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문서 샘플의 종이 부분과 글자 부분의 질량분석 스펙트럼을 각각 측정하고, 상기 글자 부분의 스펙트럼으로부터 상기 종이 부분의 스펙트럼을 제외하여 샘플의 잉크 스펙트럼을 구하는 단계;상기 잉크 스펙트럼으로부터, 잉크의 특징인 피크의 질량값에 해당하는 지문스펙트럼(fingerprint spectrum)을 얻는 단계;상기 지문스펙트럼에 해당하는 피크의 상대이온세기를 잉크의 스펙트럼의 총 이온세기로 나누는 기준화 과정으로, 지문스펙트럼의 이온강도 값을 구하는 단계;상기 지문스펙트럼 중 이온강도 값이 큰 것을 우선하여 지문스펙트럼들을 분류하는, 이온강도 값을 분류하는 단계;프린터 잉크에 대한 스펙트럼 데이터베이스부터 상기 지문스펙트럼과 그 이온강도 값을 포함하는 잉크의 검색키와 동등성 조건을 만족하는 데이터를 검색하는 단계; 그리고상기 데이터베이스로부터 동등성 조건을 만족하는 것으로 검색된 잉크의 출처 정보를 출력하는 단계;를 포함하고, 상기의 샘플 및 데이터베이스의 질량분석 스펙트럼은 비행형 이차 이온 질량 분석(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry; TOF-SIMS) 스펙트럼인, 문서 상의 잉크를 감식하는 방법으로서,상기 데이터를 검색하는 단계는 상기 분류된 지문스펙트럼들 중에서 이온강도 값이 큰 값부터 상기 데이터베이스와 동등성 조건을 만족하는 프린터 잉크에 대한 데이터를 검색하는 것인 문서 상의 잉크를 감식하는 방법
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제1항에 있어서,상기 샘플의 잉크 스펙트럼을 구하는 단계에서, 상기 글자 부분의 스펙트럼을 측정하기 전에 상기 샘플에서 글자 부분의 스펙트럼을 측정할 위치는 선정하는 과정을 더 수행하고,상기 글자 부분의 위치를 선정하는 과정은, 패턴 매칭을 통하거나 문서에 잉크로 기재된 글자의 서체를 이용하여 스펙트럼 측정의 대상이 되는 글자 부분의 위치는 찾는 과정인, 문서 상의 잉크를 감식하는 방법
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제1항에 있어서,상기 샘플의 지문스펙트럼은 0 내지 400 m/z의 질량값 범위 내에 피크가 존재하는 것인, 문서 상의 잉크를 감식하는 방법
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삭제
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제1항에 있어서,상기 비행형 이차 이온 질량 분석에서 사용되는 1차 이온은 Bi 및 Cs를 포함하는 이온원으로부터 선택되는 것인, 문서 상의 잉크를 감식하는 방법
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제5항에 있어서,상기 1차 이온을 상기 샘플에 조사하는 양은 1013 ions/cm2 이하인, 문서 상의 잉크를 감식하는 방법
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제1항에 있어서,상기 지문스펙트럼은 100 m/z 이하의 질량값을 가지며, 상기 지문스펙트럼은 잉크에 포함되는 무기원소들에 대응되는 질량값인, 문서 상의 잉크를 감식하는 방법
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제1항에 있어서,상기 지문스펙트럼은 100 m/z 초과의 질량값을 가지며, 상기 지문스펙트럼은 잉크에 포함되는 유기화합물, 레지 또는 유기 첨가제에 대응되는 질량값인, 문서 상의 잉크를 감식하는 방법
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제1항에 있어서,상기 동등성 조건은 상기 잉크의 검색키와 이에 대응하는 상기 데이터베이스의 자료와의 동등성 값이 70 이상인 것인, 문서 상의 잉크를 감식하는 방법
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문서인 샘플의 종이 부분과 글자 부분의 각각 1차 이온을 조사하는 조사부;상기 1차 이온에 의하여 형성된 2차이온을 가속하고 검출하여 비행형 이차 이온 질량 분석 스펙트럼을 측정하는 측정부;상기 측정부에 의하여 측정된 샘플의 글자 부분 스펙트럼과 종이 부분 스펙트럼을 이용하여 잉크의 스펙트럼을 구하는 1차연산부;상기 잉크의 스펙트럼으로부터 피크의 질량값에 해당하는 지문스펙트럼을 얻는 2차연산부;상기 잉크의 지문스펙트럼에 대응하는 피크의 상대이온세기를 잉크의 스펙트럼의 총 이온세기로 나누는 기준화 과정을 통하여 지문스펙트럼의 이온강도 값을 구하는 3차연산부;상기 지문스펙트럼 중 이온강도 값이 큰 것을 우선하여 지문스펙트럼들을 분류하는 4차연산부;상기 지문스펙트럼과 그 이온강도 값을 검색키로 하여, 프린터 잉크에 대한 스펙트럼 데이터베이스의 검색키에 대응하는 값들과 비교하여 동등성 조건을 만족하는지를 검색하는 검색부; 그리고상기 검색부로부터 도출되는 결과를 잉크의 출처정보를 출력하는 표시부;를 포함하는, 문서 상의 잉크를 감식하는 시스템으로서,상기 검색부는 상기 분류된 지문스펙트럼들 중에서 이온강도 값이 큰 값부터 상기 데이터베이스와 동등성 조건을 만족하는 프린터 잉크에 대한 데이터를 검색하는 것인 문서 상의 잉크를 감식하는 시스템
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제10항에 있어서상기 샘플의 지문스펙트럼은 0 내지 400 m/z의 질량값 범위 내에 존재하는 것인, 문서 상의 잉크를 감식하는 시스템
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제10항에 있어서,상기 비행형 이차 이온 질량 분석에서 사용되는 1차 이온은 Bi 및 Cs를 포함하는 이온원으로부터 선택되는 것인, 문서 상의 잉크를 감식하는 시스템
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제11항에 있어서,상기 지문스펙트럼은 100 m/z 이하의 질량값을 가지며, 상기 지문스펙트럼은 잉크에 포함되는 무기원소들에 대응되는 질량값인, 문서 상의 잉크를 감식하는 시스템
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제11항에 있어서,상기 지문스펙트럼은 100 m/z 초과의 질량값을 가지며, 상기 지문스펙트럼은 잉크에 포함되는 유기화합물, 레지 또는 유기 첨가제에 대응되는 질량값인, 문서 상의 잉크를 감식하는 시스템
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