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마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 시스템 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015122358
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 시스템 및 그 방법에 관한 것으로, 측정대상 마스크를 안착하는 스테이지(stage)나 CCD 카메라의 회전, 이동, 왜곡에 따른 허공의 영상(aerial image)의 비정렬(misalignment)을 측정하여 CCD 카메라로부터 획득된 회절광이 정렬되도록 CCD 카메라를 수평/수직 이동하거나 회전시킴으로써, 극자외선(Extreme Ultra-Violet, EUV) 광원으로 만들어진 차세대 반도체 공정에서 사용되는 3차원 구조의 마스크 패턴에 존재하는 미세 결함(Defect) 등을 효과적으로 검사할 수 있도록 발생할 수 있는 에러를 최소화하는 이점이 있다.
Int. CL H01L 21/027 (2006.01) G03F 1/44 (2012.01)
CPC H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01)
출원번호/일자 1020120135482 (2012.11.27)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-1322909-0000 (2013.10.22)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20131029) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.11.27)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박민철 대한민국 서울 강남구
2 전영민 대한민국 서울 강남구
3 이동수 대한민국 경북 경산시
4 조성진 대한민국 서울 도봉구
5 우덕하 대한민국 서울특별시 서대문구
6 조정근 대한민국 경기 양평군

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정태훈 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, A동 ****호(문정동, 엠스테이트)(특허법인 티앤아이)
2 배성호 대한민국 경상북도 경산시 박물관로*길**, ***호(사동, 태화타워팰리스)(특허법인 티앤아이(경상북도분사무소))
3 오용수 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, A동 ****호(문정동, 엠스테이트)(특허법인 티앤아이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.11.27 수리 (Accepted) 1-1-2012-0982440-48
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.06.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.07.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0058092-77
4 등록결정서
Decision to grant
2013.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0718230-78
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
극자외선(Extreme Ultra-Violet, EUV)을 방사하는 광원부;상기 광원부로부터 방사된 극자외선을 반사하여 집광하고, 집광된 극자외선을 측정대상 마스크로 향하도록 반사하는 광학모듈;상기 광학모듈을 통해 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지를 획득하는 CCD(Charged Coupled Device) 카메라;상기 CCD 카메라로부터 획득된 회절 이미지에 대한 영상 이진화를 통해 회절광의 빛 영역을 구분하고, 이진화된 각 회절광을 집합화한 후, 집합화된 회절광을 밝기 순으로 정렬하여 0차, -1차 및 1차 회절광 순으로 구분하는 이미지 처리모듈;상기 이미지 처리모듈로부터 구분된 0차, -1차 및 1차 회절광의 위치를 이용하여 0차 회절광이 이미지의 중심에 위치된 상태에서 각 회절광이 수평방향으로 나란히 정렬되도록 각 회절광의 위치에 따른 상대적인 CCD 카메라의 수평/수직 이동값과 회전값을 연산하고 이에 대응되는 구동제어신호를 출력하는 제어장치; 및상기 제어장치로부터 출력된 구동제어신호에 따라 상기 CCD 카메라를 수평/수직 이동하거나 회전시키는 카메라 구동모듈을 포함하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 시스템
2 2
제1 항에 있어서,상기 이미지 처리모듈은, 영상 이진화를 통해 이진화된 영역의 0차, 1차 및 -1차 회절광을 구분하기 위하여, 인접한 화소에 모두 같은 라벨(Label)을 붙이고 연결되지 않은 다른 성분에 다른 라벨을 붙여 화소의 집합화를 수행하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 시스템
3 3
제1 항에 있어서,상기 제어장치는, 하기의 수학식 1에 의해 상기 CCD 카메라의 수평/수직 이동값(Tx/Ty)과 회전값(θz)을 연산하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 시스템
4 4
제1 항에 있어서,상기 이미지 처리모듈로부터 구분된 0차, -1차 및 1차 회절광의 위치를 저장하는 회절광 위치 저장모듈이 더 구비되는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 시스템
5 5
제1 항에 있어서,상기 극자외선은 6nm 내지 14nm 범위의 파장대역으로 이루어진 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 시스템
6 6
제1 항에 있어서,상기 측정대상 마스크는 극자외선 노광 방법에 의해 미세한 마스크 패턴이 형성되는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 시스템
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광원부, 광학모듈, CCD(Charged Coupled Device) 카메라, 이미지 처리모듈, 제어장치 및 카메라 구동모듈을 포함하는 마스크 패턴 검사용 시스템을 이용하여 카메라 영상을 정렬하는 방법으로서,(a) 상기 광원부에 의해 극자외선(Extreme Ultra-Violet, EUV)을 방사한 후, 상기 방사된 극자외선을 상기 광학모듈에 의해 반사하여 집광하고, 집광된 극자외선을 측정대상 마스크로 향하도록 반사하는 단계;(b) 상기 CCD 카메라를 통하여 상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지를 획득하는 단계;(c) 상기 이미지 처리모듈을 통해 상기 단계(b)에서 획득된 회절 이미지에 대한 영상 이진화를 통해 회절광의 빛 영역을 구분하고, 이진화된 각 회절광을 집합화한 후, 집합화된 회절광을 밝기 순으로 정렬하여 0차, -1차 및 1차 회절광 순으로 구분하는 단계;(d) 상기 제어장치를 통해 상기 단계(c)에서 구분된 0차, -1차 및 1차 회절광의 위치를 이용하여 0차 회절광이 이미지의 중심에 위치된 상태에서 각 회절광이 수평방향으로 나란히 정렬되도록 각 회절광의 위치에 따른 상대적인 CCD 카메라의 수평/수직 이동값과 회전값을 연산하고 이에 대응되는 구동제어신호를 출력하는 단계; 및(e) 상기 카메라 구동모듈을 통해 상기 단계(d)에서 출력된 구동제어신호에 따라 상기 CCD 카메라를 수평/수직 이동하거나 회전시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 방법
8 8
제7 항에 있어서,상기 단계(c)에서, 상기 이미지 처리모듈은, 영상 이진화를 통해 이진화된 영역의 0차, 1차 및 -1차 회절광을 구분하기 위하여, 인접한 화소에 모두 같은 라벨(Label)을 붙이고 연결되지 않은 다른 성분에 다른 라벨을 붙여 화소의 집합화를 수행하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 방법
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제7 항에 있어서,상기 단계(d)에서, 상기 제어장치는, 하기의 수학식 2에 의해 상기 CCD 카메라의 수평/수직 이동값(Tx/Ty)과 회전값(θz)을 연산하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 방법
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제7 항에 있어서,상기 단계(c) 이후에, 상기 이미지 처리모듈을 통해 구분된 0차, -1차 및 1차 회절광의 위치를 별도의 회절광 위치 저장모듈에 저장하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 카메라 영상 정렬 방법
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