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심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및장치

  • 기술번호 : KST2015125038
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 스캔 체인 고장 진단 방법 및 장치에 관한 것으로서, 특히 스캔 체인 내부의 고장으로 인한 칩의 불량을 줄이는데 사용되는 스캔 체인 내부의 고장 스캔 셀을 검출하는 방법 및 장치를 개시한다. 본 발명의 스캔 체인 고장 진단 방법은 복수개의 스캔 체인들을 고장 스캔 체인과 정상 스캔 체인으로 구분하고, 고장 스캔 체인의 고장 유형을 결정하는 단계; 및 고장 스캔 체인에서 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하는 단계; 심볼릭 테스트 패턴에 따른 시뮬레이션 출력값을 이용하여 고장 스캔 체인에서 고장난 스캔 셀을 결정하는 단계를 포함한다. 본 발명에 따르면, 스캔 셀의 고장 진단율을 향상시킬 수 있고, 또한 스캔 체인 내부의 단일 고장 뿐만 아니라 복수개의 스캔 셀에 다중 고장이 있는 경우에도 고장난 스캔 셀의 정확한 위치를 탐색할 수 있다. 스캔 체인, 스캔 셀, 심볼릭 시뮬레이션
Int. CL G01R 31/28 (2006.01) G06F 17/50 (2006.01)
CPC G01R 31/2851(2013.01) G01R 31/2851(2013.01) G01R 31/2851(2013.01) G01R 31/2851(2013.01) G01R 31/2851(2013.01) G01R 31/2851(2013.01)
출원번호/일자 1020070078815 (2007.08.07)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0901522-0000 (2009.06.01)
공개번호/일자 10-2009-0014690 (2009.02.11) 문서열기
공고번호/일자 (20090608) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.08.07)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울 종로구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인우인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 중평빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2007.08.07 수리 (Accepted) 1-1-2007-0571138-73
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.09.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.10.15 수리 (Accepted) 9-1-2008-0068472-30
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0605875-16
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2009.01.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0053950-94
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2009.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2009-0053911-13
7 등록결정서
Decision to grant		 2009.05.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0220998-94
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
스캔 체인 고장 진단 방법에 있어서, a) 복수개의 스캔 체인들을 고장 스캔 체인과 정상 스캔 체인으로 구분하고, 고장 스캔 체인의 고장 유형을 결정하는 단계; b) 상기 고장 스캔 체인에서 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하는 단계; 및 c) 상기 복수개의 스캔 체인들에 입력되는 테스트 패턴들 중 상기 b)단계에서 결정된 고장 스캔 셀 후보 그룹에 속하는 스캔 셀에 입력되는 테스트 패턴을 수정하되, 상기 a)단계에서 결정된 고장의 유형에 따른 영향을 받을 수 있는 스캔 셀에 대한 입력값을 변수 처리한 심볼릭 테스트 패턴으로 수정하고, 상기 심볼릭 테스트 패턴에 따른 시뮬레이션 출력값을 이용하여 상기 고장 스캔 체인에서 고장난 스캔 셀을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 c)단계는 상기 복수개의 스캔 체인들에 고장난 스캔셀을 결정하기 위한 소정의 테스트 패턴들을 각각 입력함에 따른 정상 스캔 체인의 실제 출력값과 시뮬레이션 출력값을 더욱 고려하여 고장난 스캔 셀을 결정하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 a)단계는 플러시 테스트 패턴을 이용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 b)단계는 b1) 상기 복수 개의 스캔 체인들의 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하기 위한 소정의 테스트 패턴 들 중에서 상기 고장 스캔 체인의 테스트 패턴을 X로 수정하고, 상기 수정된 테스트 패턴에 따른 고장 스캔 체인의 시뮬레이션 출력값을 계산하는 단계; b2) 상기 b1) 단계에서 계산된 시뮬레이션 출력값과, 상기 복수 개의 스캔 체인들의 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하기 위한 소정의 테스트 패턴들에 따른 시뮬레이션 출력값을 이용하여 상기 고장 스캔 셀 후보 그룹의 상한 또는 하한을 결정하는 단계; b3) 상기 복수개의 스캔 체인들에 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하기 위한 상기 소정의 테스트 패턴들 중 상기 상기 결정된 상한 또는 하한을 기준으로 상기 고장 스캔 체인의 테스트 패턴을 재수정하고, 상기 재수정된 테스트 패턴에 따른 상기 고장 스캔 체인의 시뮬레이션 출력값을 계산하는 단계; 및 b4) 상기 b3)단계에서 계산된 출력값을 이용하여 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 고장 스캔 체인의 테스트 패턴을 재수정하는 것은, 상기 복수개의 스캔 체인들에 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하기 위한 상기 소정의 테스트 패턴들 중 상기 b2)단계에서 결정된 상한 또는 하한을 기준으로 고장의 영향을 고려할 수 없는 스캔 셀의 입력값은 X로 하고, 고장의 영향을 고려할 수 있는 스캔 셀의 입력값은 상기 고장 유형에 따른 입력값으로 수정하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 b4)단계에서 계산된 출력값을 이용하여 고장 후보 그룹을 결정하는 것은, b41) 상기 고장 스캔 체인을 이루는 각각의 스캔 셀에 상기 재수정된 테스트 패턴을 입력시키는 단계; 및 b42) 상기 각각의 스캔 셀에 입력된 값을 쉬프트 시킴에 따라 얻어지는 상기 고장 스캔 체인의 출력값과, 상기 b41) 단계에서 상기 스캔 셀에 입력된 값을 이용하여 상기 고장 스캔 셀 후보 셀 그룹을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 b)단계는 b1) 상기 고장 스캔 체인을 이루는 각각의 스캔 셀에 소정의 패턴의 입력값을 입력시키는 단계; 및 b2) 상기 입력값과 상기 각각의 스캔 셀의 입력값을 쉬프트 시키고, 상기 고장 스캔 체인의 출력값을 이용하여 상기 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 c) 단계는 c1) 상기 고장 스캔 체인에서 상기 고장난 스캔 셀을 결정하기 위해 상기 복수개의 스캔 체인들에 입력되는 소정의 테스트 패턴들 중 상기 고장 스캔 체인에 입력되는 테스트 패턴을 상기 b)단계에서 결정된 고장 스캔 셀 후보 그룹에 속하는 스캔 셀의 입력값을 변수 처리한 심볼릭 테스트 패턴으로 수정하는 단계; c2) 상기 심볼릭 테스트 패턴에 따른 정상 스캔 체인의 시뮬레이션 출력값을 계산하는 단계; c3) 상기 c1) 단계의 고장난 스캔 셀을 결정하기 위해 상기 복수개의 스캔 체인들에 입력되는 소정의 테스트 패턴을 입력함에 따른 상기 정상 스캔 체인의 시뮬레이션 출력값을 계산하는 단계; c4) 상기 c1) 단계의 고장난 스캔 셀을 결정하기 위해 상기 복수개의 스캔 체인들에 입력되는 소정의 테스트 패턴을 상기 복수개의 스캔 체인에 입력함에 따른 상기 정상 스캔 체인의 실제 출력값을 측정하는 단계; 및 c5) 상기 c2), c3) 및 c4)단계의 출력값을 이용하여 고장 스캔 셀을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 심볼릭 패턴은 상기 c1) 단계에서 상기 고장 스캔 체인에 입력되는 테스트 패턴에서 상기 b)단계를 통해 결정된 고장 스캔 셀 후보 그룹에 혹하는 스캔 셀의 입력값 중 스캔 체인 고장에 따른 영향을 받을 수 있는 입력값을 SFi - 여기에서 i는 스캔 셀의 위치이다 - 로 수정한 패턴인 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 c5)단계에서 상기 고장 스캔 셀을 결정하는 것은, 상기 c2) 단계에서 계산된 시뮬레이션 출력값 들 중에서 상기 SFi와 관련된 출력값을 선택하고, 상기 c3)와 c4) 단계를 통해 계산된 상기 정상 스캔 체인의 시뮬레이션 출력값과 실제 출력값의 쌍들 중에서, 상기 선택된 출력값에 따른 스캔 셀의 출력값이 동일한지 여부에 따라 고장 스캔 셀 여부와 관련된 고장 지수를 조절시키며, 상기 조절된 고장 지수와 소정의 기준값의 대소 비교를 통해 고장 스캔 셀을 결정하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 고장 지수를 조절시키는 것은, 상기 c1)와 c3) 단계를 통해 계산된 상기 정상 스캔 체인의 출력값들 중에서 상기 선택된 출력값에 따른 스캔 셀의 출력값이 동일한 경우, 상기 SFi와 관련된 스캔 셀의 고장 지수값을 감소시키거나, 또는 SFi와 관련된 스캔 셀을 상기 고장 스캔 셀 후보 그룹에서 제외시키고, 상기 c1)와 c3) 단계를 통해 계산된 상기 정상 스캔 체인의 출력값들 중에서 상기 선택된 출력값에 따른 스캔 셀의 출력값이 상이한 경우, 상기 SFi와 관련된 스캔 셀의 고장 지수값을 증가시키는 것임을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 방법
12 12
제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 따른 스캔 체인 고장 진단 방법을 컴퓨터 상에서 수행하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체
13 13
스캔 체인 고장 진단 장치에 있어서, 복수개의 스캔 체인들을 고장 스캔 체인과 정상 스캔 체인으로 구분하고, 고장 스캔 체인의 고장 유형을 결정하는 고장 스캔 체인 결정부; 상기 고장 스캔 체인에서 고장 스캔 셀 후보 그룹을 결정하는 후보 그룹 결정부; 및 상기 복수개의 스캔 체인들에 입력되는 테스트 패턴들 중 상기 결정된 고장 스캔 셀 후보 그룹에 속하는 스캔 셀에 입력되는 테스트 패턴을 수정하되, 상기 결정된 고장의 유형에 따른 영향을 받을 수 있는 스캔 셀에 대한 입력값을 변수 처리한 심볼릭 테스트 패턴으로 수정하고, 상기 심볼릭 테스트 패턴에 따른 시뮬레이션 출력값을 이용하여 상기 고장 스캔 체인에서 고장난 스캔 셀을 결정하는 고장 스캔 셀 결정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 장치
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 고장 스캔 셀 결정부는 상기 복수개의 스캔 체인들에 고장난 스캔셀을 결정하기 위한 소정의 테스트 패턴들을 각각 입력함에 따른 정상 스캔 체인의 실제 출력값과 시뮬레이션 출력값을 더욱 고려하여 고장난 스캔 셀을 결정하는 것을 특징으로 하는 스캔 체인 고장 진단 장치
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