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커패시턴스를 조절하는 공명 터널링 다이오드, 이의 제조 방법, 및 이를 포함하는 시스템

  • 기술번호 : KST2015116672
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 커패시턴스를 조절하는 공명 터널링 다이오드, 이의 제조 방법, 및 이를 포함하는 시스템이 개시된다. 일 실시 예에 따른 공명 터널링 다이오드는 상기 공명 터널링 다이오드의 전자를 생성하고, 상기 생성된 전자를 전송하는 채널 영역의 공핍 영역을 위한 버퍼층과, 상기 버퍼층 위에 위치하고, 상기 공명 터널링 다이오드의 커패시턴스를 조절하기 위한 커패시턴스 가변 전극을 포함할 수 있다.
Int. CL H01L 21/328 (2006.01) H01L 29/88 (2006.01)
CPC H01L 29/882(2013.01) H01L 29/882(2013.01)
출원번호/일자 1020130129259 (2013.10.29)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1483373-0000 (2015.01.09)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20150121) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.10.29)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 양경훈 대한민국 대전 유성구
2 한기정 대한민국 대전 유성구
3 이종원 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2013-0981110-53
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.04.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.05.13 수리 (Accepted) 9-1-2014-0039558-96
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.08.07 수리 (Accepted) 1-1-2014-0747590-56
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.10.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0692111-89
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.12.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-1192397-12
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.12.08 수리 (Accepted) 1-1-2014-1192396-66
8 등록결정서
Decision to grant
2014.12.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0881638-16
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
공명 터널링 다이오드에 있어서,상기 공명 터널링 다이오드의 전자를 생성하고, 상기 생성된 전자를 전송하는 채널 영역의 공핍 영역을 위한 버퍼층;상기 버퍼층 위에 위치하고, 입력 전압에 응답하여 상기 공명 터널링 다이오드의 커패시턴스를 조절하기 위한 커패시턴스 가변 전극을 포함하는 공명 터널링 다이오드
2 2
제1항에 있어서,상기 커패시턴스 가변 전극과의 접촉을 위한 가변 전극 접촉층을 더 포함하는공명 터널링 다이오드
3 3
제2항에 있어서,상기 버퍼층에 쇼트키 접촉을 형성하는 콜렉터 전극을 더 포함하는 공명 터널링 다이오드
4 4
제3항에 있어서,상기 쇼트키 접촉은 상기 가변 전극 접촉층의 일정 영역을 선택적으로 식각하여 상기 버퍼층에 형성되는 공명 터널링 다이오드
5 5
제2항에 있어서,상기 가변 전극 접촉층은 p형 InP, BCB, 폴리아미드, SiO2, SiNx, 또는 Al2O3로 형성되는 공명 터널링 다이오드
6 6
제2항에 있어서,상기 버퍼층이 상기 가변 전극 접촉층을 포함하는 공명 터널링 다이오드
7 7
공명 터널링 다이오드의 제조 방법에 있어서,상기 공명 터널링 다이오드의 채널 영역의 공핍 영역을 위한 버퍼층을 형성하는 단계; 및상기 공명 터널링 다이오드의 커패시턴스를 조절하기 위한 커패시턴스 가변 전극을 형성하는 단계를 포함하고,상기 커패시턴스 가변 전극은 입력 전압에 응답하여 상기 커패시턴스를 조절하는 공명 터널링 다이오드의 제조 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 커패시턴스 가변 전극을 형성하는 단계는,상기 버퍼층위에 가변 전극 접촉층을 형성하는 단계;상기 가변 전극 접촉층의 일정 영역을 선택적으로 식각하고, 상기 일정 영역에 노출된 상기 버퍼층에 콜렉터 전극을 증착하는 단계; 및상기 커패시턴스 가변 전극을 메사 식각을 통해 형성된 상기 가변 전극 접촉층의 언더컷을 이용해 증착하는 단계를 포함하는 공명 터널링 다이오드의 제조 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 콜렉터 전극은 상기 버퍼층에 쇼트키 접촉하는 공명 터널링 다이오드의 제조 방법
10 10
제7항에 있어서,상기 커패시턴스 가변 전극은 상기 공명 터널링 다이오드의 자기-정렬된 이미터 전극과 함께 동시에 형성되는 공명 터널링 다이오드의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국과학기술원 미래융합 파이오니어 사업 나노-상보형금속산화막 반도체 기술 기반의 플라즈마파 트랜지스터를 이용한 테라헤르츠 시스템 구현 기술 연구