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세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

  • 기술번호 : KST2015124719
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버(chamber)는, 세슘(Cs)을 이용하여 박막재료물질의 이온화를 활성화시키고 활성화에 관여한 물질을 차단시키며, 타게트(target)와 기판(substrate)에 인가된 소정 바이어스를 조절하여 발생된 음이온 박막재료물질의 에너지를 제어하는 챔버에 관한 것이다.본 발명은 제1전원이 인가되며 박막재료물질을 구비하고 있는 타게트장치, 소정의 분위기에서 박막재료물질의 이온화를 활성화시키기 위한 세슘을 구비하여 타게트장치로 공급하며 제2전원이 인가되는 세슘공급장치, 제3전원에 따라 박막재료물질의 활성화를 위한 소정의 활성화물질 입자들의 방출을 제어하며 이온화된 박막재료물질을 통과시키는 메쉬장치, 및 제4전원에 따라 메쉬장치를 통과한 이온화된 박막재료물질을 증착시키기 위한 기판을 지지하는 기판지지장치를 포함한다.따라서 본 발명은 타겟물질을 음이온화 시키는 세슘(Cs)을 이용하여, 소정 바이어스를 조절하여 발생된 음이온의 박막재료물질의 에너지를 제어함으로써 저온에서 기판상에 고품질의 박막을 증착함은 물론, 반도체소자를 위한 거의 모든 박막의 형성에 사용할 수 있다.챔버(chamber), 스퍼터링(sputtering), 전원(bias), 세슘(Cs), 메쉬, 저온
Int. CL H01L 21/203 (2006.01)
CPC C23C 14/3442(2013.01) C23C 14/3442(2013.01) C23C 14/3442(2013.01)
출원번호/일자 1020010049953 (2001.08.20)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2003-0016044 (2003.02.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.08.21)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이덕연 대한민국 경기도의정부시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이세진 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)(특허법인다나)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2001.08.20 수리 (Accepted) 1-1-2001-0207317-38
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2002-0063883-07
3 대리인변경신고서
Agent change Notification
2005.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2005-0352965-10
4 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2006.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2006-0000343-55
5 출원심사청구서
Request for Examination
2006.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2006-0591659-72
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.04.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.05.10 수리 (Accepted) 9-1-2007-0026514-52
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0461346-18
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2008.02.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0069160-62
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
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번호 청구항
1 1

반도체소자를 위한 박막 증착에 있어서,

소정의 제1전원이 인가되며 상기 박막증착을 위한 박막재료물질을 구비하고 있는 타게트장치;

소정의 분위기에서 상기 박막재료물질의 이온화를 활성화시키기 위한 세슘을 구비하여 상기 타게트장치로 공급하며 소정의 제2전원이 인가되는 세슘공급장치;

상기 타게트장치로부터 소정거리 이격되고 인가된 소정의 제3전원에 따라 상기 박막재료물질의 활성화를 위한 소정의 활성화물질 입자들의 방출을 제어하며 상기 이온화된 박막재료물질을 통과시키는 메쉬장치; 및

상기 메쉬장치로부터 소정거리 이격되고 인가된 소정의 제4전원에 따라 상기 메쉬장치를 통과한 이온화된 박막재료물질을 증착시키기 위한 기판을 지지하는 기판지지장치를 포함하며,

진공의 상태로 상기 박막 증착을 위한 소정 부피의 밀폐 공간상태로 형성되는 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

2 2

제1항에 있어서, 상기 챔버는

상기 박막재료물질을 음이온화하여 박막을 증착하는 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

3 3

제1항에 있어서, 상기 챔버는

상기 타게트장치와 상기 메쉬장치 사이의 소정분위기로 아르곤(Ar) 분위기를 조성하여 작동시키는 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

4 4

제1항에 있어서, 상기 타게트장치는

상기 박막재료물질을 구비하고 있는 타게트; 및

상기 타게트에 인가하여 상기 타게트 상부에 형성되는 상기 이온화된 박막재료물질 및 상기 소정의 활성화물질 입자들의 제어에 관련된 바이어스로 공급되는 상기 소정 제1전원의 타게트전원을 포함하는 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

5 5

제1항 또는 제4항에 있어서, 상기 타게트전원은

상기 박막재료물질의 이온활성화를 위한 고주파전원;

상기 고주파상태의 전원을 타게트에 효율적으로 매칭시키기 위해 상기 고주파전원에 직렬로 연결되는 매칭회로;

역방향으로 연결되고 가변가능한 상기 제1전원의 직류전원; 및

상기 고주파전원의 고주파성분의 분리를 위해 상기 직류전원에 직렬로 연결되는 저역통과필터를 포함하며,

상기 매칭회로와 상기 저역통화필터의 각 타단이 병렬로 결합되어 상기 타게트에 연결되는 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

6 6

제1항에 있어서, 상기 세슘공급장치는

상기 박막재료물질의 이온화를 위해 사용되는 세슘을 공급하는 세슘리저버(Cs reserver);

상기 타게트장치 및 상기 메쉬장치에 갖히는 플라즈마상태의 소정 입자들에 대한 전위를 낮추도록 조절가능한 상기 제2전원의 덮개전원; 및

상기 타게트장치상부에 세슘을 공급하기 위한 통로를 형성한 상태로 상기 타게트장치의 외부를 덮고 있으며 상기 덮개전원이 연결되어 있는 덮개를 포함하는 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

7 7

제1항에 있어서, 상기 메쉬장치는

다수의 미소구멍이 형성되어 있는 판형의 필터 형태이며, 상기 타게트장치의 타게트로부터 일정거리 이격되어 위치하는 메시그리드;

상기 메시그리드를 지지하는 그리드지지대; 및

인가된 상기 제3전원에 의해 상기 박막재료물질의 활성화를 위한 소정의 활성화물질 입자들의 방출을 차단하고 상기 이온화된 박막재료물질을 통과시키기 위한 상기 제3전원의 메쉬전원을 포함하는 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

8 8

제1항 또는 제7항에 있어서, 상기 메쉬전원은

활성화물질 입자들의 제어를 위해 구분된(floating) 상태에서 순방향 형태로 배열되는 직류형태의 전원인 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

9 9

제1항에 있어서, 상기 기판지지장치는

상기 메쉬장치로부터 소정거리 이격되며 상기 박막 증착이 수행되는 기판을 지지하는 기판지지대; 및

상기 기판 상의 박막증착을 위해 상기 이온화된 박막재료물질에 에너지를 가하는 상기 제4전원의 기판전원을 포함하는 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

10 10

제1항 또는 제9항에 있어서, 상기 기판전원은

상기 이온화된 박막재료물질에 에너지를 가하기 위해 상기 기판에 인가되는 역방형형태의 가변가능한 직류전원인 것을 특징으로 하는, 세슘을 이용한 금속이온 스퍼터링 챔버

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.