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마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 시스템 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015123928
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 시스템 및 그 방법에 관한 것으로, 극자외선(Extreme Ultra-Violet, EUV)을 방사하는 광원부와, 상기 광원부로부터 방사된 극자외선을 반사하여 집광하는 오목거울과, 상기 오목거울에 의해 집광된 극자외선을 측정대상 마스크를 향하여 반사하는 반사거울과, 상기 측정대상 마스크를 안착시키는 스테이지와, 상기 스테이지의 일측에 구비되며, 상기 측정대상 마스크의 전체 이미지를 스캔할 수 있도록 상기 스테이지를 X축, Y축 및 Z축 방향으로 이동시키기 위한 이동수단과, 상기 측정대상 마스크의 3차원 높이 정보를 획득할 수 있도록 상기 스테이지의 X축 및 Y축 중 적어도 하나의 축을 기준으로 일정각도 좌/우측 방향으로 틸팅(tilting)시키기 위한 틸팅수단과, 상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지를 획득하는 CCD(Charged Coupled Device) 카메라와, 상기 CCD 카메라로부터 획득된 회절 이미지를 역 고속 퓨리에 변환(Inverse Fast Fourier Transform, IFFT)을 수행하여 상기 측정대상 마스크의 패턴 이미지를 복원함과 아울러 상기 이동수단 및 상기 틸팅수단의 동작을 제어하기 위한 구동제어신호를 출력하는 제어장치를 포함함으로써, 극자외선(EUV) 광원으로 만들어진 차세대 반도체 공정에서 사용되는 3차원 구조의 마스크 패턴에 존재하는 미세 결함(Defect) 등을 효과적으로 검사할 수 있다.
Int. CL H01L 21/027 (2006.01) H01L 21/66 (2006.01)
CPC H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01)
출원번호/일자 1020110079483 (2011.08.10)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-1262269-0000 (2013.05.02)
공개번호/일자 10-2013-0017189 (2013.02.20) 문서열기
공고번호/일자 (20130508) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.08.10)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전영민 대한민국 서울특별시 강남구
2 황정민 대한민국 경기도 부천시 원미구
3 장지웅 대한민국 경기도 용인시 수지구
4 박민철 대한민국 서울특별시 강남구
5 우덕하 대한민국 서울특별시 서대문구
6 김선호 대한민국 서울특별시 종로구
7 이석 대한민국 서울특별시 서초구
8 김재헌 대한민국 부산광역시 진구
9 이택진 대한민국 서울특별시 양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정태훈 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, A동 ****호(문정동, 엠스테이트)(특허법인 티앤아이)
2 진수정 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, A동 ****호(문정동, 엠스테이트)(특허법인 티앤아이)
3 배성호 대한민국 경상북도 경산시 박물관로*길**, ***호(사동, 태화타워팰리스)(특허법인 티앤아이(경상북도분사무소))
4 오용수 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, A동 ****호(문정동, 엠스테이트)(특허법인 티앤아이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.08.10 수리 (Accepted) 1-1-2011-0617747-53
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.05.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.06.21 수리 (Accepted) 9-1-2012-0048426-10
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.11.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0706345-59
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.01.16 수리 (Accepted) 1-1-2013-0044811-73
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.01.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0044812-18
7 등록결정서
Decision to grant
2013.04.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0280161-19
8 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.11.11 수리 (Accepted) 1-1-2013-1025034-47
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
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번호 청구항
1 1
삭제
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극자외선(Extreme Ultra-Violet, EUV)을 방사하는 광원부;상기 광원부로부터 방사된 극자외선을 반사하여 집광하는 오목거울;상기 오목거울에 의해 집광된 극자외선을 측정대상 마스크를 향하여 반사하는 반사거울;상기 측정대상 마스크를 안착시키는 스테이지;상기 스테이지의 일측에 구비되며, 상기 측정대상 마스크의 전체 이미지를 스캔할 수 있도록 상기 스테이지를 X축, Y축 및 Z축 방향으로 이동시키기 위한 이동수단;상기 측정대상 마스크의 3차원 높이 정보를 획득할 수 있도록 상기 스테이지의 X축 및 Y축 중 적어도 하나의 축을 기준으로 일정각도 좌/우측 방향으로 틸팅(tilting)시키기 위한 틸팅수단;상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지를 획득하는 CCD(Charged Coupled Device) 카메라;상기 CCD 카메라의 입사 렌즈부에 장착되며, 상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지의 0차 회절광을 차단하는 링 형태의 광 필터부; 및상기 CCD 카메라로부터 획득된 회절 이미지를 역 고속 퓨리에 변환(Inverse Fast Fourier Transform, IFFT)을 수행하여 상기 측정대상 마스크의 패턴 이미지를 복원함과 아울러 상기 이동수단 및 상기 틸팅수단의 동작을 제어하기 위한 구동제어신호를 출력하는 제어장치를 포함하는 마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 시스템
3 3
제2 항에 있어서,상기 측정대상 마스크의 3차원 이미지를 획득하고자 하는 위치가 존재할 경우, 상기 제어장치는 구동제어신호를 상기 틸팅수단에 출력하여 상기 측정대상 마스크를 좌/우측 방향으로 틸팅시키고, 상기 측정대상 마스크의 좌/우 틸팅에 따른 좌/우 3차원 포인트 클라우드(Point Cloud)를 각각 연산한 후, 상기 연산된 각 좌/우 3차원 포인트 클라우드의 공통 포인트를 통해 틸팅각도를 연산하여 상기 측정대상 마스크에 대한 3차원 높이 정보를 획득하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 시스템
4 4
극자외선(Extreme Ultra-Violet, EUV)을 방사하는 광원부;상기 광원부로부터 방사된 극자외선을 반사하여 집광하는 오목거울;상기 오목거울에 의해 집광된 극자외선을 측정대상 마스크를 향하여 반사하는 반사거울;상기 측정대상 마스크를 안착시키는 스테이지;상기 스테이지의 일측에 구비되며, 상기 측정대상 마스크의 전체 이미지를 스캔할 수 있도록 상기 스테이지를 X축, Y축 및 Z축 방향으로 이동시키기 위한 이동수단;상기 측정대상 마스크의 3차원 높이 정보를 획득할 수 있도록 상기 스테이지의 X축 및 Y축 중 적어도 하나의 축을 기준으로 일정각도 좌/우측 방향으로 틸팅(tilting)시키기 위한 틸팅수단;상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지를 획득하는 CCD(Charged Coupled Device) 카메라; 및상기 CCD 카메라로부터 획득된 회절 이미지를 역 고속 퓨리에 변환(Inverse Fast Fourier Transform, IFFT)을 수행하여 상기 측정대상 마스크의 패턴 이미지를 복원함과 아울러 상기 이동수단 및 상기 틸팅수단의 동작을 제어하기 위한 구동제어신호를 출력하는 제어장치를 포함하되,상기 틸팅수단은, 복수의 피에조(Piezo) 봉을 이용하여 상기 스테이지를 좌/우측 방향으로 일정각도 틸팅하기 위한 수단으로서,상기 이동수단이 상기 스테이지의 하부측에 설치된 상태에서 상기 이동수단의 저면에 고정설치되는 제1 지지판;상기 제1 지지판의 하측방향으로 일정거리 이격되어 배치되는 제2 지지판; 및상기 제1 및 제2 지지판 사이의 양 끝단에 대칭되도록 구비된 적어도 한 쌍의 제1 및 제2 피에조 봉으로 이루어지며, 상기 제어장치로부터 출력된 구동제어신호에 의해 상기 제1 및 제2 피에조 봉의 높이가 서로 다르게 조절되어 상기 제1 지지판을 비롯하여 상기 이동수단 및 상기 스테이지가 좌/우측 방향으로 일정각도 기울어지는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 시스템
5 5
극자외선(Extreme Ultra-Violet, EUV)을 방사하는 광원부;상기 광원부로부터 방사된 극자외선을 반사하여 집광하는 오목거울;상기 오목거울에 의해 집광된 극자외선을 측정대상 마스크를 향하여 반사하는 반사거울;상기 측정대상 마스크를 안착시키는 스테이지;상기 스테이지의 일측에 구비되며, 상기 측정대상 마스크의 전체 이미지를 스캔할 수 있도록 상기 스테이지를 X축, Y축 및 Z축 방향으로 이동시키기 위한 이동수단;상기 측정대상 마스크의 3차원 높이 정보를 획득할 수 있도록 상기 스테이지의 X축 및 Y축 중 적어도 하나의 축을 기준으로 일정각도 좌/우측 방향으로 틸팅(tilting)시키기 위한 틸팅수단;상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지를 획득하는 CCD(Charged Coupled Device) 카메라; 및상기 CCD 카메라로부터 획득된 회절 이미지를 역 고속 퓨리에 변환(Inverse Fast Fourier Transform, IFFT)을 수행하여 상기 측정대상 마스크의 패턴 이미지를 복원함과 아울러 상기 이동수단 및 상기 틸팅수단의 동작을 제어하기 위한 구동제어신호를 출력하는 제어장치를 포함하되,상기 측정대상 마스크의 3차원 이미지를 획득하고자 하는 위치가 존재할 경우, 상기 제어장치는 구동제어신호를 상기 틸팅수단에 출력하여 상기 측정대상 마스크를 좌/우측 방향으로 틸팅시키고, 상기 측정대상 마스크의 좌/우 틸팅에 따른 좌/우 3차원 포인트 클라우드(Point Cloud)를 각각 연산한 후, 상기 연산된 각 좌/우 3차원 포인트 클라우드의 공통 포인트를 통해 틸팅각도를 연산하여 상기 측정대상 마스크에 대한 3차원 높이 정보를 획득하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 시스템
6 6
제4 항 또는 제5 항에 있어서,상기 CCD 카메라의 입사 렌즈부에 장착되며, 상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지의 0차 회절광을 차단하는 링 형태의 광 필터부가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 시스템
7 7
광원부, 오목거울, 반사거울, X축, Y축 및 Z축 이동가능함과 아울러 좌/우측 방향으로 일정각도 틸팅가능한 스테이지에 안착된 측정대상 마스크, CCD(Charged Coupled Device) 카메라 및 제어장치를 포함하는 마스크 패턴 검사용 시스템을 이용하여 3차원 영상을 획득하는 방법에 있어서,(a) 상기 광원부에 의해 극자외선(Extreme Ultra-Violet, EUV)을 방사한 후, 상기 방사된 극자외선을 상기 오목거울에 의해 반사하여 집광하는 단계;(b) 상기 단계(a)에서 집광된 극자외선을 상기 측정대상 마스크를 향하여 반사하는 단계;(c) 상기 CCD 카메라를 통하여 상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지를 획득하는 단계;(d) 상기 제어장치를 통하여 상기 CCD 카메라로부터 획득된 회절 이미지를 역 고속 퓨리에 변환(Inverse Fast Fourier Transform, IFFT)을 수행하여 상기 측정대상 마스크의 패턴 이미지를 복원하는 단계;(e) 상기 측정대상 마스크의 3차원 이미지를 획득하고자 하는 위치가 존재할 경우, 상기 제어장치를 통하여 별도로 구비된 틸팅수단에 의해 상기 측정대상 마스크를 좌/우측 방향으로 틸팅시키는 단계; 및(f) 상기 측정대상 마스크의 좌/우 틸팅에 따른 좌/우 3차원 포인트 클라우드(Point Cloud)를 각각 연산한 후, 상기 연산된 각 좌/우 3차원 포인트 클라우드의 공통 포인트를 통해 틸팅각도를 연산하여 상기 측정대상 마스크에 대한 3차원 높이 정보를 획득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 방법
8 8
제7 항에 있어서,상기 단계(c)에서, 상기 CCD 카메라의 입사 렌즈부에 장착된 광 필터부를 통해 상기 측정대상 마스크로부터 반사된 회절 이미지의 0차 회절광을 차단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 마스크 패턴 검사용 3차원 영상 획득 방법
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1 지식경제부 선문대학교 산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발사업 (5020010) EUV 마스크 actinic 검사장비 및 멀티 전자빔 웨이퍼 검사기술 개발