
(권리자) 한국과학기술원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 113,000 원 | 2020년 02월 19일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2013.06.05 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0500651-38 |
2 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.10.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-0093826-77 |
3 | [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서 | 2014.12.15 | 수리 (Accepted) | 1-1-2014-1214061-93 |
4 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2017.03.08 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5035901-08 |
8 | [명세서등 보정]보정서 | 2018.05.30 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2018-0531602-11 |
9 | [심사청구]심사청구(우선심사신청)서 | 2018.05.30 | 수리 (Accepted) | 1-1-2018-0531603-56 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2018.07.18 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5136723-03 |
11 | 의견제출통지서 | 2019.04.02 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2019-0240609-63 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
13 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2019.05.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2019-0551501-01 |
14 | [명세서등 보정]보정서 | 2019.05.29 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2019-0551500-55 |
15 | 최후의견제출통지서 | 2019.10.01 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2019-0707237-57 |
16 | [명세서등 보정]보정서 | 2019.11.29 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2019-1234169-66 |
17 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2019.11.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2019-1234170-13 |
18 | 등록결정서 | 2020.01.02 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2020-0005821-59 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.01.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5011221-01 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
21 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1415131626 |
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세부과제번호 | 10041878 |
연구과제명 | 전력변환효율 75%급 LED 광소자 공정 및 표준 분석 기술개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201206~201505 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1711005593 |
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세부과제번호 | KINC01 |
연구과제명 | 그래핀 합성, 물성제어 및 응용 소자 원천기술 연구 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201201~201612 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1711005615 |
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세부과제번호 | N01130026 |
연구과제명 | InGaN 나노구조를 이용한 고효율 무형광체 백색 발광다이오드 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201201~201312 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 9991000957 |
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세부과제번호 | 2013R1A1A2011750 |
연구과제명 | 밴드갭이 넓은 반도체 물질을 이용한 상온 폴라리톤 응축 현상 구현 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201306~201605 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
[1020130153600] | 발광 다이오드 | 새창보기 |
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[1020130149894] | 화합물 반도체 및 이의 제조 방법 | 새창보기 |
[1020130139954] | 발광다이오드 제조방법 및 이를 통해 제조된 발광다이오드 | 새창보기 |
[1020130138791] | 3족 질화물 반도체 발광소자 | 새창보기 |
[1020130137848] | 양자광 소자 및 이의 제조방법 | 새창보기 |
[1020130127275] | 고품질 그래핀 양자점 및 이의 제조방법 | 새창보기 |
[1020130124298] | 열전도 강화층을 포함하는 발광다이오드 및 이의 제조방법 | 새창보기 |
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[1020130117150] | 발광 다이오드 | 새창보기 |
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[1020130103267] | 저항형 메모리 장치 및 그 형성 방법 | 새창보기 |
[1020130101520] | 박편화된 몰리브덴 칼코게나이드 및 이의 제조방법 | 새창보기 |
[1020130096902] | 은 나노와이어 제조방법 | 새창보기 |
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심판사항 정보가 없습니다 |
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