| 1 |
1
(가) SiO2 농도가 다른 복수의 전해질 샘플을 준비하는 단계;(나) 상기 복수의 전해질 샘플 각각의 플라즈마 양극 전압을 측정하여, 전해질 내 SiO2 농도의 변화에 따른 플라즈마 양극 전압의 변화를 나타내는 보정선(Calibration Line)을 구하는 단계;(다) 실제 플라즈마 전해 산화 공정이 수행된 전해질을 채취하여, 상기 (나)단계와 동일 조건에서 채취한 전해질의 플라즈마 양극 전압을 측정하는 단계;(라) 상기 (나)단계에서 구한 보정선과 상기 (다)단계에서 측정한 전압을 비교하여 실제 플라즈마 전해 산화 공정이 수행된 전해질 내 중합되지 않은 현재 SiO2 농도를 구하는 단계; 및(마) 플라즈마 전해 산화 공정이 수행되기 전 초기 SiO2 농도와 상기 (라)단계에서 구한 현재 SiO2 농도의 차이에 해당하는 SiO2 농도를 갖는 SiO2 함유 물질을 보충하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전해 산화법에 사용되는 전해질의 수명연장방법
|
| 2 |
2
제 1 항에 있어서,상기 (다)단계에서 채취한 전해질을 희석시켜 희석된 전해질의 플라즈마 양극 희석 전압을 측정한 경우, 상기 (라)단계에서 상기 보정선을 이용하여 상기 희석 전압의 SiO2 농도를 구한 다음, 상기 희석 전압의 SiO2 농도에 희석 비율의 역수를 곱함으로써 현재 SiO2 농도를 구하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전해 산화법에 사용되는 전해질의 수명연장방법
|
| 3 |
3
제 1 항에 있어서,상기 (가)단계에서 세 개의 전해질 샘플을 준비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전해 산화법에 사용되는 전해질의 수명연장방법
|
| 4 |
4
제 1 항에 있어서,상기 전해질 샘플 및 상기 실제 플라즈마 전해 산화 공정이 수행된 전해질은 물유리(Si02·Na2O)와 수산화칼륨(KOH)를 포함하고, 상기 (마)단계에서 보충되는 SiO2 함유 물질은 물유리인 것을 특징으로 하는 플라즈마 전해 산화법에 사용되는 전해질의 수명연장방법
|
| 5 |
5
(가) SiO2 농도가 다른 복수의 전해질 샘플을 준비하는 단계;(나) 상기 복수의 전해질 샘플 각각의 플라즈마 양극 전압을 측정하여, 전해질 내 SiO2 농도의 변화에 따른 플라즈마 양극 전압의 변화를 나타내는 보정선(Calibration Line)을 구하는 단계;(다) 실제 플라즈마 전해 산화 공정이 수행된 전해질을 채취하여, 상기 (나)단계와 동일 조건에서 채취한 전해질의 플라즈마 양극 전압을 측정하는 단계; 및(라) 상기 (나)단계에서 구한 보정선과 상기 (다)단계에서 측정한 전압을 비교하여 실제 플라즈마 전해 산화 공정이 수행된 전해질 내 중합되지 않은 현재 SiO2 농도를 구하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전해 산화법에 사용되는 전해질 내 SiO2 농도의 분석방법
|
| 6 |
6
제 5 항에 있어서,상기 (다)단계에서 채취한 전해질을 희석시켜 희석된 전해질의 플라즈마 양극 희석 전압을 측정한 경우, 상기 (라)단계에서 상기 보정선을 이용하여 상기 희석 전압의 SiO2 농도를 구한 다음, 상기 희석 전압의 SiO2 농도에 희석 비율의 역수를 곱함으로써 현재 SiO2 농도를 구하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 전해 산화법에 사용되는 전해질 내 SiO2 농도의 분석방법
|
