| 요약 |
본 발명은 EMILD 구조를 이용한 전광 메모리 장치에 관한 것으로서, 특히 EMILD 구조를 이용하여 광쌍안정 특성을 측정해 내고, 이를 이용하여 전광 Flip-Flop을 구현하는 전광 메모리 장치에 관한 것이다. 본 발명에 의하면, 입력광의 파장을 선택하기 위한 가변레이저와; 상기 선택된 입력광을 "set" 과 "reset" 의 패턴 광신호로 형성하기 위한 패턴발생기; 상기 패턴 광신호의 세기를 조절하기 위한 광감쇄기; 상기 패턴 광신호의 경로를 결정하기 위한 써쿨레이터; 상기 패턴 광신호를 인가받아 위상 조절을 수행하기 위한 위상조절기; 상기 패턴 광신호를 인가받아 광쌍안정의 특성을 얻기 위한 것으로, EAM에 순방향 전류가 주입되어 광증폭기로 이용되도록 하고, DFB-LD에 문터전류 이하의 전류가 인가되어 레이저로 발진되지 않고 광쌍안정 특성을 얻도록 하며, 광쌍안정 특성이 이용되어 set/reset 방식의 Flip-Flop이 구현되도록 하는 EMILD; 상기 EMILD로부터 출력광 신호를 필터링하여 선택된 파장 신호만을 얻기 위한 파장가변필터; 및 상기 파장가변필터로부터 출력된 광쌍안정 파장 특성을 측정하고, 상기 측정된 광쌍안정 특성을 이용하여 전광 플립플롭 파장 특성을 얻기하기 위한 광측정기를 포함하는 전광 메모리 장치를 제시한다. 따라서, EMILD 구조에서의 넓은 이득영역으로 인해 광대역의 광메모리 구현이 가능하여, 광대역 신호를 이용한 통신에서 전광신호 처리 및 전광메모리 소자로 사용할 수 있다. EMILD, 전광 Flip-Flop, 광쌍안정 특성, 전광 메모리
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