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BIST 장치에 있어서, 스캔에 인가되는 패턴의 천이를 감소시키는 수단과, 캡쳐된 후 스캔으로부터 배출되는 응답의 이동 천이를 감소시키는 수단을 포함하는, 유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소회로
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제1항에 있어서, 상기 스캔에 인가되는 패턴의 천이를 감소시키는 수단은 소정 경향의 테스트패턴을 생성하는 LFSR,상기 LFSR에서 출력되는 패턴의 천이수를 소정 기준치(k-value)와 비교하여 천이수가 k-value보다 클 경우는 직전에 스캔에 인가된 패턴을 피드백하여 천이가 억제된 벡터가 스캔에 인가되도록 하고, 상기 천이수가 k-value보다 적을 경우에는 LFSR에서 원래 생성된 패턴을 변형 없이 스캔에 인가되도록 하는 천이감시윈도우를 포함하는, 유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소회로
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제2항에 있어서, 상기 k-value는 아래의 식으로 구해지는 것을 특징으로 하는, 유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소회로
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제1항에 있어서, 상기 스캔으로부터 배출되는 응답의 이동 천이를 감소시키는 수단은 제1, 제2서브스캔(sub-scan),입력되는 테스트 패턴이 제1서브스캔에 먼저 채워지도록 제1서브스캔을 동작시키는 제1클록과, 제1서브스캔이 채워진 다음에 제2서브스캔을 동작시키는 제2클록을 발생시키는 게이티드 클록모듈,두 서브스캔이 모두 채워졌을 때에 이전 패턴에 의해 발생된 응답이 출력되는 MISR을 포함하는, 유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소회로
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BIST 방법에 있어서, 스캔에 인가되는 패턴의 천이를 감소시키는 단계와, 캡쳐된 후 스캔으로부터 배출되는 응답의 이동 천이를 감소시키는 단계를 포함하는, 유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소방법
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제5항에 있어서, 상기 스캔에 인가되는 패턴의 천이를 감소시키는 단계는 테스트 패턴의 천이수를 소정 기준치(k-value)와 비교하여 천이수가 k-value보다 클 경우는 직전에 스캔에 인가된 패턴을 피드백하여 천이가 억제된 벡터가 스캔에 인가되도록 하고, 상기 천이수가 k-value보다 적을 경우에는 LFSR에서 원래 생성된 패턴을 변형 없이 스캔에 인가되도록 하는 단계를 포함하는, 유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소방법
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제6항에 있어서, 상기 k-value는 아래의 식으로 구해지는 것을 특징으로 하 유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소방법
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제5항에 있어서, 상기 스캔으로부터 배출되는 응답의 이동 천이를 감소시키는 단계는 스캔을 제1, 제2서브스캔(sub-scan)으로 분할하는 단계,입력되는 테스트 패턴이 제1서브스캔에 먼저 채워지도록 제1서브스캔을 동작시키는 제1클록과, 제1서브스캔이 채워진 다음에 제2서브스캔을 동작시키는 제2클록을 발생시키는 단계, 두 서브스캔이 모두 채워졌을 때에 이전 패턴에 의해 발생된 응답을 출력하는 단계를 포함하는, 유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소방법
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