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이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법

  • 기술번호 : KST2015124871
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법에 관한 것이다. 더욱 상세하게는, 하나의 알고리즘(March A2PF)을 사용하여 이중 포트 메모리의 모든 고장을 검출하며 진단패턴(최대 5N+2 패턴)을 추가함으로써 모든 고장의 위치와 종류를 진단하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법에 관한 것이다.이를 위해, 본 발명은 따른 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법에 있어서, 서로 중복되는 마치 요소와 서로 독립적인 마치 요소들을 소정의 테스트 패턴으로 배열하는 알고리즘으로 테스트하는 제 1단계; 상기 제 1단계의 테스트로부터 상기 이중 포트 메모리의 고장을 검출하는 제 2단계; 상기 제 2단계에서 고장이 검출되면 응답 정보와 미리 생성된 고장 딕션너리를 통하여 검출된 고장을 분류하는 제 3단계; 상기 제 3단계에서 분류된 고장에 진단패턴을 추가하는 제 4단계; 상기 고장 딕션너리와 상기 진단패턴을 통하여 상기 검출된 고장의 종류를 진단하는 제 5단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.이중 포트 메모리, 테스트 알고리즘, 고장 진단, 고장모델
Int. CL G06F 11/00 (2006.01) G06F 11/26 (2006.01) G06F 11/34 (2006.01)
CPC G06F 11/263(2013.01) G06F 11/263(2013.01)
출원번호/일자 1020070013455 (2007.02.09)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0888612-0000 (2009.03.06)
공개번호/일자 10-2008-0074399 (2008.08.13) 문서열기
공고번호/일자 (20090317) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.02.09)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울 종로구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2007.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2007-0120491-19
2 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items		 2007.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2007-0121391-20
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.02.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0116234-34
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2008.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2008-0311897-12
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2008.04.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0311895-10
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0444926-70
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2008.10.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0743639-15
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2008.10.27 수리 (Accepted) 1-1-2008-0743642-42
9 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2009.02.06 수리 (Accepted) 1-1-2009-0076232-14
10 등록결정서
Decision to grant		 2009.02.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0089221-52
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법에 있어서,서로 중복되는 마치 요소와 서로 독립적인 마치 요소들을 소정의 테스트 패턴으로 배열하는 알고리즘으로 테스트하는 제 1단계;상기 제 1단계의 테스트로부터 상기 이중 포트 메모리의 고장을 검출하는 제 2단계;상기 제 2단계에서 고장이 검출되면 응답 정보와 미리 생성된 고장 딕션너리를 통하여 검출된 고장을 분류하는 제 3단계;상기 제 3단계에서 분류된 고장에 진단패턴을 추가하는 제 4단계;상기 고장 딕션너리와 상기 진단패턴을 통하여 상기 검출된 고장의 종류를 진단하는 제 5단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 제 1단계의 알고리즘은March A2PF 알고리즘인 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 제 1단계의 소정의 테스트 패턴은18N인 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
4 4
청구항 1에 있어서, 상기 제 3단계의 응답 정보는 FPs(Fault Primitives)와 결합셀과 피결합셀의 위치 관계에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 제 3단계의 고장 딕션너리는 1에서부터 18까지의 동작이 각각의 메모리 셀에 순차적으로 가해질 때, 나타나는 테스트 응답이 고장이 없는 메모리 셀의 테스트 응답과 동일하면 ‘0’을 동일하지 않으면 ‘1’을 저장하는 방식으로 생성되는 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
6 6
청구항 1에 있어서, 상기 제 4단계의 진단패턴은 최대 5N+2인 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 제 5단계에서 상기 진단패턴을 고장 그룹의 FPs에 하나의 포트만을 통하여 추가한 경우 고장이 발생하면 단일 포트(1PFs)와 관련된 고장이고, 고장이 발생하지 않으면 이중 포트(2PFs)와 관련된 고장으로 진단하는 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
8 8
청구항 1에 있어서, 상기 제 5단계에서 상기 진단패턴을 고장 셀에만 추가한 경우고장이 발생하면 하나의 셀(1PF1 또는 2PF1)과 관련된 고장이고, 고장이 발생하지 않으면 두 개의 셀(1PF2 또는 2PF2)과 관련된 고장으로 진단하는 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
9 9
청구항 1에 있어서, 상기 제5단계에서 상기 진단패턴을 고장 그룹의 FPs에 하나의 포트만을 통하여 추가하는 경우, 고장이 발생하면 단일 포트(1PFs)와 관련된 고장이고, 고장이 발생하지 않으면 이중 포트(2PFs)와 관련된 고장으로 진단하고, 상기 제5단계에서 상기 진단패턴을 고장 셀에만 추가한 경우, 고장이 발생하면 하나의 셀(1PF1 또는 2PF1)과 관련된 고장이고, 고장이 발생하지 않으면 두 개의 셀(1PF2 또는 2PF2)과 관련된 고장으로 진단하고, 상기 진단패턴을 고장 그룹의 FPs에 하나의 포트만을 통하여 추가한 경우의 고장 진단 과정과, 상기 진단패턴을 고장 셀에만 추가한 경우의 고장 진단 과정으로 구별되지 않는 고장을 결합 고장으로 진단하는 것을 특징으로 하는 이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법
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