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광 증폭기의 출력 광이 입력되면 투과파장과 일치하는 파장의 상기 출력 광을 통과시키는 대역통과 광 가변필터와; 상기 대역통과 광 가변필터를 통과한 광을 4개로 분배하는 1×4 광 분배기; 상기 분배된 4개의 광으로부터 스톡스 매개변수 S0, S1, S2, S3 을 구하는 스톡스 매개변수 측정수단; 상기 스톡스 매개변수 S1, S2, S3 으로부터 상기 광 증폭기의 출력 광 중 편광된 성분의 세기를 측정하여 광 신호의 세기를 구하는 광 신호 세기 측정수단; 상기 스톡스 매개변수 S0와 상기 광 신호의 세기를 이용하여 상기 광 증폭기의 출력 광에 포함된 잡음 세기를 구하는 잡음세기 측정수단; 및 상기 광 증폭기의 광 신호의 세기와 잡음 세기를 이용하여 투과파장에 대한
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제 1 항에 있어서, 상기 스톡스 매개변수 측정수단은, 상기 분배된 4개의 광 중 하나를 입력받아 0°직선편광 성분의 세기(PX)를 검출하는 0°직선 편광수단과, 상기 분배된 4개의 광 중 다른 하나를 입력받아 90°직선편광 성분의 세기(PY)를 검출하는 90°직선 편광수단, 상기 분배된 4개의 광 중 또 다른 하나를 입력받아 45°직선편광 성분의 세기(P45)를 검출하는 45°직선 편광수단, 상기 분배된 4개의 광 중 또 다른 하나를 입력받아 우회전 원형편광 성분의 세기(PRCP)를 검출하는 원형 편광수단, 및 상기 편광수단들로부터 출력된 각 편광 성분의 세기(PX, PY, P45, PRCP)들로부터 스톡스 매개변수 S0, S1, S2, S3 을 구하는 스톡스 매개변수 계산수단을 포함한 것을 특징으로 하는 광 신호 대 잡음비를 측정하는 장치
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제 2 항에 있어서, 상기 원형 편광수단은, 상기 입력된 광의 위상을 지체시켜서 직교하는 0°와 90°직선편광의 위상차가 λ/4 가 되도록 하는 λ/4 위상 지체기와, 상기한 λ/4 위상 지체기를 통과한 광의 45°직선편광 성분만을 투과시키는 45°직선 편광기를 포함한 것을 특징으로 하는 광 신호 대 잡음비를 측정하는 장치
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제 2 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 스톡스 매개변수 계산수단은, 상기 0°직선편광 성분의 세기(PX)와 90°직선편광 성분의 세기(PY)를 합하여 스톡스 매개변수 S0 을 구하는 제 1 덧셈기와, 상기 0°직선편광 성분의 세기(PX)에서 90°직선편광 성분의 세기(PY)를 빼서 스톡스 매개변수 S1 을 구하는 제 2 덧셈기, 상기 45°직선편광 성분의 세기(P45)와 상수 2를 곱하는 제 1 곱셈기, 상기 제 1 곱셈기의 출력값(2P45)에서 스톡스 매개변수 S0 을 빼서 스톡스 매개변수 S2 를 구하는 제 3 덧셈기, 상기 우회전 원형편광 성분의 세기(PRCP)와 상수 2를 곱하는 제 2 곱셈기, 및 상기 제 2 곱셈기의 출력값(2PRCP)에서 스톡스 매개변수 S0 을 빼서 스톡스 매개변수 S3 을 구하는 제 4 덧셈기를 포함한 것을 특징으로 하는 광 신호 대 잡음비를 측정하는 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 대역통과 광 가변필터는 패브리 패롯(Fabry-Perot) 가변필터인 것을 특징으로 하는 광 신호 대 잡음비를 측정하는 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 대역통과 광 가변 필터는 격자를 포함하는 집적광학소자인 것을 특징으로 하는 광 신호 대 잡음비를 측정하는 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 대역통과 광 가변 필터는 다층박막소자인 것을 특징으로 하는 광 신호 대 잡음비를 측정하는 장치
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광 증폭기의 출력 광의 시작 파장을 투과시키는 제 1 단계와; 상기 투과된 광을 4개로 분배하는 제 2 단계; 상기 분배된 4개의 광으로부터 스톡스 매개변수 S0, S1, S2, S3 을 구하는 제 3 단계; 상기 스톡스 매개변수 S1, S2, S3 으로부터 광 증폭기의 출력 광 중 편광된 성분의 세기를 측정하여 광 신호의 세기를 구하는 제 4 단계; 상기 스톡스 매개변수 S0와 상기 광 신호의 세기를 이용하여 상기 광 증폭기의 출력 광에 포함된 잡음 세기를 구하는 제 5 단계; 상기 광 증폭기의 광 신호의 세기와 잡음 세기를 이용하여 투과파장에 대한
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제 8 항에 있어서, 상기 제 3 단계는, 상기 분배된 4개의 광으로부터 0°직선편광 성분의 세기(PX)와, 90°직선편광 성분의 세기(PY)와, 45°직선편광 성분의 세기(P45)와, 우회전 원형편광 성분의 세기(PRCP)를 검출하는 제 1 소단계와; 상기 각 편광 성분의 세기(PX, PY, P45, PRCP)들로부터 스톡스 매개변수 S0, S1, S2, S3 을 계산하는 제 2 소단계를 포함한 것을 특징으로 하는 광 신호 대 잡음비를 측정하는 방법
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제 9 항에 있어서, 상기 제 2 소단계는, 상기 0°직선편광 성분의 세기(PX)와 90°직선편광 성분의 세기(PY)를 합하여 스톡스 매개변수 S0 을 구하고, 상기 0°직선편광 성분의 세기(PX)에서 90°직선편광 성분의 세기(PY)를 빼서 스톡스 매개변수 S1 을 구하고, 상기 45°직선편광 성분의 세기(P45)와 상수 2를 곱한 후 스톡스 매개변수 S0 을 빼서 스톡스 매개변수 S2 를 구하고, 상기 우회전 원형편광 성분의 세기(PRCP)와 상수 2를 곱한 후 스톡스 매개변수 S0 을 빼서 스톡스 매개변수 S3 을 구하는 단계인 것을 특징으로 하는 광 신호 대 잡음비를 측정하는 방법
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