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소정 길이로 연장되는 클래딩과, 상기 클래딩의 내부에서 상기 클래딩의 길이방향을 따라 연장되는 코어를 포함하고, 상기 코어 내부에는 상기 코어와 굴절률이 상이하고, 상기 코어를 통과하는 빛의 경로를 간섭하도록 상기 코어의 길이방향을 따라 배치되는 복수의 격자가 형성되며,상기 복수의 격자는 각각 서로 다른 간격으로 배치되고,상기 코어의 광 입구로 빛이 조사되면, 상기 코어를 통과하는 상기 빛의 일부가 상기 복수의 격자에 의해 반사되어 상기 광 입구를 통해 출력되며,상기 광 입구를 통해 출력되는 반사광은 서로 다른 방향으로 편광된 제1반사광 및 제2반사광을 포함하고, 상기 제1반사광과 상기 제2반사광은 서로 다른 대역의 파장 스펙트럼을 형성하는 것을 특징으로 하는 광 파이버
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제1항에 있어서,상기 복수의 격자의 간격은 상기 광 입구로부터 광 출구로 갈수록 일정한 함수로 증가 또는 감소하는 것을 특징으로 하는 광 파이버
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제1항에 있어서,상기 제1반사광은 상기 코어의 수평축 방향으로 편광된 반사광이고,상기 제2반사광은 상기 코어의 수직축 방향으로 편광된 반사광이며,상기 코어는 상기 수평축 방향의 밀도와 상기 수직축 방향의 밀도가 서로 상이하여, 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장차가 발생하는 것을 특징으로 하는 광 파이버
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청구항 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항의 광 파이버;상기 광 파이버의 광 입구에 빛을 조사하는 광원;상기 광 파이버의 광 입구로부터 출력되는 반사광의 파장을 분석하는 광 분석기를 포함하고, 상기 코어의 중심은 상기 광 파이버가 이용된 센서 전체의 굴절 중심과 이격되어 배치되고,상기 센서가 굴절하는 경우, 상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 위치 및 방향을 검출하는 것을 특징으로 센서 시스템
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제4항에 있어서,상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 방향의 각도를 더 검출하는 것을 특징으로 하는 센서 시스템
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제5항에 있어서,상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 곡률을 더 검출하는 것을 특징으로 하는 센서 시스템
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청구항 제4항의 센서 시스템를 이용해 상기 광 파이버의 굴절 상태를 검출하는 방법으로서, 상기 광 파이버의 광 입구에 빛을 조사하는 단계;상기 광 입구로부터 출력되는 제1반사광 및 제2반사광을 수집하는 단계;상기 제1반사광 및 제2반사광의 파장 스펙트럼을 계산하는 단계;상기 제1반사광 및 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 분석하는 단계;상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화가 있는 경우 변화량을 계산하여 상기 광 파이버가 굴절된 위치 및 방향을 검출 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
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제7항에 있어서,상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화가 있는 경우 변화량을 계산하여 상기 광 파이버가 굴절된 방향의 각도 및 곡률을 검출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
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