| 1 |
1
위상고정루프의 자체내장 테스트(Built-In Self Test) 장치에 있어서,
상기 위상고정루프의 전압제어발진기의 원 출력신호와 상기 원 출력신호의 주파수가 분주된 분주신호들을 상기 위상고정루프의 주파수 분주기(Divider By N)로부터 입력받아, 각 신호들간의 레벨 천이를 검출하여 디지털 형태로 출력하는 제1 천이검출부;
상기 제1 천이검출부로부터 출력된 레벨 천이값과, 상기 제1 천이검출부로부터 시간상으로 이전에 출력된 레벨 천이값을 서로 비교하여 상호간의 레벨 천이를 디지털 형태로 출력하는 제2 천이검출부; 및
상기 제2 천이검출부의 출력값을 통해 천이 횟수를 계산하고, 이를 통해 상기 위상고정루프의 고장여부를 판단하는 천이횟수 계산부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,
상기 제1 천이검출부의 이전 출력값을 기억했다가, 상기 제1 천이검출부로부터 상기 제2 천이검출부로 상기 이전 출력값의 다음 출력값이 입력되면, 기억된 상기 이전 출력값을 출력하는 딜레이(delay)부를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 3 |
3
제2항에 있어서,
상기 딜레이부는 D래치(latch) 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 4 |
4
제3항에 있어서,
상기 D래치 소자의 입력클럭은 상기 위상고정루프의 기준 주파수(reference frequency) 발진기로부터 입력되는 기준 주파수인 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 5 |
5
제4항에 있어서,
상기 기준 주파수 발진기의 파형이 포지티브(positive)일 때만 정상동작 여부를 테스트하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 6 |
6
제1항에 있어서,
상기 제1 천이검출부와 상기 제2 천이검출부는 XOR(eXclusive OR) 연산기로 구현되는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 7 |
7
제6항에 있어서,
상기 천이횟수 계산부는 상기 제2 천이검출부의 출력값을 조합한 결과, "1"값이 단 한 번 나타나는 경우 이외에는 상기 전압제어발진기의 원 출력신호가 왜곡된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 8 |
8
제6항에 있어서,
상기 천이횟수 계산부는 상기 제1 천이검출부의 이전 출력값과 현재 출력값 간의 해밍 거리(hamming distance)가 1인 경우에만 상기 위상고정루프의 작동을 정상으로 판단하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 9 |
9
제2항에 있어서, 상기 제1 천이검출부는 상기 원 출력신호와 상기 분주신호 중 1/2 분주신호 간의 XOR연산값을 출력하는 제1 XOR 네트워크1, 상기 분주신호 중 상기 1/2 분주신호와 1/4 분주신호 간의 XOR연산값을 출력하는 제1 XOR 네트워크2 및 상기 분주신호 중 상기 1/4 분주신호와 1/8 분주신호 간의 XOR연산값을 출력하는 제1 XOR 네트워크3을 포함하고,
상기 딜레이부는 상기 제1 XOR 네트워크1의 이전 출력값을 기억했다가 출력하는 D래치1, 상기 제1 XOR 네트워크2의 이전 출력값을 기억했다가 출력하는 D래치2 및 상기 제1 XOR 네트워크3의 이전 출력값을 기억했다가 출력하는 D래치3을 포함하며,
상기 제2 천이검출부는 상기 제1 XOR 네트워크1의 출력값과 상기 D래치1의 출력값 간의 XOR연산값을 출력하는 제2 XOR 네트워크1, 상기 제1 XOR 네트워크2의 출력값과 상기 D래치2의 출력값 간의 XOR연산값을 출력하는 제2 XOR 네트워크2, 및 상기 제1 XOR 네트워크3의 출력값과 상기 D래치3의 출력값 간의 XOR연산값을 출력하는 제2 XOR 네트워크3을 포함하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 10 |
10
제9항에 있어서,
상기 D래치3의 데이터 단자와 컨트롤 단자에는 상기 위상고정루프의 기준 주파수 발진기로부터 기준 주파수가 입력되되, 각각 "1"값이 입력되는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 장치
|
| 11 |
11
전압의 변화에 따라 발진을 만드는 전압제어발진기(VCO);
상기 전압제어발진기에서 출력된 출력주파수를 받아 낮은 주파수로 분주하거나, 새로운 주파수를 합성하는 주파수 분주기;
상기 주파수 분주기에서 출력된 주파수와 기준 주파수 발진기에서 출력된 기준 주파수의 위상차를 검출하는 위상 검출기(phase detector);
상기 위상 검출기를 통해 검출된 위상차만큼 내부 전하를 조절하는 전하 펌프(charge pump); 및
제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 따른 자체내장 테스트 장치
를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프
|
| 12 |
12
위상고정루프의 자체내장 테스트(Built-In Self Test) 방법에 있어서,
(a) 상기 위상고정루프의 전압제어발진기의 원 출력신호와 상기 원 출력신호의 주파수가 분주된 분주신호들을 입력받아 각 신호들간에 XOR(eXclusive OR) 연산을 수행하여 레벨 천이를 디지털 형태로 출력하는 단계;
(b) 상기 (a)단계로부터 출력된 레벨 천이값과, 상기 (a)단계로부터 시간상으로 이전에 출력된 레벨 천이값 간에 XOR 연산을 수행하여 레벨 천이를 디지털 형태로 출력하는 단계; 및
(c) 상기 (b)단계로부터 출력된 출력값을 통해 천이 횟수를 계산하고, 이를 통해 상기 위상고정루프의 고장여부를 판단하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법
|
| 13 |
13
제12항에 있어서,
상기 (a)단계에서 출력된 이전 출력값을 기억했다가, 상기 (b)단계를 수행하기 위해 현재 출력값이 입력되면 기억되어 있던 상기 이전 출력값을 출력하는 딜레이(delay) 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법
|
| 14 |
14
제12항에 있어서,
상기 (c)단계는 상기 (b)단계의 출력값을 조합하여 "1"값이 단 한 번 나타날 때만 정상작동으로 판단하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법
|
| 15 |
15
제13항에 있어서,
상기 딜레이 단계에서 상기 위상고정루프로부터 기준 주파수 클럭을 입력받아 상기 기준 주파수가 활성화(active high)로 되는 동안 상기 (a)단계의 XOR 값들을 저장한 후, 상기 (b)단계에서 상기 저장값과 상기 현재 출력값 간의 XOR 연산을 수행하는 것을 특징으로 하는 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법
|
| 16 |
16
제12항 내지 제15항 중 어느 한 항에 따른 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법이 프로그램으로 수록된 컴퓨터가 판독가능한 저장매체
|
