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유기 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015125041
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요약 본 발명은 게이트 절연막의 벌크 및 표면 특성을 개선할 수 있는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법 및 상기 제조 방법에 의해 형성된 유기 박막 트랜지스터를 제공하는 것을 목적으로 한다.상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법은, 이온빔 보조 증착법(Ion Beam Assisted Deposition ; IBAD)으로 게이트 절연막을 형성하는 단계와, 유기 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따른 유기 박막 트랜지스터는, 이온빔 보조 증착법에 의해 형성된 게이트 절연막과, 유기 물질로 형성된 반도체층을 포함하는 것을 특징으로 한다.이와 같이, 게이트 절연막을 종래의 전자빔 증착법으로 형성하지 않고, 이온빔 보조 증착법으로 높은 충진 밀도를 가지는 게이트 절연막을 형성함에 따라, 낮은 누설전류, 높은 유전율과 높은 광투과도를 가지는 유기 박막 트랜지스터를 제공하는 것이 가능하다.유기 박막 트랜지스터, 이온빔 보조 증착법, 게이트 절연막
Int. CL H01L 29/786 (2006.01)
CPC H01L 51/0525(2013.01) H01L 51/0525(2013.01)
출원번호/일자 1020070083278 (2007.08.20)
출원인 엘지디스플레이 주식회사, 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1374106-0000 (2014.03.07)
공개번호/일자 10-2009-0019102 (2009.02.25) 문서열기
공고번호/일자 (20140314) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.07.31)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
2 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김병걸 대한민국 경기도 군포시 번영로 ***, 한라아파트 *
2 백홍구 대한민국 서울특별시 강남구
3 조성진 대한민국 서울 강남구
4 김창수 대한민국 서울특별시 서대문구
5 이성원 대한민국 충청남도 당진군
6 허재석 대한민국 경기도 군포시 산본로 ***, 충무*차아파트 *
7 전웅기 대한민국 경기도 안양시 동안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)
2 박영복 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층(역삼동, 삼화빌딩)(특허법인 두성)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 서울특별시 영등포구
2 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.08.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0598344-48
2 [전자문서첨부서류]전자문서첨부서류등 물건제출서
[Attachment to Electronic Document] Submission of Object such as Attachment to Electronic Document
2007.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-5074783-61
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.04.18 수리 (Accepted) 4-1-2008-5061241-15
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
8 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2012.07.31 수리 (Accepted) 1-1-2012-0611379-59
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
10 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.06.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
12 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.07.08 수리 (Accepted) 9-1-2013-0051865-45
13 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.08.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0564615-29
14 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2013-0935724-53
15 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.10.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0935725-09
16 등록결정서
Decision to grant
2014.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0143925-05
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
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번호 청구항
1 1
기판 상에 게이트 전극을 형성하는 단계;상기 게이트 전극을 포함한 기판 전면에 이온빔 보조 증착법으로 실리콘다이옥사이드(SiO2)와 세륨다이옥사이드(CeO2)를 함께 증착하여, 게이트 절연막을 형성하는 단계;상기 게이트 절연막 상부에 유기 반도체층을 형성하는 단계;상기 유기 반도체층 상부에 소스 전극 및 상기 소스 전극과 마주보도록 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 게이트 절연막 상부에 유기절연막을 더 형성하는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
제 1 항에 있어서,상기 게이트 절연막은 지르코늄 또는 하프늄 등의 원소의 산화물을 함께 증착하여 형성하는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법
6 6
제 2 항에 있어서,상기 유기절연막은 PVP(PolyVinyl Phenol), 폴리이미드, BCB(BenzoCyclo Butene), 파릴렌(parylene) 중 어느 하나를 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법
7 7
제 1 항에 있어서,상기 유기 반도체층으로 펜타센(pentacene), 테트라센(tetracene), 안트라센(anthracene), 나프탈렌(naphthalene), 알파 6-티오펜, 페릴렌(perylene) 및 그 유도체, 루브렌(rubrene) 및 그 유도체, 코로넨(coronene) 및 그 유도체, 페릴렌 테트라카르복실릭디이미드(perylene tetracarboxylic diimide) 및 그 유도체, 페릴렌 테트라카르복실리 디안하이드라이드(perylene tetracarboxylic dianhydride) 및 그 유도체, 폴리티오펜 및 그 우도체, 폴리파라페릴렌비닐렌 및 그 유도체, 폴리플로렌 및 그 유도체, 폴리티오펜비닐렌 및 그 유도체 중 어느 하나를 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법
8 8
제 1 항에 있어서,상기 이온빔 보조 증착법으로 게이트 절연막을 형성하는 단계에서, 아르곤 이온, 크립톤 이온, 또는 제논 이온 중 어느 하나를 이용하는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법
9 9
제 8 항에 있어서,상기 이온빔 보조 증착법으로 게이트 절연막을 형성하는 단계에서, 산소 가스를 함께 공급하여 주는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법
10 10
제 1 항에 있어서,상기 기판으로 유리 재질의 기판 또는 플라스틱 재질의 기판을 이용하는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터의 제조 방법
11 11
기판 상에 형성된 게이트 전극;상기 게이트 전극을 포함한 기판 전면에 이온빔 보조 증착법으로 실리콘다이옥사이드(SiO2)와 세륨다이옥사이드(CeO2)를 함께 증착하여 형성된 게이트 절연막; 상기 게이트 전극 상부에 상기 게이트 절연막을 사이에 두고 형성된 유기 반도체층;상기 유기 반도체층 상부에 형성된 소스 전극 및 상기 소스 전극과 마주보도록 형성된 드레인 전극을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터
12 12
제 11 항에 있어서,상기 게이트 절연막과 상기 유기 반도체층 사이에 유기 절연막이 더 형성된 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터
13 13
삭제
14 14
삭제
15 15
제 11 항에 있어서,상기 게이트 절연막은 지르코늄 또는 하프늄의 산화물을 더 포함하여 형성된 것을 특징으로 하는 유기 박막 트랜지스터
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.