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기준 신호, 엣지 버니어와 정수 지연 생성기의 동작 제어신호 및 상기 엣지 버니어의 처리 신호를 입력받아, 상기 기준 신호를 소정 간격 지연시킨 출력 신호를 생성하는 오프셋 보정부를 포함하며,상기 오프셋 보정부는,상기 기준 신호 및 상기 동작 제어신호의 위상차를 디지털 값으로 변환하는 시간-디지털 변환부; 그리고상기 디지털 값을 설정된 값과 비교하여 상기 출력 신호를 생성하는 비교부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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제2 항에 있어서,상기 비교부는 상기 디지털 값이 상기 설정된 값과 같은 경우 출력 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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제2 항에 있어서,상기 오프셋 보정부는,상기 비교부가 상기 출력 신호를 생성하는 경우 상기 디지털 값을 리셋하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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제2 항에 있어서,상기 시간-디지털 변환부는,상기 기준 신호의 상승 엣지와 상기 동작 제어신호의 상승 엣지의 위상차를 디지털 값으로 변환하여 출력하는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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제5 항에 있어서,상기 시간-디지털 변환부는 상기 디지털 값이 상기 설정된 값과 같아질 때까지 동작하는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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제2 항에 있어서,상기 시간-디지털 변환부는,상기 기준 신호의 상승 엣지와 상기 동작 제어신호의 상승 엣지의 위상차를 디지털 값으로 변환하여 출력하고,상기 디지털 값이 상기 설정된 값보다 작은 경우,상기 엣지 버니어의 처리 신호의 상승 엣지에 동기하여 상기 디지털 값이 상기 설정된 값과 같아질 때까지 동작하는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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제2 항에 있어서,상기 소정 간격은 상기 설정된 값에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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제2 항에 있어서,상기 오프셋 보정부는 상기 기준 신호 및 상기 동작 제어신호의 위상차에 독립적으로 상기 출력 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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기준 신호, 엣지 버니어와 정수 지연 생성기의 동작 제어신호 및 상기 엣지 버니어의 처리 신호를 입력받아, 상기 기준 신호를 소정 간격 지연시킨 출력 신호를 생성하는 오프셋 보정부를 포함하며,상기 기준 신호는 상기 동작 제어신호의 주파수와 같거나, 상기 동작 제어신호의 주파수보다 낮은 주파수를 갖는 것을 특징으로 하는 신호 발생 장치
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기준 신호, 엣지 버니어와 정수 지연 생성기의 동작 제어신호 및 상기 엣지 버니어의 처리 신호를 입력받아 상기 기준 신호를 소정 간격 지연시킨 복수의 출력 신호를 생성하는 오프셋 보정부; 그리고상기 복수의 출력 신호의 상승 엣지마다 토글링(toggling)하여 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 발생부를 포함하는 자동 테스트 장치
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제11 항에 있어서,상기 오프셋 보정부는,상기 기준 신호 및 상기 동작 제어신호의 위상차를 디지털 값으로 변환하는 시간-디지털 변환부; 그리고상기 디지털 값을 설정된 값과 비교하여 상기 출력 신호를 생성하는 비교부를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장치
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제12 항에 있어서,상기 비교부는 상기 디지털 값이 상기 설정된 값과 같은 경우 출력 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장치
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제12 항에 있어서,상기 시간-디지털 변환부는,상기 기준 신호의 상승 엣지와 상기 동작 제어신호의 상승 엣지의 위상차를 디지털 값으로 변환하여 출력하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장치
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기준 신호 및 엣지 버니어와 정수 지연 생성기의 동작 제어신호의 위상차를 디지털 값으로 변환하는 단계; 그리고상기 디지털 값을 설정된 값과 비교하여 출력 신호를 생성하는 단계를 포함하는 테스트 신호 생성방법
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제15 항에 있어서,상기 설정된 값을 조절하여 복수의 출력 신호를 생성하는 단계를 더 포함하는 테스트 신호 생성방법
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제16 항에 있어서,상기 복수의 출력 신호의 상승 엣지마다 토글링하여 테스트 신호를 생성하는 단계를 더 포함하는 테스트 신호 생성방법
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