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미세 입자 측정 장치 및 이를 이용한 미세 입자 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015122858
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 미세 입자 측정 장치 및 이를 이용한 미세 입자 측정 방법에 관한 것으로서, 본 발명은 상기한 목적을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 미세 입자 측정 장치는, 서브마이크론 크기의 입자의 분포를 측정하는 제1 입자 측정부와, 마이크론 크기의 입자의 분포를 측정하는 제2 입자 측정부와, 공기를 흡입하여 상기 제1 및 제2 입자 측정부로 분배하고 배출하는 흡입부와 배출부를 포함하고, 상기 제1 및 제2 입자 측정부에서 측정된 입자는 입자의 입경에 따른 부피의 대수 정규 분포도로 각각 환산되고, 상기 대수 정규 분포도는 중첩되어 단일 밀도를 갖는 구형 입자로 가정하여 질량농도로 구한다.
Int. CL G01N 1/22 (2006.01) G01N 15/02 (2006.01) B03C 3/38 (2006.01) G01N 27/00 (2006.01) G01N 21/47 (2006.01) G08C 17/02 (2006.01)
CPC G01N 15/02(2013.01) G01N 15/02(2013.01) G01N 15/02(2013.01) G01N 15/02(2013.01) G01N 15/02(2013.01) G01N 15/02(2013.01)
출원번호/일자 1020140061639 (2014.05.22)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-1551289-0000 (2015.09.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20150909) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.05.22)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 배귀남 대한민국 서울특별시 성북구
2 이승복 대한민국 강원도 춘천시 춘주로 *
3 강준상 대한민국 경기도 파주
4 박승호 대한민국 경기도 남양주시 순화궁로
5 김진영 대한민국 서울특별시 은평구
6 정재희 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.05.22 수리 (Accepted) 1-1-2014-0482821-15
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.12.30 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.02.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0012520-20
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.04.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0261986-48
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.06.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0594680-57
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.06.19 수리 (Accepted) 1-1-2015-0594682-48
7 등록결정서
Decision to grant
2015.08.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0581227-30
8 수수료 사후 감면 신청서
Request for Follow-up Reduction of Official Fee
2017.04.12 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2017-0358534-00
9 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2017.04.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0051742-16
10 [반려요청]서류반려요청(반환신청)서
[Request for Return] Request for Return of Document
2017.04.17 수리 (Accepted) 1-1-2017-0371135-46
11 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2017.04.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0053000-15
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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미세 입자의 농도를 측정하는 미세 입자 측정 장치로서, 서브마이크론 크기의 입자의 분포를 측정하는 제1 입자 측정부와, 마이크론 크기의 입자의 분포를 측정하는 제2 입자 측정부와, 공기를 흡입하여 상기 제1 및 제2 입자 측정부로 분배하고 배출하는 흡입부와 배출부를 포함하고, 상기 제1 및 제2 입자 측정부에서 측정된 입자는 입자의 입경에 따른 부피의 대수 정규 분포도로 각각 환산되고, 상기 대수 정규 분포도는 중첩되어 단일 밀도를 갖는 구형 입자로 가정하여 질량농도로 환산되며,상기 제1 입자 측정부는, 측정하고자 하는 크기 영역의 입자를 분리하는 입자 분리 유닛, 분리된 입자를 대전시키는 하전 유닛, 하전된 입자의 통과를 제어하는 입자 제어 유닛, 및 통과가 제어된 입자의 하전량을 측정하는 하전량 측정 유닛을 포함하고,상기 입자 제어 유닛은, 간격이 점차 작아지도록 단계적으로 배치되어, 잔여 이온과 입자의 크기에 따라 입자들을 부착시키는 하나 이상의 트랩, 상기 트랩을 통과한 입자들을 내부에 형성된 필터에 부착시키는 패러데이 케이지를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제1 입자 측정부에서 측정하는 입자는 1
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제 1 항에 있어서,상기 흡입부는 측정하고자 하는 크기 영역보다 큰 입자를 제거하는 입자 제거 유닛과, 상기 제1 및 제2 입자 측정부로 각각 입자를 분배하는 분배 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제2 입자 측정부에서 측정하는 입자는 10 μm 이하의 입자인 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 제2 입자 측정부에서 측정하는 입자는 2
6 6
삭제
7 7
삭제
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제 1 항에 있어서,상기 제2 입자 측정부는, 광학계 모듈 또는 전기적 다단 임팩터인 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제2 입자 측정부는,상기 입자가 포함된 공기 내에서 광을 산란시키기 위한 광 산란 유닛,광을 발생시키는 광 유닛, 및산란된 광을 측정하는 광 센서 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제2 입자 측정부에 의해 측정된 입자 분포는,하나 이상의 구간으로 나누어 측정되며, 각 구간의 산술 평균 입경 또는 기하 평균 입경을 대표값으로 한 대수 정규 분포 그래프로 환산되는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 배출부는 공기 내에 포함된 입자를 제거하는 입자 필터와 공기를 외부로 배출하는 진공 펌프를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제1 입자 측정부에서 배출된 공기는 상기 제2 입자 측정부에 공급되어 보호 공기로서 유입되는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제1 입자 측정부와 제2 입자 측정부에 연결되어, 질량농도에 관한 정보를 처리하는 정보 처리부를 더 포함하고,상기 정보 처리부는, 상기 제1 및 제2 입자 측정부로부터의 정보를 통하여 질량농도를 분석하는 정보 분석 유닛과 상기 질량농도에 대한 정보를 외부로 전송하는 무선 통신 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제1 입자 측정부와 제2 입자 측정부 사이에 형성된 제1 유량 조절 장치와 상기 배출부에 형성된 제2 유량 조절 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 장치
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제 1 항 내지 제 5 항, 및 제 8 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 따른 미세 입자 측정 장치로, 미세 입자의 농도를 측정하는 미세 입자 측정 방법으로서, 상기 제1 입자 측정부에서 서브마이크론 크기의 입자의 분포를 측정하여 대수 정규 분포도로 환산하는 단계;상기 제2 입자 측정부에서 마이크론 크기의 입자의 분포를 측정하여 대수 정규 분포도로 환산하는 단계; 및 상기 제1 입자 측정부와 제2 입자 측정부에서 환산된 대수 정규 분포도를 중첩하고, 단일 밀도를 갖는 구형 입자로 가정하여 질량농도를 구하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 입자 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.