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디지털―아날로그 변환기 테스트 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015126114
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 n비트 디지털-아날로그 변환기 테스트장치에 있어서,(k≥1, 정수)개의 저항으로 이루어진 저항루프, 상기 저항루프에 연결되어 기준전압과 입력신호를 비교하는 비교기, 디지털 신호로 변환하는 디코더를 포함하고 상기 저항루프는 저항들 중 서로 다른 저항값을 갖는 저항을 포함한다. 본 발명에 의해서 아날로그-디지털 변환기의 하드웨어 오버헤드가 감소하게 된다.
Int. CL H03M 1/00 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01)
CPC G01R 31/3181(2013.01) G01R 31/3181(2013.01) G01R 31/3181(2013.01) G01R 31/3181(2013.01) G01R 31/3181(2013.01)
출원번호/일자 1020100136846 (2010.12.28)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0074873 (2012.07.06) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.28)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울특별시 종로구
2 장재원 대한민국 서울특별시 마포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2010-0868211-89
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.10.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.11.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0091823-96
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.11.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0689699-16
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2012-0051297-23
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2012-0148764-96
8 보정요구서
Request for Amendment
2012.02.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0020899-76
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.03.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0241452-61
10 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-0241451-15
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-0241450-70
12 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0488224-85
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.09.21 무효 (Invalidation) 1-1-2012-0769629-84
14 [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Extension of Legal Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)
2012.09.21 무효 (Invalidation) 7-1-2012-0044418-93
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.09.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0769628-38
16 보정요구서
Request for Amendment
2012.10.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0124433-20
17 무효처분통지서
Notice for Disposition of Invalidation
2012.11.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0138303-76
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
n비트 디지털-아날로그 변환기 테스트장치에 있어서,(k≥1, 정수)개의 저항으로 이루어진 저항루프;및상기 저항루프에 연결되어 저항 사이 노드에서의 기준전압과 입력신호를 비교하는 비교기;디지털 신호로 변환하는 디코더를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환기 테스트 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 저항루프는 저항들 중 서로 다른 저항값을 갖는 저항을 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환기 테스트 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 비교기는 (k≥1, 정수)개인 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환기 테스트 장치
4 4
n비트 디지털-아날로그 변환기 테스트 방법에 있어서,(k≥1, 정수)개의 저항으로 이루어진 저항루프에 아날로그 신호를 입력하는 단계;상기 아날로그 신호에 의한 기준전압과 입력신호를 비교기 통해 비교하는 단계;및디코더가 상기 입력신호를 디지털 신호로 변환하는 단계를 포함하는 디지털-아날로그 변환기 테스트 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 아날로그 신호를 입력하는 단계 이전에 저항루프를 결정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환기 테스트 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 저항루프를 결정하는 단계는 n비트 디지털-아날로그 변환기를 테스트 하기 위한 (k≥1, 정수)개의 저항을 갖는 저항루프에서 제1저항, 제2저항, 제3저항, ‥ 제저항 각각을 시작점으로 하여 기준전압을 산출하는 단계와 기준전압이 산출되는 회수를 카운트하여 이를 P라하고 P값의 최소값이 최대가 되는 저항루프를 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환기 테스트 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 P값의 최소값이 최대가 되는 값이 동일한 저항루프가 다수가 존재하는 경우 각 기준전압의 P값의 합이 큰 저항 루프를 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환기 테스트 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 기준전압과 입력신호를 비교기 통해 비교하는 단계는 상기 기준전압이 산출되는 회수 P값의 최소값이 최대가 될 때까지 시작점을 달리하여 상기 기준전압과 입력신호를 비교기를 통해 비교하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털-아날로그 변환기 테스트 방법
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