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(a) 램프 신호를 발생시키는 단계;(b) 상기 신호를 아날로그-디지털 변환기에 입력시키는 단계;(c) 상기 변환기의 출력 중 하위 두 비트를 입력받아 천이를 감지하는 단계;(d) 상기 변환기의 출력 중 하위 두 비트 및 상기 감지된 천이를 입력받아 INL을 검출하여 정적 파라미터를 계산하는 단계;(e) 상기 감지된 천이를 입력받아 DNL을 검출하여 정적 파라미터를 계산하는 단계;(f) 상기 계산된 정적 파라미터를 이용하여 변환기의 고장 유무를 판단하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 1에 있어서,상기 (a) 단계 후 (b) 단계 전에 있어서,상기 발생된 램프 신호가 아날로그 MUX를 통과하는 단계를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 2에 있어서, 상기 아날로그 MUX는, 정상 동작 모드와 테스트 모드를 구분하여 입력 신호를 결정하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 1에 있어서,상기 (c) 단계는, 2 비트의 상향 카운터와 상기 ADC의 하위 두 비트 값을 비교하여 천이 발생 여부를 판단하는 단계;천이가 발생한 경우 천이 신호를 전송하고 상기 2 비트의 상향 카운터 값을 1만큼 증가시키는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 한 항에 있어서,상기 (d) 단계는,2 비트 카운터의 값을 상기 ADC의 하위 2비트와 일치하도록 설정하는 단계;(2+m) 비트 카운터를 테스트 시작점에서부터 카운트하는 단계;천이 신호가 전달되는 단계;상기 2 비트 카운터의 값을 1 증가시키는 단계;상기 2 비트 카운터 값과 상기 (2+m) 비트 카운터의 상위 2 비트 값을 비교하여 INL 값을 검출하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 한 항에 있어서,상기 (e) 단계는,천이 신호가 검출되는 단계;카운터 및 업/다운 레지스터를 초기화하는 단계;이상적인 시간 간격(1 LSB)이 지날 경우 카운터 값이 0이 되도록 일정한 시간 간격으로 카운터 값을 감소시키는 단계;상기 카운터 값의 감소 단계에 의하여 카운터 값이 0이 된 경우, 일정한 시간 간격으로 카운터 값을 증가시키는 단계;상기 카운터 값을 감소 또는 증가시키는 단계 진행 중 천이 신호가 검출될 경우, 상기 카운터 값을 이용하여 DNL 값을 검출하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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(a) 램프 신호를 발생시키는 단계;(b) 상기 신호를 아날로그-디지털 변환기에 입력시키는 단계;(c) 상기 변환기의 출력 중 하위 두 비트를 입력받아 천이를 감지하는 단계;(d) 상기 감지된 천이를 입력받아 DNL을 검출하여 정적 파라미터를 계산하는 단계;(e) 상기 변환기의 출력 중 하위 두 비트 및 상기 감지된 천이를 입력받아 INL을 검출하여 정적 파라미터를 계산하는 단계;(f) 상기 계산된 정적 파라미터를 이용하여 변환기의 고장 유무를 판단하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 7에 있어서,상기 (a) 단계 후 (b) 단계 전에 있어서,상기 발생된 램프 신호가 아날로그 MUX를 통과하는 단계를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 8에 있어서, 상기 아날로그 MUX는, 정상 동작 모드와 테스트 모드를 구분하여 입력 신호를 결정하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 7에 있어서,상기 (c) 단계는, 2 비트의 상향 카운터와 상기 ADC의 하위 두 비트 값을 비교하여 천이 발생 여부를 판단하는 단계;천이가 발생한 경우 천이 신호를 전송하고 상기 2 비트의 상향 카운터 값을 1만큼 증가시키는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 7 내지 청구항 10 중 어느 한 항에 있어서,상기 (d) 단계는,천이 신호가 검출되는 단계;카운터 및 업/다운 레지스터를 초기화하는 단계;이상적인 시간 간격(1 LSB)이 지날 경우 카운터 값이 0이 되도록 일정한 시간 간격으로 카운터 값을 감소시키는 단계;상기 카운터 값의 감소 단계에 의하여 카운터 값이 0이 된 경우, 일정한 시간 간격으로 카운터 값을 증가시키는 단계;상기 카운터 값을 감소 또는 증가시키는 단계 진행 중 천이 신호가 검출될 경우, 상기 카운터 값을 이용하여 DNL값을 검출하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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청구항 7 내지 10 중 어느 한 항에 있어서,상기 (e) 단계는,2 비트 카운터의 값을 상기 ADC의 하위 2비트와 일치하도록 설정하는 단계;(2+m) 비트 카운터를 테스트 시작점에서부터 카운트하는 단계;천이 신호가 전달되는 단계;상기 2 비트 카운터의 값을 1 증가시키는 단계;상기 2 비트 카운터 값과 상기 (2+m) 비트 카운터의 상위 2 비트 값을 비교하여 INL 값을 검출하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법
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13
램프 신호를 발생시키는 램프 신호 발생기;상기 램프 신호 발생기에 연결되어 상기 램프 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환기;상기 변환기에 연결되어 변환기의 출력 중 하위 두 비트를 이용하여 천이를 감지하고 전송하는 천이 검출기;(2+m) 비트의 크기를 갖는 참조 카운터;상기 변환기, 천이 검출기 그리고 참조 카운터에 연결되어, 변환기의 출력 중 하위 두 비트, 천이 신호, 참조 카운터의 값을 이용하여 INL을 검출하는 INL 검출부;상기 천이 검출기에 연결되어, 천이 신호를 이용하여 DNL을 검출하는 DNL 검출부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치
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청구항 13에 있어서,상기 램프 신호 발생기와 아날로그-디지털 변환기 사이에 연결되는 아날로그 MUX (AMUX) 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치
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청구항 14에 있어서,상기 아날로그 MUX는, 정상 동작 모드와 테스트 모드를 구분하여 입력 신호를 결정하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치
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16
청구항 13에 있어서,상기 천이 검출기는,2 비트의 상향 카운터를 포함하여 구성되며, 상기 상향 카운터와 ADC의 하위 두 비트를 비교하여 두 값이 같은 경우 천이 발생 신호를 생성하고 상기 상향 카운터 값을 1 증가시키는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치
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청구항 13 내지 16 중 어느 한 항에 있어서,상기 INL 검출부는,2 비트의 카운터를 포함하여 구성되며, 상기 2 비트 카운터는 ADC의 하위 2 비트와 일치하도록 초기화되고, 천이 신호가 감지되면 값이 1 증가되며, 상기 (2+m) 크기의 참조 카운터의 상위 두 비트와 값이 비교되어 두 개의 값이 일치할 경우 INL 오류가 없는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치
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청구항 13 내지 16 중 어느 한 항에 있어서,상기 DNL 검출부는,카운터 및 업/다운 레지스터를 포함하여 구성되며, 천이가 검출되면 하향 카운트를 시작하고, 상기 하향 카운트에 의해 카운터 값이 0이 될 경우에는 상향 카운트를 시작하며, 상기 하향 또는 상향 카운트 중 천이 신호가 감지될 경우 상기 카운터 값을 이용하여 DNL을 계산하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치
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청구항 13 내지 16 중 어느 한 항에 있어서,상기 (2+m) 비트의 크기를 갖는 참조 카운터는,상기 m의 값은 INL의 허용 스펙 범위에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치
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