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1
할로겐 화합물로 표면 처리된 시료; 및상기 시료의 표면에 흡착된 일정 농도의 수은을 포함하는 수은 분석용 표준물질
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2
제1항에 있어서,할로겐 화합물이 CCl4, CH2CHCH2Br 및 CH3I로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 수은 분석용 표준물질
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3
제1항에 있어서,시료는 고체 시료인 수은 분석용 표준물질
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4
제3항에 있어서,고체 시료는 곡물, 식품, 비료, 사료, 고분자, 또는 토양인 수은 분석용 표준물질
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5
제1항에 있어서,시료는 분말 형태로 가공된 것인 수은 분석용 표준물질
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6
제1항에 있어서,수은은 표면 처리된 시료 1g에 대하여 0
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7
시료의 표면에 할로겐 화합물을 처리하는 단계; 및상기 표면 처리된 시료에 일정 농도의 수은을 흡착시키는 단계를 포함하는 수은 분석용 표준물질의 제조방법
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8
제7항에 있어서,시료는 분쇄 및 균질화 단계를 통해 가공된 고체 시료인 수은 분석용 표준물질의 제조방법
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9
제8항에 있어서,시료는 75㎛ 이하의 크기를 갖는 수은 분석용 표준물질의 제조방법
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10
제7항에 있어서,표면 처리 단계는 시료 및 할로겐 화합물의 혼합물을 10,000 내지 20,000 rpm의 속도로 10 내지 15 분 동안 균질화한 후 10 내지 20 분 휴식하는 방법을 1 내지 3회 반복하여 실시하는 수은 분석용 표준물질의 제조방법
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11
제7항에 있어서,수은의 흡착 단계는 표면 처리된 시료 및 수은 용액의 혼합물을 10,000 내지 20,000 rpm의 속도로 10 내지 15 분 동안 균질화한 후 10 내지 20 분 휴식하는 방법을 1 내지 3회 반복하여 실시하는 수은 분석용 표준물질의 제조방법
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12
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 따른 표준물질을 포함하는 수은 분석 키트
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13
제12항에 따른 수은 분석 키트를 이용하여 수은을 분석하는 방법
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