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링 네트워크를 기반으로 한 메모리 BIST(Built-in Self Test)의 테스트 결과정보 전송방법에 있어서,제n(n≥2, n은 자연수) 테스트부로 토큰신호를 전송하는 단계;상기 토큰신호를 받은 상기 제n 테스트부가 상기 제n 테스트부의 고장진단정보를 포함하는 테스트 결과정보 패킷을 통합제어기로 전송하는 단계;상기 제n 테스트부의 상기 테스트 결과정보 패킷이 상기 통합제어기로 전송된 후, 상기 제n 테스트부가 제n-1 테스트부로 상기 토큰신호를 전송하는 단계; 및상기 제n 테스트부로부터 상기 토큰신호를 받은 상기 제n-1 테스트부가 상기 제n-1 테스트부의 고장진단정보를 포함하는 테스트 결과정보 패킷을 상기 통합제어기로 전송하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 결과정보 전송방법
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링 네트워크를 기반으로 한 메모리 BIST(Built-in Self Test)의 테스트 결과정보 전송방법에 있어서,제n(n≥2, n은 자연수) 테스트부로 토큰신호를 전송하는 단계;상기 토큰신호를 받은 상기 제n 테스트부가 테스트 결과정보 패킷을 통합제어기로 전송하는 단계;상기 제n 테스트부가 제n-1 테스트부로 상기 토큰신호를 전송하는 단계; 및상기 토큰신호를 받은 상기 제n-1 테스트부가 테스트 결과정보 패킷을 상기 통합제어기로 전송하는 단계를 포함하며,상기 테스트 결과정보 패킷의 헤더필드는 시작비트정보, 패킷코드정보, 테스트부의 고유번호정보 및 고장진단정보의 길이정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 결과정보 전송방법
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제 2 항에 있어서, 상기 패킷코드정보는, 단일 테스트부가 테스트를 종료하고, 고장이 없는 경우;단일 테스트부가 테스트를 종료하고, 고장이 있는 경우;고장진단정보를 담고 있는 패킷인 경우; 및전체 테스트부가 테스트를 종료한 경우;에 각각 다른 값을 가지는 것을 특징으로 하는 테스트 결과정보 전송방법
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링 네트워크를 기반으로 한 메모리 BIST(Built-in Self Test)의 테스트 결과정보 전송방법에 있어서,제n(n≥2, n은 자연수) 테스트부로 토큰신호를 전송하는 단계;상기 토큰신호를 받은 상기 제n 테스트부가 테스트 결과정보 패킷을 통합제어기로 전송하는 단계;상기 제n 테스트부가 제n-1 테스트부로 상기 토큰신호를 전송하는 단계; 및상기 토큰신호를 받은 상기 제n-1 테스트부가 테스트 결과정보 패킷을 상기 통합제어기로 전송하는 단계를 포함하며,상기 테스트 결과정보 패킷의 고장진단정보 필드는 고장주소정보, 고장셀정보 및 고장 발견시의 테스트 패턴 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 결과정보 전송방법
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링 네트워크를 기반으로 한 메모리 BIST(Built-in Self Test)의 반도체 메모리 장치 테스트 방법에 있어서,테스트부가 메모리에 테스트 패턴을 입력하고 상기 메모리의 출력을 상기 테스트 패턴과 비교하여 테스트 결과정보를 생성하는 테스트 단계;상기 테스트 결과정보로부터 테스트 결과정보 패킷을 생성하는 단계;상기 테스트부로 토큰신호를 전송하는 단계;상기 토큰신호를 입력받은 상기 테스트부가 상기 테스트 결과정보 패킷을 통합제어기로 전송하는 단계; 및상기 테스트부의 상기 테스트 결과정보 패킷이 상기 통합제어기로 전송된 후, 상기 테스트부가 상기 토큰신호를 다음 테스트부로 전송하는 단계를 포함하는 반도체 메모리 장치 테스트 방법
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제 5 항에 있어서, 상기 테스트 단계는 복수의 테스트부가 고장유무판별 테스트, 고장진단 테스트 또는 고장유무판별 및 고장진단 테스트를 모두 수행하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치 테스트 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 고장유무판별 및 고장진단 테스트는 n(n≥2, n은 자연수)개의 테스트부 중에서, k(0≤k≤n, k는 정수) 개의 테스트부는 고장유무판별 테스트를 수행하고, n-k개의 테스트부는 고장진단 테스트를 수행하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치 테스트 방법
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메모리에 테스트 패턴을 입력하고 상기 메모리의 출력을 비교하여 테스트 결과정보를 생성하는 테스트 단계;테스트 결과정보 패킷을 생성하는 단계;테스트부로 토큰신호를 전송하는 단계;상기 토큰신호를 입력받은 상기 테스트부가 상기 테스트 결과정보 패킷을 통합제어기로 전송하는 단계; 및상기 테스트부가 상기 토큰신호를 다음 테스트부로 전송하는 단계를 포함하며,상기 테스트부가 고장유무판별 테스트로 동작하고, 상기 고장유무판별 테스트 종료 이전에 상기 토큰신호를 전송받는 경우, 상기 테스트 결과정보 패킷을 전송함이 없이 다른 테스트부로 상기 토큰신호를 전송하며,상기 테스트부가 고장진단 테스트로 동작하고, 상기 고장진단 테스트 종료 이전에 상기 토큰신호를 전송받는 경우, 생성된 상기 테스트 결과정보 패킷을 전송하고, 상기 다른 테스트부로 상기 토큰신호를 전송하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치 테스트 방법
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토큰신호의 순환을 제어하고 테스트 종료 시점을 판단하는 통합제어기;대응하는 메모리에 테스트 패턴을 입력하고 상기 메모리의 출력을 비교하여 테스트 결과정보 패킷을 생성하는 복수의 테스트부;상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 링 네트워크 형태로 연결하는 토큰신호연결선; 및상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 상기 링 네트워크 형태로 연결하는 데이터신호연결선을 구비하고,상기 복수의 테스트부 중에서 상기 토큰신호를 입력받은 테스트부가 소정의 클럭 동안 상기 통합제어기로 상기 테스트 결과정보 패킷을 전송하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 테스트 장치
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토큰신호의 순환을 제어하고 테스트 종료 시점을 판단하는 통합제어기;대응하는 메모리에 테스트 패턴을 입력하고 상기 메모리의 출력을 비교하여 테스트 결과정보 패킷을 생성하는 복수의 테스트부;상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 링 네트워크 형태로 연결하는 토큰신호연결선; 및상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 상기 링 네트워크 형태로 연결하는 데이터신호연결선을 구비하고,상기 복수의 테스트부는 상기 토큰신호를 입력받아 상기 통합제어기로 상기 테스트 결과정보 패킷을 전송하며,상기 통합제어기는,전체 테스트 종료 정보 패킷을 생성하는 패킷생성기;테스트부로부터 전송되는 패킷의 비트열 정보를 분석하는 데이터 분석기;상기 토큰신호의 순환을 제어하는 제어기; 및테스트를 수행할 테스트부의 개수 정보를 저장하는 테스트 개수 버퍼를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 테스트 장치
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제 10 항에 있어서, 상기 통합제어기는토큰 신호를 동기화하는 클럭신호 입력단자;상기 통합제어기의 리셋 상태를 제어하는 리셋신호 입력단자;테스트부의 동작 설정정보 전송을 위한 데이터신호 입력단자;테스트부로부터 전송된 테스트 결과정보 패킷을 외부테스트장비로 전송하기 위한 데이터신호 출력단자;상기 통합제어기의 내부 제어기 동작을 설정하는 제어신호 입력단자; 및상기 외부테스트장비로 전송하는 패킷의 시작, 종료 타이밍을 설정하는 제어신호 출력단자;를 통해 상기 외부테스트장비와 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 테스트 장치
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토큰신호의 순환을 제어하고 테스트 종료 시점을 판단하는 통합제어기;대응하는 메모리에 테스트 패턴을 입력하고 상기 메모리의 출력을 비교하여 테스트 결과정보 패킷을 생성하는 복수의 테스트부;상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 링 네트워크 형태로 연결하는 토큰신호연결선; 및상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 상기 링 네트워크 형태로 연결하는 데이터신호연결선을 구비하고,상기 복수의 테스트부는 상기 토큰신호를 입력받아 상기 통합제어기로 상기 테스트 결과정보 패킷을 전송하며,상기 복수의 테스트부 각각은토큰 신호의 순환을 제어하는 제어기;상기 테스트 결과정보 패킷을 생성하는 패킷생성기;테스트부가 고장진단 테스트를 수행하여 생성된 테스트 결과정보를 저장하는 고장진단정보 저장 버퍼; 및상기 메모리에 상기 테스트 패턴을 인가하고 상기 메모리의 출력값을 비교하는 메모리 테스트 패턴 생성기 및 메모리 출력 비교기를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 테스트 장치
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제 12 항에 있어서, 상기 복수의 테스트부 각각은토큰 신호를 동기화하는 클럭신호 입력단자;상기 복수의 테스트부의 리셋 상태를 제어하는 리셋신호 입력단자; 및상기 복수의 테스트부의 내부 제어기 동작을 설정하는 제어신호 입력단자;을 통해 외부테스트장비로 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 테스트 장치
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토큰신호의 순환을 제어하고 테스트 종료 시점을 판단하는 통합제어기;대응하는 메모리에 테스트 패턴을 입력하고 상기 메모리의 출력을 비교하여 테스트 결과정보 패킷을 생성하는 복수의 테스트부;상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 링 네트워크 형태로 연결하는 토큰신호연결선; 및상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 상기 링 네트워크 형태로 연결하는 데이터신호연결선을 구비하고,상기 복수의 테스트부는 상기 토큰신호를 입력받아 상기 통합제어기로 상기 테스트 결과정보 패킷을 전송하며,상기 데이터신호연결선은,상기 복수의 테스트부의 테스트 명령 설정시에는 상기 복수의 테스트부 각각의 테스트 동작모드 및 테스트 패턴 설정 정보를 전송하며, 테스트 시에는 상기 복수의 테스트부의 상기 테스트 결과정보 패킷을 전송하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 테스트 장치
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토큰신호의 순환을 제어하고 테스트 종료 시점을 판단하는 통합제어기;대응하는 메모리에 테스트 패턴을 입력하고 상기 메모리의 출력을 비교하여 테스트 결과정보 패킷을 생성하는 복수의 테스트부;상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 링 네트워크 형태로 연결하는 토큰신호연결선; 및상기 복수의 테스트부와 상기 통합제어기를 상기 링 네트워크 형태로 연결하는 데이터신호연결선을 구비하고,상기 복수의 테스트부는 상기 토큰신호를 입력받아 상기 통합제어기로 상기 테스트 결과정보 패킷을 전송하며,상기 복수의 테스트부는 고장유무판별 테스트, 고장진단 테스트 또는 고장유무판별 및 고장진단 테스트를 모두 수행하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 테스트 장치
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